(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202111495488.6 (22)申请日 2021.12.09 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 113901675 A (43)申请公布日 2022.01.07 (73)专利权人 中国电子产品可靠性与环境试验 研究所 （ （工业和信息化部电子第 五研究所） （中国赛宝实验室） ） 地址 511300 广东省广州市增城区朱 村街 朱村大道西78号 (72)发明人 刘树强　何亮　余思达　蔡金宝　 (74)专利代理 机构 华进联合专利商标代理有限 公司 44224 代理人 左帮胜 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) G06F 119/04(2020.01)(56)对比文件 CN 112305358 A,2021.02.02 CN 110389290 A,2019.10.2 9 CN 113607455 A,2021.1 1.05 JP H08292239 A,19 96.11.05 KR 20200111068 A,2020.09.28 CN 110836777 A,2020.02.25 CN 110426168 A,2019.1 1.08 Dongni Dong等.A l ife evaluati on method of fi lm capacitor usi ng accelerated l ife testi ng. 《016 1 1th Internati onal Conference o n Reliability, Maintainability and Safety (ICRMS)》 .2017, 李晨阳.引信系统电子产品加速寿 命试验方 法研究. 《导弹与航天运载技 术》 .2017,(第01 期), 审查员 姚培 (54)发明名称 电子元器件寿命预测方法、 装置、 计算机设 备和存储介质 (57)摘要 本申请涉及一种电子元器件寿命预测方法、 装置、 计算机设备和存储介质。 包括： 确定标准电 子元器件的特性参数和第一工况条件； 获取预设 温度下的标准电子元器件的第一试验寿命； 确定 标准电子 元器件的加速倍数； 获取待预测电子元 器件的第二工况条件， 根据标准电子元器件的加 速倍数、 第二工况条件、 待预测电子元器件的特 性参数， 确定使待预测电子元器件的加速倍数与 标准电子 元器件的加速倍数相等时的试验温度； 根据第一工况条件和第二工况条件， 确定工况差 异倍数； 根据第一试验寿命和工况差异倍数， 确 定待预测电子元器件在试验温度下的第二试验 寿命。 从而能够预测其他工况的电子元器件的寿 命， 缩短了试验时间， 节省了试验成本 。 权利要求书3页 说明书12页 附图4页 CN 113901675 B 2022.04.19 CN 113901675 B 1.一种电子元器件寿命预测方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 确定标准电子元器件的特性 参数和第一工况 条件； 获取预设温度下的所述标准电子元器件的第一试验寿命； 获取所述标准电子元器件在所述第 一工况条件下的第 一工作寿命， 根据 所述第一工作 寿命和所述第一试验寿命， 确定所述标准电子元器件的加速倍数； 获取待预测电子元器件的第 二工况条件， 所述待预测电子元器件的特性参数与所述标 准电子元器件的特性 参数相同； 根据所述标准电子元器件的加速倍数、 所述第二工况条件、 所述待预测电子元器件的 特性参数， 确定使得所述待预测电子元器件的加速倍数与所述标准电子元器件的加速倍数 相等时的试验温度； 根据所述标准电子元器件的第 一工况条件和所述待预测电子元器件的第 二工况条件， 确定工况差异倍数； 通过如下公式， 确定 工况差异倍数： 其中， 为工况差异倍数， 为标准电子元器件的工作电压与额定电压的比值， 为 标准电子元器件的工作电流与额定电流的比值， 为标准电子元器件的试验温度与额定 温度的比值， 为待预测电子元器件的工作电压与额定电压的比值， 为待预测电子元器 件的工作电流与额定电流的比值， 为待预测电子元器件的试验温度与额定温度的比值； 根据所述标准电子元器件的第 一试验寿命和所述工况差异倍数， 确定所述待预测电子 元器件在所述试验温度下的第二试验寿命。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述确定标准电子元器件的特性参数， 包 括： 获取所述标准电子元器件在不同的工作温度时对应的工作寿命； 通过如下公式， 根据所述标准电子元器件在不同的工作温度时对应的工作寿命， 确定 所述标准电子元器件的特性 参数： 其中， 所述特性参数包括分位寿命常数和激活能， 为所述工作寿命， 为所述工作 温度， 为所述分位寿命常数， 为所述激活能， 为玻尔兹曼常数， 为自然常数。 3.根据权利要求2所述的方法， 其特征在于， 所述获取所述标准电子元器件在所述第 一 工况条件下 的第一工作寿命， 根据所述第一工作寿命和所述第一试验寿命， 确定所述标准 电子元器件的加速倍数， 包括： 通过如下公式， 确定所述标准电子元器件的加速倍数： 其中， 为所述标准电子元器件的加速倍数， 为所述第一工作寿命， 为所述第 一试验寿命。权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 113901675 B 24.根据权利要求3所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述标准电子元器件的加速倍 数、 所述第二工况条件、 所述待 预测电子元器件的特性参数， 确定使得所述待 预测电子元器 件的加速倍数与所述标准电子元器件的加速倍数相等时的试验温度， 包括： 获取所述待预测电子元器件的实际工作温度； 通过如下公式， 确定使得所述待预测电子元器件的加速倍数与 所述标准电子元器件的 加速倍数相等时的试验温度： 其中， 所述标准电子元器件的加速倍数， 为所述待预测电子元器件的实际工作 温度， 为所述待预测电子元器件的试验温度， 为所述激活能， 为玻尔兹曼常数， 为自然常数。 5.根据权利要求4所述的方法， 其特征在于， 所述工况条件包括环境温度、 工作电流、 工 作电压和工作时长， 所述根据所述标准电子元器件的第一工况条件和所述待 预测电子元器 件的第二工况 条件， 确定 工况差异倍数， 包括： 通过如下公式， 确定所述工况差异倍数： 其中， 为所述工况差异倍数， 为所述标准电子元器件 的工作电压与额定电压的 比值， 为所述标准电子 元器件的工作电流与额定电流的比值， 为所述标准电子元器件 的试验温度与额定温度的比值， 为所述待预测电子元器件的工作电压与额定电压的比 值， 为所述待预测电子元器件的工作电流与额定电流的比值， 为所述待预测电子元器 件的试验温度与额定温度的比值。 6.根据权利要求5所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述标准电子元器件的第 一试验 寿命和所述工况差异倍数， 确定所述待预测电子元器件在所述试验温度下的第二试验寿 命， 包括： 通过如下公式， 确定所述待预测电子元器件在所述试验温度下的第二试验寿命： 其中， 为所述第二试验寿命， 为所述第一试验寿命， 为所述工况差异倍 数。 7.根据权利要求3 ‑6任一项所述的方法， 其特征在于， 在所述确定标准电子元器件的特 性参数后， 所述方法还 包括： 根据所述标准电子元器件在所述第 一工况条件下的第 一工作寿命， 通过如下公式确定 所述标准电子元器件的测试温度： 权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 113901675 B 3