CEI NORME IEC INTERNATIONALE 62374 INTERNATIONAL STANDARD Premiere édition First edition 2007-03 Dispositifsasemiconducteurs Essai de rupturediélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films dielectriques de grille Semiconductor devices Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films IEC Numero de reference Reference number CEI/IEC 62374:2007 Publication numbering Numerotation despublications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEl As from1January 1997all IEc publications are sont numerotees a partir de 60000. Ainsi, la CEl 34-1 issued with_a designation in the 60000 series. For devient la CEl 60034-1. example, IEC 34-1is now referred to as IEC 60034-1. Editions consolidees Consolidated editions The IEc is now publishing consolidated versions of its Les versions consolidees de certaines publications de la CEl incorporant les amendements sont disponibles. Par publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 exemple, les numeros d'édition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent and 1.2 refer,respectively,to the base publication respectivement la publication debase,la publication de the base publication incorporating amendment 1 and base incorporant I'amendement 1, et la publication de the base publication incorporatingamendments base incorporant les amendements 1 et 2. and 2. Informationssupplementaires FurtherinformationonIECpublications surlespublications dela CEl Le contenu technique des publications de la CEl est The technical content of IEC publications is kept constamment revu par la CEl afin qu'il reflete I'état under constant review by the IEC, thus ensuring that actuel de la technique. Des renseignements relatifs a the content reflects current technology. Information cette publication,y compris sa validite, sont dispo- relating to this publication, including its validity. is nibles dans le Catalogue des publications de la CEl available inthe IEC Catalogue of publications (voir ci-dessous) en plus des nouvelles éditions, (see below) in addition to new editions,amendments amendements et corrigenda. Des informations sur les and corrigenda. Information on the subjects under sujets a I'étude et I'avancement des travaux entrepris consideration and work in progress undertaken by the par le comite d'etudes qui a elabore cette publication, technical committee whichhas prepared this ainsi que la liste des publications parues,sont publication, as well as the list of publications issued, egalement disponibles par Il'intermediaire de: is also available from the following: Site web de la CEI (www.iec.ch) IEc Web Site (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEl Catalogue of IEC publications Le catalogue en ligne sur le site web de la CEl The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub)vous permet de faire des (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a recherches en utilisantdenombreux criteres, variety ofcriteria including text searches, comprenant des recherches textuelles, par comite technical committees and date of publication.On- d'études ou date de publication. Des informations en line information is also availableon recently ligne sont egalement disponibles sur les nouvelles issuedpublications, withdrawnand replaced publications, les publications remplacees ou retirees, publications, as well as corrigenda ainsi que sur les corrigenda. IECJustPublished IEC JustPublished Ce resume des dernieres publications parues This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) est aussi dispo- (www.iec.ch/online news/justpub)is also available nible par courrier électronique. Veuillez prendre by email.Please contact the Customer Service contact avec le Service client (voir ci-dessous) Centre (see below)forfurther information pour plus d'informations. Service clients CustomerServiceCentre Si vous avez des questions au sujet de cette f you have any questions regarding this publication ou avez besoin de renseignements publication or need further assistance, pl