(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123358623.0 (22)申请日 2021.12.2 9 (73)专利权人 深圳中科飞测科技股份有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙华区大浪街 道同胜社区上横朗第四工业区2号 101、 201、 3 01 (72)发明人 曾呈　方一　王赢　刘伟龙　陈鲁　 张嵩　 (74)专利代理 机构 深圳鼎合诚知识产权代理有 限公司 4 4281 专利代理师 彭家恩 (51)Int.Cl. G01N 21/47(2006.01) G01N 21/55(2014.01) G01N 21/01(2006.01)F16M 11/12(2006.01) (54)实用新型名称 测量平台与检测设备 (57)摘要 本申请公开了一种测量平台与检测设备， 测 量平台包括测量底座， 测量支架以及至少一个探 测装置， 测量支架与测量底座垂直设置， 测量平 台还包括第一支架， 第一支架具有通孔； 探测装 置包括镜头、 固定架以及探测器， 固定架的一端 与镜头连接， 另一端与探测器连接， 镜头贯穿第 一支架的通孔设置； 测量平台还包括组合位移 台， 组合位移台的一端与测量支架连接， 另 一端 与探测装置连接， 组合位移台用于调整探测器的 位置、 俯仰角度以及旋转角度的至少一项。 通过 组合位移台对探测装置的设置位置与设置角度 进行调整， 从而降低了对探测装置的调节难度， 提高对探测装置的调节精度， 提高了检测设备的 调节精度。 权利要求书1页 说明书6页 附图2页 CN 217404138 U 2022.09.09 CN 217404138 U 1.一种测量平台， 其特征在于， 所述测量平台包括测量底座， 测量支架以及至少一个探 测装置， 所述测量支架与所述测量底 座连接， 所述测量支架与所述测量底座垂 直设置； 所述 探测装置包括镜头、 固定架以及探测器， 所述固定架的一端与所述镜头连接， 另一端与所述 探测器连接， 所述探测器的探测方向指向待测件； 所述测量平台还包括组合位移台， 所述组合位移台的一端与所述测量支架连接， 另一 端与探测装置连接， 所述组合位移台用于调整所述探测器的位置、 俯仰角度以及旋转角度 的至少一项。 2.根据权利要求1所述的测量平台， 其特征在于， 所述测量平台还包括第一支架， 所述 第一支架具有通 孔， 所述镜 头贯穿所述第一支 架的所述 通孔设置。 3.根据权利要求1所述的测量平台， 其特征在于， 所述组合位移台包括第一位移台， 所 述第一位移台的一端与所述测量支架连接， 另一端与所述固定架连接， 所述第一位移台用 于调整所述探测装置沿第一方向的位置 。 4.根据权利要求3所述的测量平台， 其特征在于， 所述组合位移台还包括第二位移台， 所述第二位移台的一端与所述第一位移台连接， 另一端与所述探测装置连接， 所述第二位 移台用于控制所述固定架沿第二方向移动， 所述第二方向与所述第一方向垂直。 5.根据权利要求4所述的测量平台， 其特征在于， 所述组合位移台还包括第三位移台， 所述第三位移台的一端与所述第二位移台连接， 另一端与所述固定架连接， 所述第三位移 台用于调整所述探测装置的探测方向。 6.根据权利要求2所述的测量平台， 其特征在于， 所述第 一支架与所述测量底座固定连 接， 所述第一支架包括多个子支架， 每个所述子支架与所述探测装置一一对应， 多个所述子 支架沿所述探测装置的排布方向依次连接 。 7.根据权利要求6所述的测量平台， 其特 征在于， 多个所述子支 架组合成一体式结构。 8.根据权利要求1所述的测量平台， 其特征在于， 所述探测装置还包括转台， 所述转台 设于所述探测器与所述固定架之间， 并与所述探测器以及所述固定架连接， 所述转台用于 带动所述探测器沿所述探测器的探测方向转动。 9.根据权利要求1所述的测量平台， 其特征在于， 所述测量平台包括多个所述探测装 置， 多个所述探测装置的探测方向均指向待测件， 所述探测装置的倾 斜角度等间隔分布。 10.一种检测设备， 其特征在于， 所述检测设备包括如权利要求1 ‑9任一项所述的测量 平台。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217404138 U 2测量平台与检测设 备 技术领域 [0001]本申请涉及检测技 术领域， 尤其涉及一种测量平台与检测设备。 背景技术 [0002]在光学检测领域中， 通常是通过光源对待测件进行照射， 待测件反射或漫反射后 的光线进入探测器后， 由探测器根据采集到的检测图像对待测件进行检测， 在对待测件进 行检测前， 首先需要检测设备 的探测装置能够获得清晰的待测件的检测图像， 因此需要在 进行检测前调整探测装置的位置与探测角度。 [0003]现有技术中， 当检测设备有多个探测装置时， 由于探测装置的重量较重， 因此在对 探测装置进行调节时， 经常会出现调节误差较大 的问题， 从而导致检测设备 的检测结果误 差较大， 检测效率低的问题。 实用新型内容 [0004]本申请实施例提供一种测量平台与检测设备。 [0005]第一方面， 本申请实施例提供一种测量平台， 所述测量平台包括测量底座， 测量支 架以及至少一个探测装置， 所述测 量支架与所述测量底座连接， 所述测 量支架与所述测量 底座垂直设置； 所述探测装置包括镜头、 固定架以及探测器， 所述固定架的一端与所述镜头 连接， 另一端与所述探测器连接， 所述探测器的探测方向指向待测件； [0006]所述测量平台还包括组合位移台， 所述组合位移台的一端与所述测量支架连接， 另一端与探测装置连接， 所述组合位移台用于调整所述探测器的位置、 俯仰角度以及旋转 角度的至少一项。 [0007]可选的， 所述组合位移台包括第一位移台， 所述第一位移台的一端与所述测量支 架连接， 另一端与所述固定架连接， 所述第一位移台用于调整所述探测装置沿第一方向的 位置。 [0008]可选的， 所述组合位移台还包括第二位移台， 所述第二位移台的一端与所述第一 位移台连接， 另一端与所述探测装置连接， 所述第二位移台用于控制所述固定架沿第二方 向移动， 所述第二方向与所述第一方向垂直。 [0009]可选的， 所述组合位移台还包括第三位移台， 所述第三位移台的一端与所述第二 位移台连接， 另一端与所述固定架连接， 所述第三位移台用于调整所述探测装置的探测方 向。 [0010]可选的， 所述第一支架与所述测量底座固定连接， 所述第一支架包括多个子支架， 每个所述子支架与所述探测装置一一对应， 多个所述子支架沿所述探测装置的排布方向依 次连接。 [0011]可选的， 多个所述子支 架组合成一体式结构。 [0012]可选的， 所述探测装置还包括转台， 所述转台设于所述探测器与所述固定架之间， 并与所述探测器以及所述固定架连接， 所述转台用于带动所述探测器沿所述探测器的探测说　明　书 1/6 页 3 CN 217404138 U 3