SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T10251—91 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB1495型 四象限模拟乘法器 Detail specification for electronic components Semiconductor integrated circuit-type CB1495 fourguadrant analogue multiplier （可供认证用） 1991-11-12发布 1992-01-01实施 中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子行业标准 电子元器件详细规范 半导体集成电路CB1495型 四象限模拟乘法器 SJ/T10251-91 Detailspecificationforelectroniccomponents Semiconductor integrated circuit- type CB1495 four guadrand analogue multiplier （可供认证用） 本规范规定了半导体集成电路CB1495型四象限模拟乘法器的鉴定和质量评定的全部 内容。 本规范符合GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》利GB12750《半 导体集成电路分规范（不包括混合电路）》的要求。 中国电子元器件质量认证委员会标准机构是中国电子技术标准化研究所。 中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准 1992-01-01实施 - 1 SJ/T1025191 国家技术监督局 IECQ 评定器件质量的依据： GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》 GB GB12750《半导体集成电路分规范（不包括混合电路）》 CB1495型四象限模拟乘法器详纠规范 订货资料：见本规范第7章 机械说明 2 简要说明 外形依据：GB7092《半导体集成电路外形尺寸》 双极型单片集成四象限模拟乘法器 外形图：按GB7092 半导体材料：硅 D型 5.3及5.3.1 封装：空封、非空封 J型 5.4及5.4.1 品种： P型 5.5及5.5.1 型号环境 0~70°℃ 温度 引出端排列： （顶视图） (C) 封装形式 陶瓷直插(D) CB 1495CD Vcc 14 JOUT. 黑瓷直插() CB 1495CJ RBX OUT, 2 13 塑料直插(P) CB 1495CP RBy INx- 3 12 Rx INy+ 11 4 3 质量评定类别 Ry 10 Rx n II、IIA、IIIB、IIIC INx+ Ry 6 VEe 口IN- 7 8 参考数据： Vcc =32 V 引山端名称和符号见本规范第八章 VEE =15 V 标志：按GB4589.1，2.5及本规范第6章 %0'1=X ELy=±2.0% 按本规范鉴定合格的器件，其有关制造厂的资料，可在现行合格产品日录中查到。 极限值（绝对最大额定值） 4 若无其它规定，Tamb=25°℃ SJ/T10251-—91 数 值 单位 条款号 参数 符号 最小 最人 外加电压 AV 30 4.1 V (V,-V2, V14-Vi, V,-Vg, V,-V12, V,-V4, V,-Vg, V12-V7, Vg-Vr,Vg-Vy, Ve-V,) 差模输入信号 ViD 4.2 (6+/13Rx) +(6+/13Rx) V (Vi2-Vg, V4-Vg) -(6+/13Ry) +(6+/i3Ry) 偏置电流 Ihb 10 mA 4.3 (Ig, I3) 4.4 功耗 D, J PD 750 mw P 500 Tamb 工作环境温度范围 0 70 4.5 Tste 贮存温度范围 -65 150 4.6 电特性 5 电特性的检验要求见本规范第8章。 若无其它规定：Vcc=32V，Vee=15V，Tamb=25°C，l=I3=1mA，Rx=Ry=15k2，R=11 k2. 规 范 值 条款 特性和条件 符号 25 °℃C 70 °C 单位 试验 号 最小 最大 最小 最大 5.1 线性误差 ELX Vy=±10 V -10 V<Vx<10 V ±2.0 ±3.0 % A3/A3a/A3b ELY Vx=±10 V -10 V<V<10 V ±4.0 ±6.0 IiB(X) 12 μA A3 5.2 输入偏置电流 IB(Y) 12 lio(x) 2.0 输入失调电流 μA A3 5.3 lo(Y) 2.0 输出失调电流 loo 100 μA A3 5.4 5.5 负电源电流（在7端测） 7.0 mA A3 5.6 静态功耗 Pp 170 mw A3 - Vic 共模输入电压范围f-20Hz ±10.5 V 5.7 A4 5.8 共模增益f=20Hz Avc -40 dB A4 标志 6 器件上的标志示例： SJ/T10251-—91 认证合格标志（适用时） CB1495CD. 产品型号 引出端识别标志 质量评定类别 8904IIIA 制造单位商标 检验批识别代码 订货资料 7 产品型号； a. b. 详细规范的国家标准编号： c. 质量评定类别； d. 其他。 试验条件和检验要求 8 若无其它说明，本章引用条款均为GB4589.1的条款。 抽样要求：根据采用的质量评定类别，参照GB12750第9章的有关规定 A组检验的抽样要求 TOV 分组 II类 IⅡI类 IL AQL IL AQL Al II 0.65 II 0.65 A3 II 0.15 II 0.15 A3a S4 1.0 S4 1.0 A3b S4 1.0 S4 1.0 A4 S4 1.0 S4 1.0 SJ/T10251—91 B组、C组和D组检验的抽样要求 AQL 分组 IⅡI类 III类 A B c B1 15 15 15 15 C1 20 20 20 20 C2b 15 15 15 15 B3 C3 15 15 15 15 B4C4 10 10 10 10 B5C5 10 10 10 10 90 20 20 20 20 C7 15 15 15 15 B8 C8 10 5 7 10 C9 15 5 7 15 C11 20 20 20 20 B21 20 10 10 15 C23 20 10 15 20 C24 20 10 15 20 D8 10 5 7 10 A组一逐批 全部试验均为非破坏性的（见3.6.6） 条件 检验或试验 引用标准 若无其它规定，Tamb=25C 检验要求规范值 (见第4章) A1分组 外部日检 4.2.1.1 标志清晰，表面无损 伤和气孔 A3分组 25°℃的静态特性 GB14029《半导体集 按本规范5.1至5.6 按本规范5.1至5.6 成电路模拟乘法器测 试方法的基本原理》 A4a分组1) 最高工作温度下 GB 14029 Tamb按本规范4.5， 的静态特性 条件：按本规范5.1 按本规范5.1 A4b分组1) 最低工作温度下 GB 14029 Tamb按本规范4.5 的静态特性 条件：同A3a分组 同A3a分组 5 SJ/T10251—91 续表 条件 引用标准 若无其它规定，Tamb=25°℃ 检验要求规范值 检验或试验 (见第4章) A5分组 GB 14029 按本规范5.7，5.8 按本规范5.7，5.8 25°℃下的动态特 性 注：1）允许相关测量。 B组一逐批 标有（D）的试验为破坏性试验（见3.6.6） 条件 引用标准 若无其它规定，TA=25°℃ 检验要求规范值 检验或试验 (见第4章) B1分组 按本规范第1章 尺寸 4.2.2及附录B B3分组 GB 4590 外加力的值按GB4590，2.2 无损伤 引线强度 弯曲(D) 《半导体集成电路机 表2 械和气候试验方法》 2.2 B4分组 可焊性 GB4590,2.5 按方法b（槽焊法） 浸润良好 B5分组 温度快速变化 GB 4590,3.1 TA=-65 °C T=150°C 循环次数：10次 t;=5 min 随后进行 （a）空封器件 电测量 （同A3分组） 同A3分组 同A3分组 密封：细检漏 GB4590，3.11或3.12 按规定 及粗检漏 3.13 按规定 （b）非空封及环 氰封的空封器件 外部日检 4.2.1.1 稳态湿热 GB4590,3.7 严格度A（85°C，85%R.H) 不加电，24h 电测量 同A3分组 间A3分组 （同A3分组） -9