K82 SJ 中华人民共和国电子工业行业标准 SJ/T10173~1017491 太阳电池及太阳模拟器 1991-12-01实施 1991-05-28发布 中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国电子工业行业标准 AM1.5稳态太阳模拟器 SJ/T10174—91 steady sunlight simulator for air-mass1.5 1主题内容与适用范围 本标准规定了各级AM1.5稳态太阳模拟器的技术指标，以及检测这些指标的方法。 本标准适用于AM1.5稳态太阳模拟器。 2引用标准 GB/T12637太阳模拟器通用规范 GB2297 太阳光伏能源系统术语 3产品分类 按GB/T12637中3.1条、3.2条、3.3条规定。 4技术要求 4.1外观要求 太阳模拟器的光学件不得有划伤、裂纹、脱膜、污染等。 4.2工作条件 4:2.1清洁度：10000级。 4.2.2相对湿度：小于75%。 4.2.3环境温度：5~35℃。 4.2.4电源工作电压，380士38V或220士22V。 4.2.5冷却水温度，5~35℃。 4.2.6通风：应设有排气设备，将有害气体排出，有害气体含量应按国家有关规定。 4.3技术指标 4.3.1A级、B级、C级AM1.5稳态太阳模拟器的技术指标均应符合GB/T12637中表1和 表2的规定要求。 4.3.2AM1.5稳态太阳模拟器输出总辐照度应在800～1200W/m²范围内可调。 4.3.3AM1.5稳态太阳模拟器在保持各项指标不变的情况下应能连续工作8h。 5试验方法 中华人民共和国机械电子工业部1991-05-28批准 1991-12-01实施 SJ/T10174-91 5.1测量仪器 5.1.1 测试所用测试仪表在测试前必须经有关法定计量机构校验，并有检定证书。 5.1.2 测量仪器精确度 a. X-Y函数记录仪的精确度应不低于0.5级； b. 数字电压表的精确度应不低于士0.2%； 太阳电池短路电流与辐照度的线性精确度应不低于士0.5%： c. d. 均匀度测试仪的精确度应不低于土1.0%； 绝对摇射计的不确定度不大于2%。 e. 5.2总辐照度 在有效韬照面内用绝对辐射计测量总辐照度。测量时以有效辐照面的中心为起点，在X 和Y方向上等间隔对称取测试点。测试点数目根据有效辐照面大小而定，规定除中心点外每 个方向不少于2点。各测试点辐照度的平均值即为总辐照度。 总辐照度用公式（1）计算 E,+E,+E,+...E. (1) n 式中.E,E.测试点辐照度W/m"； 测试点数目。 5.3辐照不均匀度 5.3.1在有效辐照面内用均匀度测试仪测辐照不均匀度。均匀度测试仪的记录系统用X-Y 函数记录仪。检测器使用单晶硅太阳电池，检测器尺寸按GB/T12637的5.4.3条规定。按图 1，图2布置测试。无论有效辐照面是什么样的形状，均从有效辐照面的中心处取4条测试线。 矩形辐照面测试线的确定方法为边对边，角对角，其它形状照面每隔45°取1条测试线，在4 条记录曲线中取最大值和最小值。 图 1 图 2 辐照不均匀度用公式(2)计算 Emx - Emin × 100% (2) Em + Em SJ/T10174—91 式中：E一最大辐照度，W/m E.—最小辐照度，W/m。 5.3.2在有效照面内4条测试线的测试时间不大于2min。 5.4辐照不稳定度 测试位置的选法按GB/T12637的4.5条规定。用单晶硅太阳电池为线性接收元件，用 X-Y函数记录仪或打印机为记录系统，测试播照不稳定度。测试中接收元件温度的变化不得 大于士2℃。规定以1h作为检测辐照不稳定度的时间间隔.在1h内X-Y函数记录仪或打印机 连续记录的数值中取最大值和最小值。 辐照不稳定度用公式（3)计算 E E ×100% (3) E.. + E.. 式中：E---最大辐照度，W/m* E.-般小辐照度，W/m。 5.5光谱照度分布 5.5.1标准 本标准规定采用总辐射AM1.5标准太阳光谱（见附录A）。 5.5.2光诺辐照度分布测量 太阳模拟器光谱辐照度分布测量，应按国家有关规定。 5.6计算方法 本标准规定，标准太阳光谱和AM1.5稳态模拟器光诺，在总辐照度相等的情况下，各个 相对应波长间隔内的光谱辐照度进行比较光谱失匹误差。 6检验规则 按GB/T12637的第6章规定。 7标志、包装、运输、贮存 按GB/T12637的第7章规定。 SJ/T 10174—91 附录A AM1.5标准太阳光谱数据（总辐射） （补充件） 波 长 光谐辐照度 光谱光子流辐照度 累积积分辐照度 W · m - μm-1 μm cm-- . g-1 · μm- W/m 0.3050 9. 5 1.459E+015 0. 