ICS 31. 080. 1 L 40 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T 4937.1—2006/IEC 60749-1:2002 部分代替GB/T4937—1995 半导体器件机械和气候试验方法第1部分：总则 Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods- Part 1 :General (IEC 60749-1:2002,IDT) 2006-08-23发布 2007-02-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会

GB-T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分总则

文档预览

中文文档 8 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 309 收藏 3.0分

赞助1.5元下载(无需注册)

温馨提示：本文档共8页，可预览 3 页，如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档

GB-T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分总则第 1 页

GB-T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分总则第 2 页

GB-T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分总则第 3 页

下载文档到电脑，方便使用

赞助1.5元下载

本文档由人生无常于 2024-06-30 17:42:48上传分享

下载原文档(3.5 MB)

友情链接

GB-T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分 总则

GB-T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分总则