(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202222415492.3 (22)申请日 2022.09.13 (73)专利权人 天津南侨 食品有限公司 地址 300000 天津市滨 海新区经济技 术开 发区渤海路52号 专利权人 上海南侨 食品有限公司 　 广州南侨 食品有限公司 (72)发明人 陈正文　 (74)专利代理 机构 天津诺德知识产权代理事务 所(特殊普通 合伙) 12213 专利代理师 朱卉 (51)Int.Cl. G01B 5/06(2006.01) B08B 1/02(2006.01) B08B 1/00(2006.01) (54)实用新型名称 一种面团厚度测量架 (57)摘要 本实用新型提供一种面团厚度测量架， 包 括： 支撑架， 包括顶部支撑架以及设置在所述顶 部支撑架两侧的侧部支撑架， 且在所述顶部支撑 架上还设有一第一通孔； 压面装置， 两端可活动 的连接所述侧部支撑架， 可下压面团， 控制所述 面团的高度； 测量装置， 一端连接在所述压面装 置上， 另一端通过所述顶部支撑架上的所述第一 通孔贯穿所述顶部支撑架， 并向远离所述压面装 置的一侧延伸， 通过所述测量装置的读数， 可检 测所述面团的厚度。 本实用新型的有益效果是压 面装置配合测量装置， 能够在擀压面团的过程中 随时观察面团的厚度， 根据测量装置测得的数据 能够随时调整面团的厚度， 节省测量时间， 且能 够避免人工测量的误差， 并且不会对面团的外观 造成影响， 减少生产时间。 权利要求书1页 说明书4页 附图1页 CN 218002402 U 2022.12.09 CN 218002402 U 1.一种面团厚度测量架， 其特 征在于， 包括： 支撑架， 包括顶部支撑架以及设置在所述顶部支撑架两侧的侧部支撑架， 且在所述顶 部支撑架上还设有一第一 通孔； 压面装置， 两端可活动的架设在所述侧部支撑架上， 可下压面团， 控制所述面团的高 度； 测量装置， 一端连接在所述压面装置上， 另一端通过所述顶部支撑架上的所述第一通 孔贯穿所述顶部支撑架， 并向远离所述压面装置的一侧延伸， 通过所述测量装置的读数， 能 够检测所述 面团的厚度。 2.根据权利要求1所述的一种面团厚度测量架， 其特征在于： 所述压面装置包括第 一横 杆以及插设在所述第一横杆上的压面件， 所述第一横杆两端可活动的连接所述侧部支撑 架， 所述压面件接触所述 面团， 并对所述 面团进行 下压， 控制所述 面团的厚度。 3.根据权利要求2所述的一种面团厚度测量架， 其特征在于： 在所述侧部支撑架上还对 称开设有 供所述第一横杆穿过的第二通孔， 在下压面团时能够供所述第一横杆带动所述压 面件上下移动。 4.根据权利要求1所述的一种面团厚度测量架， 其特征在于： 所述测量装置包括安装在 所述压面装置上的固定座以及 插设在所述固定座上的测量件， 所述测量件的一端插入所述 固定座中， 另一端通过 所述第一 通孔贯穿所述顶部支撑架， 可测量所述 面团的厚度。 5.根据权利要求4所述的一种面团厚度测量架， 其特征在于： 在所述顶部支撑架上还设 有一指示所述测量件高度的指示牌， 所述指示牌上设置有一指示针， 指向所述测量件上 的 刻度。 6.根据权利要求1 ‑5任一所述的一种面团厚度测量架， 其特征在于： 还包括清扫所述压 面装置表面的清扫装置， 包括第二横杆以及设置在所述第二横杆上 的清扫件， 所述第二横 杆两端连接所述侧部支撑架， 且所述第二横杆高于所述压面装置； 所述清扫件接触所述压 面装置， 能够清扫所述压面装置表面。 7.根据权利要求6所述的一种面团厚度测量架， 其特征在于： 所述清扫装置还包括可移 动套设在所述第二横杆上 的连接件， 将所述清扫件可移动的连接在所述第二横杆上， 所述 连接件能够相对所述第二横杆旋转， 且能够在所述第二横杆上来回移动， 带动所述清扫件 相对所述第二横杆旋转或来回移动。 8.根据权利要求6所述的一种面团厚度测量架， 其特征在于： 所述清扫件被设置为除尘 刷。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218002402 U 2一种面团厚度测量架 技术领域 [0001]本实用新型属于食品制备过程中厚度测量技术领域， 尤其是涉及一种面团厚度测 量架。 背景技术 [0002]面食类食品是广大群众喜爱的食品之一， 其加工制作也开始由人工制作向机械 化、 自动化的方向发展。 目前， 在某些面食制作中， 尤其是在冷冻面团生产车间进行面团生 产时， 需要对面团的厚度进行控制， 不能够 超过或者低于一定厚度， 现在工厂只能通过人工 进行抽检使用 钢尺测量面团的厚度， 由于人工测量会产生一定偏差， 且在测 量面团中间位 置处的厚度时会在面团中间进行插孔， 破坏面团的外观形状。 实用新型内容 [0003]本实用新型要解决的问题是提供一种面团厚度测量架， 有效的解决现有技术中只 能通过人工进行抽检使用钢尺测量面 团的厚度， 由于人工测量会产生一定偏差， 且在测量 面团中间位置处的厚度时会在面团中间进行插孔， 破坏面团的外观形状的问题。 [0004]为解决上述技术问题， 本实用新型采用的技术方案是： 一种面团厚度测量架， 其特 征在于， 包括： [0005]支撑架， 包括顶部支撑架以及设置在所述顶部支撑架两侧的侧部支撑架， 且在所 述顶部支撑架上还设有一第一 通孔； [0006]压面装置， 两端可活动的架设所述侧部支撑架， 可下压面团， 控制所述面团的高 度； [0007]测量装置， 一端连接在所述压面装置上， 另一端通过所述顶部支撑架上的所述第 一通孔贯穿所述顶部支撑架， 并向远离所述压面装置的一侧延伸， 通过所述测量装置的读 数， 可检测所述 面团的厚度。 [0008]优选地， 所述压面装置包括第一横杆以及插设在所述第一横杆上的压面件， 所述 第一横杆两端可活动的连接所述侧部支撑架， 所述压面件接触所述面 团， 并对所述面 团进 行下压， 控制所述 面团的厚度。 [0009]优选地， 在所述侧部支撑架上还对称开设有供所述第一横杆穿过的第二通孔， 在 下压面团时能够供 所述第一横杆 带动所述压面件上 下移动。 [0010]优选地， 所述测量装置包括安装在所述压面装置上的固定座以及插设在所述固定 座上的测量件， 所述测量件的一端插入所述固定座中， 另一端通过所述第一通孔贯穿所述 顶部支撑架， 可测量所述 面团的厚度。 [0011]优选地， 在所述顶部支撑架上还设有一指示所述测量件高度的指示牌， 所述指示 牌上设置有一指示针， 指向所述测量件上的刻度。 [0012]优选地， 还包括清扫所述压面装置表面的清扫装置， 包括第二横杆以及设置在所 述第二横杆上 的清扫件， 所述第二横杆两端连接所述侧部支撑架， 且所述第二横杆高于所说　明　书 1/4 页 3 CN 218002402 U 3