06 0.3100 42. 3 6.602E+015 0. 19 0.3150 107, 8 1.710E+016 0. 57 0.3200 181.0 2.916E+016 1. 29 0.3250 246.8 4.038E+016 2. 36 0.3300 395.3 6.567E+016 3. 97 0.3350 390.1 6.579E+016 5. 93 0.3400 435.3 7.451E+016 7. 99 0.3450 438. 9 7.623E+016 10.18 0.3500 483. 7 8.523E+016 12.40 0.3600 520.3 9.430E+016 17, 51 0. 3700 666.2 1.241E+017 23. 44 0.3800 712.5 1.363E+017 30. 33 0.3900 720.7 1.415E+017 37. 50 0.4000 1013.1 2.040E+017 46. 17 0.4100 1158.2 2.391E+017 57. 02 0.4200 1184.0 2.504E+017 68. 74 80. 01 0.4300 1071.9 2.320E+017 0, 4400 1302.0 2.884E+017 91, 88 0.4500 1526.0 3.457E+017 106. 02 0.4600 1599. 6 3.704E+017 121.65 0.4700 1581.0 3.741E+017 137.55 0.4800 1628.3 3.935E+017 153. 60 0.4900 1539.2 3.797E+017 169. 44 0.5000 1548.7 3.898E+017 184.88 0.5100 1586.5 4.074E+017 200.55 0, 5200 1484.9 3.887E+017 215. 91 0,5300 1572.4 4.196E+017 231,20 0.5400 1150.7 4.216E+017 246. 81 0.5500 1561.5 4.324E+017 262.38 0. 5700 1501.5 4. 309E+017 293.01 0. 5900 1395.5 4.145E+017 321.98 0.6100 1485.3 4.561E+017 350.78 0.6300 1434.1 4.549E+017 379.98 0.6500 1419. 9 4.647E+017 408.52 0. 6700 1392.3 4.696E+017 436.64 0. 6900 1130. 0 3.925E+017 461.86 SJ/T10174-91 续表 波 长 光诺辐照度 光诺光子流辐照度 累积积分辑照度 W·m-t.μm-i μm cm-.s- .μm-1 gU/ M 0. 7100 1316.7 4.707E+017 486. 33 0.7180 1010.3 3.652E+017 495. 64 0. 7244 1043.2 3.805E+017 502. 21 0. 7400 1211.2 4.512E+017 519. 79 0.7525 1193. 9 4.523E+017 534. 82 0.7575 1175. 5 4.483E+017 540. 75 0.7625 643. 1 2.469E+017 545.29 0.7675 1030.7 3.983E+017 549. 48 0.7800 1131.1 4.442E+017 562.99 0.8000 1081.6 4.356E+017 585.12 0. 8160 849. 2 3.489E+017 600.56 0. 8237 785.0 3.255E+017 606.85 0.8315 916. 4 3.836E+017 613. 49 0.8400 959.9 4.059E+017 621.46 0.8600 978. 9 4.238E+017 640, 85 0.8800 933.2 4.134E+017 659. 97 0. 9050 748.5 3.410E+017 680. 99 0. 9150 667.5 3.075E+017 688.07 0.9250 690. 3 3.215E+017 694.86 0.9300 403. 6 1.890E+017 697.60 0, 9370 258.3 1.218E+017 699. 91 0. 9480 313. 6 1.497E+017 703. 06 0.9650 526,8 2.559E+017 710,20 0.9800 646. 4 3.189E+017 719.