SJ 中华人民共和国电子工业行业标准 SJ/T10257~10261—91 SJ/T1026310265—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路音响电路 () 1991-11-12发布 1992-01-01实施 中华人民共和国机械电子工业部 发布 中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7668GP型 带ALC双前置放大器 SJ/T10265—91 Detail specification for electronic component Semiconductor integrated circuit-type CD 7668GP dual preamplifiers with ALC 本规范规定了半导体集成电路音响电路CD7668GP型带ALC双前置放大器质量评定 的全部内容。 本规范符合GB4589.1&半导体器件分立器件和集成电路总规范》及GB/T12750&半 导体集成电路分规范（不包括混合电路）》的要求。 中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准 1992-01-01实施 83 SJ/T10265-91 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据； GB4589.1《半导体器件分立器件和集成 SJ/T10265—91 电路总规范》及GB/T12750半导体集成电 路分规范（不包括混合电路》》 CD7668GP型带ALC双前置放大器详细规范 订货资料：见本规范第7章， 机械说明 2 简要说明 1 外形依据：GB7092《半导体集成电路外 双极型音响集成电路 形尺寸》。 半导体材料：硅 封装：非空封 外形图：按GB7092第5.5.1条P16S3。 应用：主要在音响设备中作录音及放音 引出端排列： 放大用。 品种： GND, 工作环境 6 温度 -25~75℃ Vxr CUNMUT 15 (G) MOUTMT[ 20UTMUT 封装形式 14 20UTRA 10UTxa 13 塑料双列直插 CD7668GP (P) 10UTrxx J20UTrx 121 IIN_ [ 2IN. 21N. IIN+ 10 GND INaL 3 质量评定类别 1类 参考数据 引出端符号名称：见本规范第11章。 工作电源电压：Vcc=6~15V。 标志：按GB4589.1第2.5条及本规范 第6章。 84 SJ/T10265-91 极限值（绝对最大额定值） 若无其它规定，T-25℃。 数 值 条款 号 参 数 符 号 单 位 最 小 最 大 4.1 电源电压 Vec 16 V 4. 2 功 耗" Pp 750 mw 4. 3 Taab 工作环境温度 25 75 c 4.4 贮存温度 T'sig 55 150 注：1）在25℃以上时，温度每升高1℃，功耗减少6mW。 5 电特性 电特性的检验要求见本规范第8章。 若无其它规定，T.b=25℃，Vce=9V，f=1kHz。 规 范 值 条件 符号 条款号 性和 单 试 验 最小 典型 最大 静态电流 5. 1 leco 8. 5 10. 5 mA A3 V,±0 S.接通 全谱波失真度（前暨） 5. 2 TIID, 0.15% 0.5% A4 Vor 0. 2V 输出噪声电压(前暨) Rg=2.2kn Vswo 5. 3 0. 26 0. 6 mv A4 BPF.30Hz~50kHz 全谐波失真度(录音) 5. 4 0. 2% 0. 6% A4 Vo=1.5V ALC失真度（录音） 5. 5 R=2.2kn,V,=45mV 0. 3% 1.0% A4 R=10kn ALC电压(录音） 5. 6 0. 9 1. 1 1. 42 V A4 测试条件同本章5.5条 6 标志 器件上的标志示例： -85- SJ/T10265—91 白 CD7668GP 引出端识别标志 质量评定类别 8630 制造厂商标 检验批识别代码 订货资料 产品型号； a. 详细规范编号； 质量评定类别： c. d. 其它。 8 试验条件及检验要求 抽样要求：根据采用的质量评定类别，按GB/T12750第9章的规定。 A组检验的抽样要求 AQI 分 组 I类 检查水平(IL) AQL A1 1 0. 65 A3 0. 15 A4 S4 1. 0 B组、C组和D组检验的抽样要求 LTPD 分 组 1类 B1 15 C1 20 C3 15 10 B4 C4 B5C5 10 C7 15 B8 C8 D8 10 15 C9 C11 20 86- SJ/T10265—91 A组-—逐批 所有试验均为非破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 条 件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其它规定，Tamb-25℃ 规范值 （见GB4589.1第4.1条） A1分组 外部目检 GB4589.1第4.2.1.1条 标志清晰，表面无损 伤和气孔 A3分组 GB7500半导体集成音响 按本规范第5.1条及10.1 按本规范第5.1条 25℃下的静态特性 电路音额前置放大器测试 条 方法的基本原理》 A4分组 25℃下的动态特性 GB 7500 按本规范第5.2条至5.6 按本规范第5.2条 条及10.1条 至5.6条 B纽- 一逐批 标有(D)的试验为破坏性的（见GB4589.1筑3.6.6条） 条 件 检验婴求 检验或试验 引用标准 若无其它规定Tamb-25℃ 规范值 （见GB4589.1第4.1条） B1分组 尺寸 GB4589.1第4.2.2条及附 按本规范第1章 录B B4分组 可焊性 GB4590<半导体集成电路 按方法b（焊法） 按GB4590第2.5.6条 机械和气候试验方法》 第2.5条 B5分组 温度快速变化 GB4590第3.1条 温度按严格度A 环次数：10次 f5min 随后进行： GB4589.1第4.2.1.1条 同A1分组 外部目检 稳态湿热(D) GB4590第3.7条 按严格度A，24h 电测量 同A3和A4分组 同A3和A+分组 87 SJ/T10265—91 B组 逐批（续） 条件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其它规定，Tamb=25C 规范值· （见CGB4589.1第4.1条） B8分组 电耐久性 GB/T12750第12.3条 1681，试验线路按本规范第 10.2条 电测量 同A3和A4分组 小于1.3USI, 恢复2h，24h内测完 大于0.8LSL" CRRL分组 就B4.B5和B8分组提供计数检查结果。 注：1）USL和LSL分别表示A组规范值的最大值和最小值。 C组周期 标有(D)的试验为破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 条 件 检验要求 引用标准 检验或试验 若无其它规定，Tamb=25℃ 规范值 (见GB4589.1第4.1条） C1分组 尺寸 GB4589.1第4.2.2条及附 按本规范第1章 录B C3分组 引线强度 拉力(D) GB4590第2.1条 F=5N 按GB4590第2.1.5条 弯曲(D) GB4590第2.2条 按试验1之方法2， 无断裂 F=2.5N C4分组 耐焊接热（D) GB4590第2.6条 按方法1(2G0℃括焊） 电测量 同A3和A4分组 同A3和A4分组 C5分组 温度快速变化 GB4590第3.1条 溢度按严格度A 循环次数：500次 t:5min 随后进行： 外部目检 同A1分组 CB4589.1第4.2.1.1条 稳态湿热(D) GB4590第3.7条 严格度A，24l 电测量 同A3和A4分组 同A3和A4分组 C7分组 CB4590第3.7条 稳态湿热(D) 按严格度A，不加电，1000l 同A3和A4分组 电测量 同B8分组 88