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(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123282 215.1 (22)申请日 2021.12.24 (73)专利权人 安徽长飞先进半导体有限公司 地址 241000 安徽省芜湖市高新 技术产业 开发区服 务外包园3号楼180 3 (72)发明人 刘敏 赵海明 仇成功 左万胜 胡新星 唐建平 王丽多 袁松 钮应喜 (74)专利代理 机构 芜湖安汇知识产权代理有限 公司 34107 专利代理师 朱圣荣 (51)Int.Cl. G01D 21/02(2006.01) (54)实用新型名称 一种用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置 (57)摘要 本实用新型揭示了一种用 于薄膜应力和翘 曲测试的测试装置, 装置为环形的支架, 所述支 架内侧设向内延伸的支撑位, 所述支撑位设有至 少三个, 所述支撑位用于支撑待测试的片子, 所 述支架上设有滑槽, 所述滑槽内设有导轨, 所述 导轨上设有刻度, 所述滑槽放置有沿着导轨向支 架内滑动的指示块, 所述指示块下表 面设有与导 轨配合的滑 块。 本实用新型测试装置的指示块滑 至在水平的同一刻线进行测试, 确保了应力测试 在相同条件 下进行, 提高了应力测试结果的重复 性, 减少人为因素导致的片子滑落, 造成碎片, 提 高利润。 权利要求书1页 说明书2页 附图1页 CN 217331223 U 2022.08.30 CN 217331223 U 1.一种用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置, 其特征在于: 装置为环形的支架, 所述支 架内侧设向内延伸的支撑位, 所述支撑位设有至少三个, 所述支撑位用于支撑待测试 的片 子, 所述支架上设有滑槽, 所述滑槽内设有导轨, 所述导轨上设有刻度, 所述滑槽放置有沿 着导轨向支 架内滑动的指示 块, 所述指示 块下表面设有与导轨配合的滑块。 2.根据权利要求1所述的用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置, 其特征在于: 所述指示 块为长方形结构, 向支 架内侧凸出有凸块, 所述滑块 为向上逐渐变粗的倒梯形 结构。 3.根据权利要求2所述的用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置, 其特征在于: 所述滑槽 内的导轨设有两个, 所述指示 块的下表面设有两个与导轨配合的滑块。 4.根据权利要求1、 2或3所述的用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置, 其特征在于: 所 述支撑位设有三个, 相邻夹角为120度。 5.根据权利要求4所述的用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置, 其特征在于: 所述支撑 位包括固定块、 连杆和托架, 所述支架内侧设有用于嵌入固定块的嵌入槽, 所述连杆连接固 定块和托架, 所述 托架为位于支架内的弧形 结构。 6.根据权利要求1或5所述的用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置, 其特征在于: 所述 支架内侧设有至少一个向内凹陷的凹槽 。 7.根据权利要求6所述的用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置, 其特征在于: 所述支 架、 支撑位和滑块均为铝合金 材质。权 利 要 求 书 1/1 页 2 CN 217331223 U 2一种用于薄膜应力和翘曲测试的测试装 置 技术领域 [0001]本实用新型 涉应力测试技 术领域。 背景技术 [0002]薄膜沉积在基体以后, 薄膜处于应变状态, 若以薄膜应力造成基体弯曲形变 的方 向来区分, 可将应力分为拉/张应力(tensile stress)和压应力 (compressive stress), 拉应力是当膜受力向外伸张, 基板 向内压缩、 膜表面下凹, 薄膜因为有拉应力的作用, 薄膜 本身产生收缩的趋势, 如果膜层的拉应力超过薄膜的弹性限度, 则 薄膜就会破裂甚至剥离 基体而翘起。 [0003]压应力则呈相反的状况, 膜表面产生外凸的现象, 在压应力的作用下, 薄膜有向表 面扩张的趋势。 如果压应力到极限时, 则会使薄膜向基板内侧卷曲, 导致膜层起泡。 对于薄 膜应力的测试方法具有多样性, 我们常用曲率半径法, 通过测试衬底和薄膜衬底的曲率半 径, 可得到曲率半径倒数的差值, 通过公 式可得到的应力的结果。 在 对薄膜的应力进 行测试 时, 由于每次测试过程中, 无法确保夹具与外延片之间的间距, 使得应力测试结果的重复性 低。 此外, 支撑点与外延片具有较小的接触面积, 使得外延片容易滑落, 导致碎片, 提高成 本。 发明内容 [0004]本实用新型所要解决的技术问题是实现一种能够更加准确、 高效测试薄膜应力的 装置。 [0005]为了实现上述目的, 本实用新型采用的技术方案为: 一种用于薄膜应力和翘曲测 试的测试装置, 装置为环形的支架, 所述支架内侧设向内延伸的支撑位, 所述支撑位设有至 少三个, 所述支撑位用于支撑待测试 的片子, 所述支架上设有滑槽, 所述滑槽内设有导轨, 所述导轨上设有刻度, 所述滑槽放置有沿着导轨 向支架内滑动的指示块, 所述指示块下表 面设有与导轨配合的滑块。 [0006]所述指示块为长方形结构, 向支架内侧凸出有凸块, 所述滑块为向上逐渐变粗的 倒梯形结构。 [0007]所述滑槽内的导轨设有两个, 所述指示 块的下表面设有两个与导轨配合的滑块。 [0008]所述支撑位设有三个, 相邻夹角为120度。 [0009]所述支撑位包括固定块、 连杆和托架, 所述支架内侧 设有用于嵌入固定块的嵌入 槽, 所述连 杆连接固定块和托架, 所述 托架为位于支架内的弧形 结构。 [0010]所述支架内侧设有至少一个向内凹陷的凹槽 。 [0011]所述支架、 支撑位和滑块均为铝合金 材质。 [0012]本实用新型测试装置的指示块滑至在水平的同一刻线进行测试, 确保了应力测试 在相同条件下进行, 提高了应力测试结果的重复性, 减少人为因素导致的片 子滑落, 造成碎 片, 提高利 润。说 明 书 1/2 页 3 CN 217331223 U 3
专利 一种用于薄膜应力和翘曲测试的测试装置
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