L 24 SJ 备案号：2070-1998 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T 11166—1998 集成电路卡（IC卡)插座总规范 Generic specification for sockets for integrated circuit(s) card(IC card) 1998-03-11发布 1998-05-01实施 中华人民共和国电子工业部 发布 前 本标准适用于集成电路卡（IC卡）插座。 IC卡插座是信息系统中的读卡器与IC卡的接口元件。为了和国际上的有关技术接轨， 以适应国际贸易、技术和经济交流的需要，本标准特别规定，本标准认准所适用的插座，其适用 的IC卡应符合IS07816-1：1987《识别卡带触点的集成电路卡第1部分：物理特性》所规定 的定义。这一规定所涉及的有关标准，限定了插座的接口配合尺寸应符合有关的ISO标准的 规定。 本标准由电子工业部标准化研究所归口。 本标准的负责起草单位为江苏惠通集团有限贵任公司。参加起草的单位为电子部标准化 研究所、电子部第四十所、上海安普连接器有限公司、国营第七九九厂、永宁电子元件厂。 本标准主要起草人：蒋瑞玲、钮金成、蒋永南、李传龙、余樵杨、郦长福、蒋友嘉。 中华人民共和国电子行业标准 集成电路卡（IC卡）插座总规范 SJ/T11166-1998 Generic specification for sockets for integrated circuit(s) card(IC card) 1 范围 本规范规定了集成电路卡（IC卡）插座的一般要求、试验方法及检验规则。 卡，以下也简称卡）应符合IS07816--1所规定的定义。 2引用标准 下列标准所包含的条文，通过在本规范中引用而构成为本规范的条文。在标准出版时，所 示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用本规范的各方应探讨使用下列标准最新版本的 可能性。 GB 191—90 包装储运图示标志 GB2421--89 电工电子产品基本环境试验规程总则 GB2423.19—81 电工电子产品基本环境试验规程 试验KC：接触点和连接件的二 氧化硫试验方法 GB2423.2081 电工电子产品基本试验规程试验Kd：接触点和连接件的硫化氢 试验方法 GB2423.29—82 电工电子产品基本环境试验规程试验U：引出端及整体安装件强 度 GB2828—87 遂批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查） GB2829-87 周期检查计数抽样程序及抽样表（适用于生产过程稳定性的检查） GB 5095.2--86 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第二部分：般 检查、电连续性、接触电阻测试、绝缘试验和电应力试验 GB5095.4—86 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第四部分：动态 应力试验 GB5059.5—86 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第五部分：撞击 试验（自由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验 GB5095.6—86 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第六部分：气侯 试验和锡焊性试验 GB5095.786 电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法第七部分：机械 中华人民共和国电子工业部1998-03-11批准 1998-05-01实施 -1- SJ/T11166—1998 操作试验和密封性试验 SJ/Z9132—87 各种电气装置和设备中零部件用塑料材料的可燃性试验标准 ISO 7816—1:1987 识别卡带触点的集成电路卡第1部分：物理特性 3分类及型号组成 3.1分类 插座可按接触型式、卡到位开关型式、卡的操作型式等要素进行分类。 插座的接触型式可分为滑动式、起落式等； 插座的卡到位开关型式可分为常闭式、常开式； 插座可按卡的操作型式分为推拉式、推推式、推弹式、推自弹式等。 除上述型式外，在详细规范中可以补充其它型式。 分类所涉及的术语，其定义见附录A。 3.2型号组成 插座的型号组成见附录B。 4要求和试验方法 4.1试验的标准条件 除非另有规定，所有试验应在GB2421中所规定的“试验的标准大气条件”下进行。 测量前，插座应在试验的标准大气条件下放置24h，进行预处理。 4.2材料和加工质量检验 4.2.1外观 插座应按GB5095.2的“试验1a：外观检查”规定的方法进行检查。 插座应以良好的材料和正常工艺进行制造和加工。 