(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111619022.2 (22)申请日 2021.12.27 (71)申请人 影石创新科技股份有限公司 地址 518000 广东省深圳市宝安区新 安街 道海旺社区兴业路1100号金利通金融 中心大厦2栋1 101， 1102， 1103 (72)发明人 李海勇　郭奕滨　 (74)专利代理 机构 深圳青年人专利商标代理有 限公司 4 4350 专利代理师 宋琳琳 (51)Int.Cl. G06K 9/62(2022.01) G06N 3/04(2006.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 7/33(2017.01)G06V 10/74(2022.01) G06V 10/82(2022.01) (54)发明名称 基于特征匹配的相位差检测方法、 装置、 设 备及介质 (57)摘要 本发明适用于图像处理技术领域， 提供了一 种基于特征匹配的相位差检测方法、 装置、 电子 设备及存储介质， 该方法包括： 从图像传感器中 获取每个PD像素行的原始PD数据对， 对每组原始 PD数据对中的左PD数据和右PD数据分别进行分 块处理， 得到多组第一PD数据块对， 使用预设的 差分算子对每组第一PD数据块对进行卷积运算， 得到多组第二PD数据块对， 对每组第二PD数据块 对进行特征匹配， 得到每组第二PD数据块对的相 位差， 基于每组第二PD数据块对的相位差生成相 位差检测结果， 从而基于特征匹配实现了相位差 的检测。 权利要求书2页 说明书9页 附图6页 CN 114444574 A 2022.05.06 CN 114444574 A 1.一种基于特 征匹配的相位差检测方法， 其特 征在于， 所述方法包括下述 步骤： 从图像传感器中获取每 个PD像素行的原始PD数据对； 对每组所述原始PD数据对中的左PD数据和右PD数据分别 进行分块处理， 得到多组第一 PD数据块对； 使用预设的差分算子对每组所述第一PD数据块对进行卷积运算， 得到多组第二PD数据 块对； 对每组所述第二P D数据块对进行 特征匹配， 得到每组所述第二P D数据块对的相位差； 基于每组所述第二P D数据块对的相位差生成相位差检测结果。 2.如权利要求1所述的方法， 其特征在于， 使用预设的差分算子对每组所述第 一PD数据 块对进行 卷积运算的步骤之前， 还 包括： 采用预设的滤波器对每组所述第一PD数据块对进行去噪处理， 得到多组第三PD数据块 对， 所述滤波器为高斯滤波器； 使用预设的差分算子对每组所述第一P D数据块对进行 卷积运算的步骤， 包括； 使用所述差分算子对每组所述第三PD数据块对进行卷积运算， 以得到多组所述第二PD 数据块对。 3.如权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述差分算子的半径根据所述图像传感器的 尺寸以及所述图像传感器中P D像素的分布确定 。 4.如权利要求1所述的方法， 其特征在于， 对每组所述第二PD数据块对进行特征匹配， 得到每组所述第二P D数据块对的相位差的步骤， 包括： 获取所述第二P D数据块对的特 征点集对； 基于所述特征点集对中每个特征点的坐标进行特征点匹配， 基于匹配特征点对的坐标 差获取所述第二P D数据块对的相位差 。 5.如权利要求4所述的方法， 其特征在于， 所述特征点集对包括所述第 二PD数据块对中 左PD数据块的第一特征点集， 以及所述第二PD数据块对中右PD数据块的第二特征点集， 获 取所述第二P D数据块对的特 征点集对的步骤， 包括： 获取所述第二PD数据块对中左PD数据块的所有第一极值点， 以及所述第二PD数据块对 中右PD数据块的所有第二极值 点； 基于所有所述第 一极值点得到所述第 一特征点集， 基于所有所述第 二极值点得到所述 第二特征点集。 6.如权利要求5所述的方法， 其特征在于， 基于所有所述第 一极值点得到所述第 一特征 点集， 基于所有所述第二极值 点得到所述第二特 征点集的步骤， 包括： 从所有所述第 一极值点中筛选绝对像素值大于第 一极值点阈值的第 一有效极值点， 从 所有所述第二极值 点中筛选绝对像素值大于第二极值 点阈值的第二有效极值 点； 将所有所述第一有效极值点组合， 得到所述第一特征点集， 将所有所述第二有效极值 点组合， 得到所述第二特 征点集。 7.如权利要求6所述的方法， 其特征在于， 所述第 一极值点阈值为所有所述第 一极值点 的最大绝对像素值与预设倍数之积， 所述第二极值点阈值为所有 所述第二极值点的最大绝 对像素值与所述预设倍数之积。 8.如权利要求4所述的方法， 其特征在于， 基于所述特征点集对中每个特征点的坐标进权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114444574 A 2行特征点匹配的步骤之前， 包括： 拟合所述特 征点集对中每 个特征点的坐标， 得到特 征点坐标集对； 基于所述特 征点集对中每 个特征点的坐标进行 特征点匹配的步骤， 包括： 根据所述特 征点坐标集对中每 个特征点的拟合 坐标进行 特征点匹配。 9.如权利要求8所述的方法， 其特征在于， 拟合所述特征点集对中每个特征点的坐标的 步骤， 包括： 在所述特征点的左右邻域内查找与所述特征点的像素值的差值的绝对值最小的第一 PD像素点； 以所述特征点为中心， 在所述第一PD像素点的对称邻域内查找第二PD像素点， 其中， 所 述第一PD像素点的绝对像素值处于所述第二PD 像素点的左、 右邻接PD像素点的绝对像素值 之间； 对所述第二PD像素点和第三PD像素点进行线性拟合， 得到拟合线段， 其中， 所述第三PD 像素点为所述第二PD像素点的左、 右邻接PD像素点中， 与所述第一PD像素点的像素值的差 值的绝对值 最小的PD像素点； 在所述拟合线段 上查找与所述第一P D像素点的像素值相等的目标点； 获取所述第 一PD像素点和所述目标点的对称点， 将所述对称点的坐标作为所述特征点 的拟合坐标。 10.一种基于特 征匹配的相位差检测装置， 其特 征在于， 所述装置包括： 原始数据获取 单元， 用于从图像传感器中获取每 个PD像素行的原始PD数据对； 分块处理单元， 用于对每组所述原始PD数据对中的左PD数据和右PD数据分别进行分块 处理， 得到多组第一P D数据块对； 差分运算单元， 用于使用预设的差分算子对每组所述第一PD数据块对进行卷积运算， 得到多组第二P D数据块对； 特征匹配单元， 用于对每组所述第二PD数据块对进行特征匹配， 得到每组所述第二PD 数据块对的相位差； 以及 检测结果生成单元， 用于基于每组所述第二PD数据块对的相位差生成相位差检测结 果。 11.一种电子设备， 包括存储器、 处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上 运行的计算机程序， 其特征在于， 所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至9 任一项所述方法的步骤。 12.一种计算机可读存储介质， 所述计算机可读存储介质存储有计算机程序， 其特征在 于， 所述计算机程序被处 理器执行时实现如权利要求1至9任一项所述方法的步骤。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114444574 A 3