ICS17.040.30 J42 备案号：19057-2006 中华人民共和国机械行业标准 JB/T7429—2006 代替JB/T7429-1994 电子塞规 Electronicpluggauges 2006-10-14发布 2007-04-01实施 中华人民共和国国家发展和改革委员会发布 JB/T7429—2006 目 次 前言 1范围 2规范性引用文件 3术语和定义 4型式与基本参数 4.1型式 4.2基本参数 5要求... 5.1外观 5.2相互作用. 5.3测量力.. 5.4材料、硬度和表面粗糙度 5.5绝缘与耐压 5.6 电压波动对示值的影响， 5.7零位平衡. 5.8调零范围 5.9 误差， 5.10 响应时间， 5.11稳定度. 6检验方法.. 6.1检验条件 6.2检验项目、方法和工具， 7检验规则. 7.1出厂检验. 7.2型式检验. 8标志与包装 8.1标志， 8.2包装 图1电子塞规 JB/T7429—2006 前言 本标准代替JB/T74291994《电子塞规》。 本标准与JB/T74291994相比，主要变化如下： 修改了电子塞规的测量范围及其对应测头凸出量（1994年版的表1；本版的表1)； 修改了被测孔的工作间隙（1994年版的表2；本版的表2）； 修改了电子塞规各档示值范围及相应的分度值（1994年版的4.2.3；本版的4.2.3)； 修改了塞规体测头的测量力并删除了允许变化量（1994年版的表4；本版的表3）； 修改了测头测量面的表面粗糙度Ra值（1994年版的5.4，本版的5.4.3）； 修改了电子塞规绝缘与耐压要求（1994年版的5.5，本版的5.5)； 修改了电压波动对示值的影响（1994年版的5.6；本版的5.6）； 修改了零位平衡要求（1994年版的5.7；本版的5.7)； 修改了调零范围（1994年版的5.8；本版的5.8）； 修改了误差要求（1994年版的5.9～5.11；本版的表5）； 删除了抗干扰性要求（1994年版的5.15）； 修改了预热时间要求（1994年版的6.1.3；本版的6.1.3）； 修改了部分项目的检验方法（1994年版的表5；本版的表6）； 增加了检验规则要求（本版的第7章）； 修改了标志与包装要求（1994年版的第7章；本版的第8章）。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国量具量仪标准化技术委员会（SAC/TC132）归口。 本标准由无锡爱锡量仪有限公司和中原量仪股份有限公司负责起草。 本标准主要起草人：王永祥、丁卫耘、古麦仓、汪晓辉、吉光宏。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为： JB/T74291994。 III JB/T74292006 电子塞规 1范围 本标准规定了电子塞规的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志和包装 等。 本标准适用于测量范围为Φ6mm~Φ130mm的两点式电子塞规。 注：其他形式（如三点式）的电子塞规也可参照使用。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的 修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB9969.1-1998工业产品使用说明书总则 GB/T14436—1993工业产品保证文件总则 GB/T17163—1997几何量测量器具术语基本术语（neqBS5233：1986） GB/T17164-1997几何量测量器具术语产品术语 3术语和定义 GB/T17163和GB/T17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。 3.1 电子塞规electronicpluggauges 由电感式传感器将被测孔径的尺寸变化（实际尺寸与标称尺寸之差）转换为电信号，并由指示装置 指示的直接比较测量器具。 3.2 测头对中误差contactvariationagainstcenter-line 3.3 测头对称误差 contactsymmetricdiffcrence 系指位于塞规导套直径上，且触向相反的两测头触点部相对该塞规中心轴线的距离之差而产生的测 量误差。 3.4 测头凸出量contactoutstandrange 系指在自由静止状态下，电子塞规测头触点部至导套圆弧表面素线的距离。 3.5 零位平衡zerobalance 系指指示装置在量程转换时，各档示值对零位的变化量。 4型式与基本参数 4.1型式 电子塞规由塞规体和指示装置组成，其型式见图1所示。