4.2.2尺寸 插座触点的位置和接触范围应符合图1的规定，其余尺寸应符合有关详细规范的规定。 插座与卡的接口尺寸按GB5095.2的“试验1b：尺寸和重量检查”规定的方法进行检查，通常 只需要检查一个样品的尺寸就已足够。 SJ/T11166—1998 23. 89 7. 62 2.54 卡到位线 由由由 插座左导轨侧边 1.59max 1. 75ma x 图 1 4.3机械试验 4.3.1插入力和拔出力 插座应按GB5095.7的"试验13b：插入力和拔出力”规定的方法进行试验。试验时，应能 插入或从其拔出插拔试验卡，而所需的插入力和拔出力应符合详细规范的规定。 除非供需双方另行协商，机械寿命试验卡的厚度、宽度尺寸应与相适配卡的厚度、宽度的 最小尺寸相一致。 4.3.2机械寿命 插座应按GB5095.5的“试验9a：机械操作”规定的方法进行试验。试验时，插拔机械寿 命试验卡的次数应符合详细规范的规定。 除非供需双方另行协商，机械寿命试验卡的厚度、宽度尺寸应与相适配卡的厚度、宽度最 大尺寸相一致。 试验后，插座的接触电阻应符合详细规范的规定；卡到位开关的触点状态不应改变；拔出 力应符合详细规范的规定。 4.3.3锡焊 插座应按GB5095.6的“试验12a：锡焊槽润湿法可焊性”规定的方法进行试验，浸溃过焊 剂的引出端表面应符合规定的要求；并且插座还应按GB5095.6的试验12d：锡焊槽法耐焊 接热”规定的方法进行试验，试验后，应无有害于正常工作的损伤。 引出端采用烙铁法进行焊接的插座，应按GB5095.6的“试验12b：锡焊烙铁润湿法可焊 性”规定的方法进行试验。试验后，引出端表面应符合规定的要求。插座还应按GB5095.6 的"试验12e：烙铁法耐焊接热”规定的方法进行试验，试验后，应无有害于正常工作的损伤。 SJ/T11166—1998 若试验样品已经过其他项目试验时，可浸渍在室温条件下的中性有机溶剂中去除油污后再进 行试验。 4.3.4引出端强度 除非另行规定，插座引出端应按GB2423.29中试验Ub的弯曲试验（签状引出端）方法1 的规定进行试验。 试验时，应在引出端机械强度最小的地方，按机械阻力最小的方向用手指慢慢地弯曲当 引出端的设计不容许弯曲到整45°时，它们应尽可能弯曲。 弯曲循环次数应在有关详细规范中规定，优先的循环次数是1次或3次。 试验后，插座应无机械损伤。 4.3.5振动 插座应按GB5095.4的"试验6d：振动”规定的方法，以及有关详细规范规定的严酷等级 进行试验。试验时，插座应安装在试验夹具上。试验后，应无机械损伤和零件的松动，卡到位 开关触点状态不应发生改变，接触电阻应符合有关详细规范的规定。 有规定时，插座应装上详细规范规定的接触电阻测试卡，按GB5095.2的“试验2e：接触 故障”规定的方法连续监测插座与接触电阻测试卡之间的电连续性，中断时间不得大于有关详 细规范的规定值，并应同时检测卡到位开关触点状态的瞬间改变时间，也不得大于详细规范的 规定值。 4.3.6冲击 插座应按GB5095.4的“试验6c：冲击”规定的方法，以及有关详细规范规定的严酷等级 进行试验。试验时，插座应安装在夹具上。试验后，应无机械损伤和零件的松动，卡到位开关 触点状态不应发生改变，接触电阻应符合有关详细规范的规定。 有规定时，插座应装上详细规范规定的接触电阻测试卡，按GB5095.2的“试验2e：接触 故障规定的方法连续监测插座与接触电阻测试卡之间的电连续性，中断时间不得大于有关详 细规范的规定值，并应同时检测卡到位开关触点状态的瞬间改变时间，也不得大于详细规范的 规定值。 4.4电气试验 4.4.1接触电阻 插座的接触件与接触电阻测试卡之间的接触电阻和卡到位开关触点的接触电阻值应不大 于100mQ。 应按GB5095.2的“试验2a：接触电阻一毫伏法”的规定进行试验，接触电阻测试卡的尺 寸应与插拔试验卡的尺寸相同。 4.4.2绝缘电阻 插座相邻接触件之间和卡到位开关触点之间（断开状态下），绝缘电阻值应不小于 1000M2。应按GB5095.2的"试验3a：绝缘电阻”的方法B的规定进行试验。除非另有规定， 测试电压应为100±15VDC。 4.4.3耐压 插座应按GB5095.2的"试验4a：耐压”的方法B的规定，施加有关详细规范规定的电压 进行耐压试验。试验期间应无击穿和飞弧现象。若无另行规定，泄漏电流超过1mA，则应认 为失效。 4.5气侯试验 -4 SJ/T11166—1998 4.5.1气候序列试验 插座应按GB5095.6的试验11a：气候序列试验”的规定进行试验。 4.5.1.1高温 插座应按GB5095.6的“试验11i：高温”规定的方法，以及有关详细规范规定的温度进行 试验。试验后，绝缘电阻应符合有关详细规范的规定，并应无明显的损伤。 4.5.1.2交变湿热（第1个循环） 插座应按GB5095.6的“试验11m：交变湿热”规定的方法，以及有关详细规定的严酷等级 进行第一个循环试验。 4.5.1.3低温 插座应按GB5095.6的“试验11j：低温”规定的方法，以及有关详细规范规定的温度进行 试验。试验后，应无明显的损伤。 4