SJ 中华人民共和国电子工业行业标准 SJ/T 10257~10261—91 SJ/T 10263～10265—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路音响电路 1991-11-12 发布 1992-01-01实施 中华人民共和国机械电子工业部 3发布 中华人民共和国电子工业行业标准 电子元器件详细规范 半导体集成电路 CD7343GS型锁相环调频立体声解码器 Detail specification for electronic component SJ/T 10261—91 Semiconduetorintegratedcircuit-typeCD7343GSphase- IockedloopFMstcreodccoder 本规范规定了半导体集成电路CD7343GS型锁相环调频立体声解码器质量评定的全部 内容。 本规范符合GB4589.1《半导体器件分立器件利集成电路总规范》及GB/T12750《半 导体集成电路分规范（不包括混合电路）》的要求。 中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准 1992-01-01实施 49 SJ/T10261-..91 中华人民共和国机械电子工业部 评定器件质量的依据： GB4589.1《半导体器件分立器件和集成 SJ/T10261-—91 电路总规范》及GB/T12750《半导体集成电 路分规范（不包括混合电路）》 CD7343GS型锁相环调频立体声解码器详细规范 订货资料，见本规范第7章。 1机械说明 2简要说明 外形图：见本规范第10.4条。 双极型音响集成电路 引出端排列： 半导体材料：硅 甘装：非空封 应用：主要在调频立体声收音机中作锁 相环式立体声解调。 IN:OM 品种： PI.. Vec 工作环境 温度 vCO -30~75℃ (G) (GND 封装形式 DPY I 塑料单列直插 CID73-13GS FIL (S) OUTLE OUTk 9 3 质量评定类别 1类 引出端符号名称：见本规范第11章。 标志，按GB4589.1第2.5条及本规范 参考数据 第6章。 输入电压范丽：200mV～700mV； 工作电源电压：3.5~12V； 7端接Vcc时VCO停振； 通过6端可监测VCO振荡频率。 SJ/T 10261--91 极限值（绝对最大额定值） 4 若无其它规定，Tamb=25℃。 数 值 条款号 数 符 号 单 位 最 小 最 大 4.1 电源电压 Vec: 12 V 一 4. 2 灯驱动电压 Vr.aMp 16 v 连续 20 4. 3 灯驱动电流 1t.AMP mA 峰值 40 4.4 功 耗" P, 500 mw - 4. 5 工作环境温度 Tanb 30 75 c 4. 6 延存温度 Tsig - 55 150 c 注：1）在25℃以上使用时，温度每升高1℃，功耗减小4mW。 电特性 电特性的检验要求见本规范第8章， 若无其它规定,Tanb=25℃,Vcc=8V，f=1kHz。 规 值 条款号 和 条件 符号 单位 试验 最小 典型 最大 5. 1 静态电流 Ico 11 13 mA A3 Ve:-3.5V 0, 3 0. 6 输出电流 5. 2 R.-3.3k2 Vox-8.0V Iu, 1. 2 1. 8 mA A3 （8端或9） Vc: =12V 1. 4 2. 1 立体声分离度 5. 3 sep 36 45 dB A4 Vat.+R=180mV,Vp-20mV 全谐波失真度 5. 4 TIID 0.08% 0.3% A4 单声道V=200mV 电压增益 5. 5 Av - 2. 0 2. 0 d13 0 A4 V,=200nV 声道平衡度 5. 6 CB 0 1. 5 tB A4 V,=200mV 灯灵敏度 亮灯 VL.ON) 9 15 5. 7 导频信号输入 mv A4 lo-1mA 灭灯 2 5 1 SJ/T 10261—91 6标志 器件上的标志示例： 型号 引出端识别标志 CD7343GS 8650 质量评定类别 制造厂商标 检验批识别代码 7订货资料 a．产品型号； b. 详细规范编号； 质量评定类别； d.其它。 8试验条件及检验要求 抽样要求：根据采用的质量评定类别，按GB/T12750第9章的规定 A组检验的抽样要求 AQI. 分 组 1类 检查水乎(IL.) AQL. A1 0.65 A3 1 0. 15 A4 1. () 52 SJ/T 10261-—91 B组、C组和D组检验的抽样要求 LTPU 分 组 类 B1 15 C1 20 C3 15 B4C4 10 B5C5 10 C7 15 B8C8D8 10 60 15 C11 20 A组—逐批 所有试验均为非破坏性的（见GB4589，1第3.6.6条） 条 检验耍求 检验或试验 引用标准 若无其它规定，Tamb一25℃ 规范值 （见GB4589.1第4.1条） A1分组 外部目检 GB4589.1第4.2.1.1条 标志滑晰，无表面损 伤和气孔 A3分组 GB7501《半导体集成音响 按本规范第5.1条 25℃下的静态待性 电路立体声辩码器测试方 按本规范第5.1条和5.2 和5.2条 法的基本原理》 条及第10.1条 A4分组 GB 7501 按本规范第5.3条至5.7 按本规范第5.3条 25℃下的动态特性 条及第10.1条 至5.7条 53- SJ/T 10261--91 B组逐批 标有（D)的试验为破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 条件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其它规定，Tamb=25℃ 规范值 （见GB4589.1第4.1条） B1分组 尺寸 GB4589.1第4.2.2条及附 按本规范第1章b、 录B ce.A.A、L B4分组 可焊性 GB4590《半导体集成电路 按方法b（槽焊法） 按GB4590 机械和气候试验方法》 第2.5.6条 第2.5条 B5分组 温度快速变化 GB4590第3.1条 温度按严格度A， 循环次数：10次 ti:5min 随后进行： 外部目检 GB4589.1第4.2.1.1条 同A1分组 稳态湿热(D) GB4590第3.7条 严格度A，24h 电测话 同A3和A4分组 同A3和A4分组 B8分组 电耐久性 GB/T12750第12.3条 16811，溢度按本规范4.5条 最大值，试验线路按本规范 第10.2条 电测址 同A3和A4分组 小于1.3US1* 恢复2l，2-1内测完 大于0.81SI.1) CRRL分组 就B4、B5和B8分组提供计数检查结果。 注：1）USL和LSI.分别表示A组规范值的最大值和最小值。 C组周期 标有（D)的试验为破坏性的（见GB4589.1第3.6.6条） 条件 检验要求 检验或试验 引用标准 若无其它规定，Tamb=25℃ 规范值 （见GB4589.1第4.1条） C1分组 尺寸 GB4589.1第4.2.2条及附 按本规范第1章D、 录B M.e(n-1) 54