图示仅供图解说明，不表示详细结构。 JB/T74292006 指示器、 调零旋钮 00 ?? 导套 a)塞规体 b）指示装置 图1电子塞规 4.2基本参数 4.2.1规格范围及测头凸出量 规格范围及测头凸出量见表1。 表 mm 规格范围 测头凸出量* $6~$15 0.15~0.25 >15～70 0.20~0.50 >70~130 0.25~0.60 ，测头凸出量所列值为双向值，单向值应为所列值的1/2。 4.2.2.工作间隙 将塞规体插人被测孔后，在直径方向上，其导套最大尺寸与被测孔下偏差值间的间隙（工作间隙） 应符合表2所列范围。 2 JB/T74292006 表2 mm 规格范围 间隙（工作间隙） $6~$15 0.020~0.050 >15~70 0.030~0.060 >70~$130 0.040~0.100 4.2.3示值范围及分度值（分辨力） 电子塞规各档示值范围及相应的分度值（分辨力）按以下原则选用。 a）当T≥10时：示值范围≥1.25T、分度值≤T/20 b）当T<10时：示值范围≥100μm、分度值≤T/10。 注：T为被测孔径的公差值（单位为μm）。 5要求 5.1外观 电子塞规各表面不应有锈蚀、碰伤和镀层脱落等缺陷，各种标志应正确、清晰。 5.2相互作用 电子塞规各紧固部分应可靠，测头伸缩灵活，不应有卡滞和松动现象。 5.3测量力 电子塞规的测量力见表3。 表 3 规格范围 测量力 mm N $6$15 ≤2.0 >Φ15~Φ130 5.4材料、硬度和表面粗糙度 5.4.1塞规体导套、测头应选用具有良好耐磨性的材料。 5.4.2导套工作面的表面硬度不应低于664HV（或58HRC），表面粗糙度Ra值不应大于0.8um。 5.4.3测头测量面的表面硬度不应低于766HV（或62HRC），表面粗糙度Ra值不应大于0.1μm。 5.5绝缘与耐压 当直流电压为500V时，电源插座的一个接线端与机壳之间的绝缘电阻不应小于20MQ2；交流电压 为1500V（频率为50Hz）时，耐压试验1min，指示装置不应有被击穿的现象出现（漏电流不应大于1mA）。 5.6电压波动对示值的影响 当电压在额定值的90%～110%范围内波动时，示值的变化量不应大于最小分度值档位的一个分度 值。 5.7 零位平衡 指示装置零位平衡不应大于总量程的5%。 5.8调零范围 指示装置调零范围应大于20um。 5.9误差 5.9.1当T≥10时，测头对中误差、测头对称误差、（电子塞规的）线性误差和示值变动性不应大于表 4的规定。 3 JB/T7429—2006 表4 误差值 误差名称 测头对中误差 T/20 测头对称误差 T/20 线性度误差 T/10 示值变动性 T/10 5.9.2 2当T<10时，测头对中误差、测头对称误差、（电子塞规的）线性误差和示值变动性均不应大于 1μm。 注：T为被测孔径的公差值（单位为μm）。 5.10响应时间 电子塞规的响应时间应小于1s。 5.11稳定度 在环境温度为20℃土2℃，温度变化不应大于0.5℃/h条件下，电子塞规的稳定度不应大于1um/4h。 6．检验方法 6.1检验条件 6.1.1环境温度为20℃土2℃，温度变化不应大于0.5℃/h。 6.1.2电子塞规及检验工具应在同等温度条件下等温4h。 6.1.3电子塞规开机预热时间不应小于10min。 6.2 检验项目、方法和工具 检验项目、检验方法和检验工具见表5。 表5 序号 检验项目 检验方法 检验工具 1 外观、相互作用 目视和手感检验 用固定装置固定塞规体，并使其测头处于自由静止状态，然 后用测力器分别对各测头缓慢加力，读出指示装置示值通过零 2 测量力 固定装置、测力器 位时测力器的读数，取各测头读数的平均值作为该电子塞规的 测量力 用500V的绝缘电阻表（兆欧表），测量电源插座的一个接线 绝缘电阻表、抗电箱或耐 3 绝缘与耐压 端与机壳间的绝缘电阻。然后在50Hz或60Hz的1500V正弦 压试验器 波电压条件下观察1min，不应该击穿（漏电流不应大于1mA） 将电子塞规体垂直插人标准环规中，输人额定电压，调整指 电压波动对示值的 示装置示值为0，将电压在额定值的90%～110%范围内变化， 调压器、电压表、标准环 4 影响 读出示值的最大变化量（指示装置量程开关置于最小分度档规 位) 将塞规体垂直插入标准环规中，在指示装置最小分度档位调 零位平衡 整示值为0，然后依次转换量程开关，观察各档示值对零位的 标准环规 变化量 在指示装置最大分度值档位上，将调零旋钮从一端旋到另- 调零范围 端时，读出示值变化的最大差值 指示装置量程开关置于最小分度档位，将塞规体插人最大值 测头对中误差 标准环规中，并在与塞规测头轴线垂直的方向来回移动塞规 7 标准环规 体，读出示值的最大变化量，将其作为测头对中误差 4