(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111599624.6 (22)申请日 2021.12.24 (71)申请人 中煤科工清洁能源股份有限公司 地址 100013 北京市朝阳区和平里十三区 煤炭大厦1 106 (72)发明人 王晓妹　王勇　王占朝　苏鹏　 洪庆　陈泓宇　 (74)专利代理 机构 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人 郭德霞 (51)Int.Cl. G01N 15/02(2006.01) G06T 5/00(2006.01) G06T 7/11(2017.01) G06T 7/13(2017.01)G06T 7/136(2017.01) G06T 7/60(2017.01) (54)发明名称 一种颗粒 粒径识别方法、 装置、 设备和介质 (57)摘要 本发明实施例公开了一种颗粒粒径识别方 法、 装置、 设备和介质。 该方法包括： 获取颗粒的 采集图像， 并进行颗粒识别， 得到颗粒区域； 根据 所述颗粒区域， 确定对应的颗粒的像素尺寸； 获 取所述颗 粒区域与图像采集位置的距离， 并根据 在所述距离下的像素尺寸和实际尺寸之间的对 应关系， 确定所述颗粒区域对应的颗粒的实际尺 寸。 本发明实施例提高了颗粒区域对应的颗粒的 实际尺寸的检测准确度。 权利要求书2页 说明书15页 附图4页 CN 114324078 A 2022.04.12 CN 114324078 A 1.一种颗粒 粒径识别方法， 其特 征在于， 包括： 获取颗粒的采集图像， 并进行颗粒识别， 得到 颗粒区域； 根据所述颗粒区域， 确定对应的颗粒的像素尺寸； 获取所述颗粒区域与图像采集位置的距离， 并根据在所述距离下的像素尺寸和实际尺 寸之间的对应关系， 确定所述颗粒区域对应的颗粒的实际尺寸。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特 征在于， 还 包括： 根据所述距离和图像采集设备的参数， 确定所述距离下的像素尺寸和实际尺寸之间的 对应关系， 所述距离包括竖直高度。 3.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述颗粒区域， 确定对应的颗粒 的像素尺寸， 包括： 根据所述颗粒区域包括像素的数量和像素的位置， 确定至少一个尺寸类型对应的像素 统计数据； 所述根据在所述距离下的像素尺寸和实际尺寸之间的对应关系， 确定所述颗粒区域对 应的颗粒的实际尺寸， 包括： 根据在所述距离下的像素尺寸和实际尺寸之间的对应关系， 以及各所述尺寸类型对应 的像素统计数据， 确定各所述尺寸类型对应的属 性值， 并作为所述颗粒区域对应的颗粒 的 实际尺寸。 4.根据权利要求1所述的方法， 其特 征在于， 还 包括： 根据各所述颗粒区域的实际尺寸包括的至少一个尺寸类型对应的属性值， 对各所述颗 粒区域进行统计， 得到 至少一个目标分布组和对应的分布类型； 统计各所述目标分布组包括的颗粒 数量； 根据预设的分布类型和颗粒平均质量之间对应关系， 确定各所述目标分布组 的表面质 量分布数据。 5.根据权利要求4所述的方法， 其特征在于， 所述根据各所述颗粒区域的实际尺寸包括 的至少一个尺寸类型对应的属 性值， 对各所述颗粒区域进行统计， 得到至少一个目标分布 组和对应的分布类型， 包括： 根据各所述颗粒区域的第一尺寸类型对应的属性值， 对各所述颗粒区域进行统计， 得 到至少一个备选分布组； 根据所述备选分布组包括的各所述颗粒区域的第 二尺寸类型对应的属性值， 对所述备 选分布组包括的各 所述颗粒区域进行统计， 并更新备选分布组； 根据所述备选分布组包括的各所述颗粒区域的第 三尺寸类型对应的属性值， 对所述备 选分布组包括的各 所述颗粒区域进行统计， 并更新备选分布组， 确定目标分布组； 将所述目标分布组的所述第 一尺寸类型对应的属性值、 所述第 二尺寸类型对应的属性 值和所述第三尺寸类型对应的属性 值， 确定为所述目标分布组的分布类型； 其中， 所述尺寸类型包括长度、 宽度和厚度。 6.根据权利要求 4所述的方法， 其特 征在于， 还 包括： 根据表面颗粒分布参数与整体颗粒分布参数之间的对应关系， 和各所述目标分布组 的 表面质量分布数据， 确定整体质量分布数据。 7.根据权利要求6所述的方法， 其特征在于， 所述根据表面颗粒分布参数与整体颗粒分权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114324078 A 2布参数之间的对应关系， 和各所述 目标分布组的表面质量分布数据， 确定整体质量分布数 据， 包括： 根据各所述目标分布 组的表面质量分布数据， 确定至少一个筛孔尺寸对应的整体质量 分布数据； 根据所述筛孔尺寸和对应的整体质量分布数据， 确定所述筛孔尺寸的颗粒分布参数； 根据预设的表面颗粒分布参数与整体颗粒分布参数之间的对应关系， 对所述筛孔尺寸 的颗粒分布参数进行修 正； 根据修正后的颗粒分布参数和对应的筛孔尺寸， 对所述对应的筛孔尺寸对应的整体质 量分布数据进行修 正。 8.一种颗粒 粒径识别装置， 其特 征在于， 包括： 颗粒区域识别模块， 用于获取颗粒的采集图像， 并进行颗粒识别， 得到 颗粒区域； 像素尺寸确定模块， 用于根据所述颗粒区域， 确定对应的颗粒的像素尺寸； 实际尺寸确定模块， 用于获取所述颗粒区域与图像采集位置的距离， 并根据在所述距 离下的像素尺寸和实际尺寸之间的对应关系， 确定所述颗粒区域对应的颗粒的实际尺寸。 9.一种计算机设备， 包括存储器、 处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计 算机程序， 其特征在于， 所述处理器执行所述程序时实现如权利要求 1‑7中任一所述的颗粒 粒径识别方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 该程序被处理器 执行时实现如权利要求1 ‑7中任一所述的颗粒 粒径识别方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114324078 A 3