(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123248452.6 (22)申请日 2021.12.2 2 (73)专利权人 东莞市沃德普自动化科技有限公 司 地址 523000 广东省东莞 市南城区新基路 的新基地科技创意园北区E栋第一层 101室 (72)发明人 邹波　陈宏燊　王寅赫　 (74)专利代理 机构 北京集佳知识产权代理有限 公司 11227 专利代理师 俱玉云 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种检测系统 (57)摘要 本实用新型公开了一种检测系统， 包括用于 放置待测工件的检测工位， 以及用于照射所述检 测工位的光源； 还包括： 校准机构， 包括校准元 件； 当所述校准机构置于检测工位时， 所述校准 元件在所述光源的照射下能够形成暗区； 其中， 所述暗区的所在位置用于确定所述光源照射方 向的偏转角， 基于所述偏转角能够使所述光源调 整至目标照射方向。 本实用新型能够快速地确定 光源的偏转角， 从而在光源的照射方向存在偏差 时能够快捷高效地将其调整至目标照射方向， 省 去了反复调试的过程， 有利于缩短检测时长以提 高检测效率。 此外， 通过设置校准机构， 能够降低 对于光源产品组装精度的要求， 因此能够降低光 源成本， 有利于实现面向市场的推广。 权利要求书1页 说明书5页 附图3页 CN 216696101 U 2022.06.07 CN 216696101 U 1.一种检测系统， 包括用于放置待测工件的检测工位， 以及用于照射所述检测工位的 光源； 其特 征在于， 还 包括： 校准机构， 包括校准元件； 当所述校准机构置于检测工位时， 所述校准元件在所述光源 的照射下能够形成暗区； 其中， 所述暗区用于确定所述光源照射方向的偏转角， 基于所述偏转角能够使所述光 源调整至目标照射方向。 2.根据权利要求1所述的检测系统， 其特征在于， 所述校准机构还包括标定元件， 所述 标定元件具有与所述待测工件相同的表面特 征； 所述校准元件连接 于所述标定元件。 3.根据权利要求2所述的检测系统， 其特征在于， 所述标定元件设有定位槽， 所述校准 元件设于所述定位槽内。 4.根据权利要求3所述的检测系统， 其特 征在于， 所述定位槽的截面形状为倒锥形。 5.根据权利要求1所述的检测系统， 其特征在于， 所述校准元件为 圆锥体、 棱锥体、 圆台 或棱台； 所述校准元件的侧表面均匀分布有台阶结构。 6.根据权利要求1所述的检测系统， 其特征在于， 还包括成像装置， 所述成像装置对准 于所述检测工位； 当所述光源照射于所述校准元件时， 所述成像装置用于采集包含有所述暗区的校准图 像。 7.根据权利要求1所述的检测系统， 其特 征在于， 还 包括安装架； 所述光源设有多个， 多个所述光源均可活动地安装于所述安装架上， 且多个所述光源 于所述安装架上 呈均匀分布。 8.根据权利要求7所述的检测系统， 其特征在于， 所述安装架上设有调节滑槽， 所述光 源可滑动地安装于所述调节滑槽内， 所述光源能够沿所述调节滑槽滑动以靠近或远离所述 检测工位； 所述安装架上还设有第 一驱动件， 所述第 一驱动件用于驱动所述光源沿所述调节滑槽 滑动。 9.根据权利要求8所述的检测系统， 其特征在于， 所述光源通过一连接件可滑动 地安装 于所述调节 滑槽内， 所述 光源与所述连接件之间为旋转连接； 所述安装架上还设有第 二驱动件， 所述第 二驱动件用于驱动所述光源相对于所述连接 件旋转。 10.根据权利要求8所述的检测系统， 其特征在于， 所述安装架上设有用于检测光源调 整角度的位置感应器， 以及用于根据所述位置感应器的感应结果 发出到位信号的声光报警 器。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216696101 U 2一种检测系统 技术领域 [0001]本实用新型 涉及视觉检测技 术领域， 尤其涉及一种检测系统。 背景技术 [0002]光度立体法是一种从不同的方向照射物体， 并利用静态相机进行成像的检测方 法， 每个图像的光源方向不同， 而不同的光源方向能够形成不同的表面反射率， 从而能够在 每个图像中捕获不同的特征点。 当将这些图像进行处理后， 能够生成具有较高对比度的图 像， 以实现细微特 征的检测。 [0003]由于光源照射方向的分布均匀性会影响到光度立体法检测的可靠性， 因此光源的 分布一致性成为光度立体法发挥检测价值的障碍； 为了提高光度立体法检测的可靠性， 在 检测前需要对光源的照射方向进行反复调 试， 该过程耗费时间过长， 导致基于光度立体法 的检测系统组装缓慢， 使得检测效率过低， 难以满足生产需求。 同时， 对光源产品的组装精 度提出了更高的要求， 因而应用于光度立体法的光源产品成本较高， 难以实现市场推广。 实用新型内容 [0004]针对现有技术的不足， 本实用新型提供一种检测系统， 解决现有技术中基于光度 立体法的检测系统组装缓慢， 且对于光源产品组装精度要求较高， 导致光度立体法的检测 效率较低、 成本居高不下的问题。 [0005]为实现上述目的， 本实用新型提供以下的技 术方案： [0006]一种检测系统， 包括用于放置待测工件的检测工位， 以及用于照射所述检测工位 的光源； 还 包括： [0007]校准机构， 包括校准元件； 当所述校准机构置于检测工位时， 所述校准元件在所述 光源的照射下能够形成暗区； [0008]其中， 所述暗区用于确定所述光源照射方向的偏转角， 基于所述偏转角能够使所 述光源调整至目标照射方向。 [0009]可选地， 所述校准机构还包括标定元件， 所述标定元件具有与所述待测工件相同 的表面特 征； [0010]所述校准元件连接 于所述标定元件。 [0011]可选地， 所述标定元件设有定位槽， 所述校准元件设于所述定位槽内。 [0012]可选地， 所述定位槽的截面形状为倒锥形。 [0013]可选地， 所述校准元件为圆锥体、 棱锥体、 圆台或棱台。 [0014]可选地， 所述校准元件的侧表面均匀分布有台阶结构。 [0015]可选地， 所述的检测系统， 还 包括成像装置， 所述成像装置对准于所述检测工位； [0016]当所述光源照射于所述校准元件时， 所述成像装置用于采集包含有所述暗区的校 准图像。 [0017]可选地， 所述的检测系统， 还 包括安装架；说　明　书 1/5 页 3 CN 216696101 U 3