(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111650224.3 (22)申请日 2021.12.3 0 (71)申请人 苏州凌云视界智能设备有限责任公 司 地址 215123 江苏省苏州市工业园区长阳 街259号钟园工业坊A1-1F,A 0-1F东侧 一半 申请人 凌云光技术股份有限公司 (72)发明人 邢志伟　时广军　周钟海　姚毅　 杨艺　 (74)专利代理 机构 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人 王瑞云 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01)G06T 3/40(2006.01) G06T 7/00(2017.01) G06T 7/73(2017.01) (54)发明名称 显示屏的缺陷检测方法、 装置、 设备和介质 (57)摘要 本发明公开了一种显示屏的缺陷检测方法、 装置、 设备和介质。 采集显示屏的显示屏图像， 并 提取所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信 息； 根据所述显示颗粒的实际位置信息， 确定显 示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值， 作为显示颗 粒的灰度值； 根据所述显示颗粒的灰度值和所述 显示颗粒的实际位置信息， 将所述显示颗粒拼接 成灰度拼接图像； 根据所述灰度拼接图像判断所 述显示屏是否存在缺陷。 根据显示屏图像上的显 示颗粒信息， 检测显示屏是否存在缺陷， 避免了 人工检测显示屏缺陷导致的检测误差， 提高了检 测效率和检测精度。 权利要求书2页 说明书11页 附图7页 CN 114354622 A 2022.04.15 CN 114354622 A 1.一种显示屏的缺陷检测方法， 其特 征在于， 包括： 采集显示屏的显示屏图像， 并提取 所述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息； 根据所述显示颗粒的实 际位置信息， 确定显示颗粒所属显示颗粒区域的灰度值， 作为 显示颗粒的灰度值； 根据所述显示颗粒的灰度值和所述显示颗粒的实际位置信 息， 将所述显示颗粒拼接成 灰度拼接图像； 根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述采集显示屏的显示屏图像， 并提取所 述显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息， 包括： 采集带有靶标的图像， 根据靶标的位置计算所述显示屏图像的偏移角度； 根据所述偏移角度对所述显示屏图像进行反向旋转， 得到校正后的显示屏图像； 提取所述校正后的显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息 。 3.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述灰度拼接图像判断所述显示 屏是否存在缺陷， 包括： 根据所述显示颗粒的位置信息， 确定所述显示颗粒的数量； 确定所述灰度拼接图像的长度和宽度； 根据所述显示颗粒的数量， 以及所述灰度拼接图像的长度和宽度确定所述显示颗粒的 坐标点， 并生成坐标点图； 根据所述 坐标点图判断所述显示屏是否存在缺陷。 4.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述显示颗粒区域的灰度值和所 述显示颗粒的实际位置信息， 将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像， 包括： 根据所述显示颗粒的实际位置信息对显示颗粒进行拼接， 得到 颗粒拼接图像； 根据显示颗粒区域的灰度值， 对颗粒拼接 图像中显示颗粒进行灰度赋值， 得到灰度拼 接图像。 5.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述显示颗粒的实 际位置信息， 确定显示颗粒 所属显示颗粒区域的灰度值， 作为显示颗粒的灰度值， 包括： 根据所述显示颗粒的位置信息， 设置包围所述显示颗粒的圆形区域， 作为显示颗粒区 域； 确定所述显示颗粒区域的灰度值。 6.根据权利要求1所述的方法， 所述根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在 缺陷， 包括： 确定所述灰度拼接图像中显示颗粒的灰度值； 根据所述显示颗粒的灰度值判断所述显示屏是否存在缺陷。 7.一种显示屏的缺陷检测装置， 其特 征在于， 包括： 实际位置信息提取模块， 用于采集显示屏的显示屏图像， 并提取所述显示屏图像中显 示颗粒的实际位置信息； 显示颗粒灰度值确定模块， 用于根据所述显示颗粒的实 际位置信息， 确定显示颗粒所 属显示颗粒区域的灰度值， 作为显示颗粒的灰度值； 灰度拼接图像获取模块， 用于根据 所述显示颗粒的灰度值和所述显示颗粒的实际位置权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114354622 A 2信息， 将所述显示颗粒拼接成灰度拼接图像； 显示屏缺陷检测模块， 用于根据所述灰度拼接图像判断所述显示屏是否存在缺陷。 8.根据权利要求7 所述的装置， 其特 征在于， 所述实际位置信息提取模块， 包括： 偏移角度计算单元， 用于采集带有靶标的图像， 根据靶标的位置计算所述显示屏图像 的偏移角度； 显示屏图像校正单元， 用于根据所述偏移角度对所述显示屏图像进行反向旋转， 得到 校正后的显示屏图像； 位置信息提取 单元， 用于提取 所述校正后的显示屏图像中显示颗粒的实际位置信息 。 9.一种显示屏的缺陷检测设备， 其特 征在于， 所述设备包括： 一个或多个处 理器； 存储装置， 用于存 储一个或多个程序； 当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行， 使得所述一个或多个处理器实 现如权利要求1 ‑6中任一所述的显示屏的缺陷检测方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 该程序被处理器 执行时实现如权利要求1 ‑6中任一所述的显示屏的缺陷检测方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114354622 A 3