ICS33.180 M33 备案号： 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T 11404—2009 酸锂集成光学器件通用规范 General specificationsfor LiNbO, integrated optical devices 2009-11-17发布 2010-01-01实施 S 中华人民共和国工业和信息化部发布 SJ/T114042009 前言 本规范附录A为规范性附录。 本规范由工业和信息化部电子工业标准化研究所归口。 本规范主要起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所。 本规范主要起草人：郭萍、李刚毅、赵英、沈映欣。 AND HO GY 2010 COP OP OPN OP SJ/T114042009 锯酸锂集成光学器件通用规范 1范围 本规范规定了锯酸锂集成光学器件（以下简称“器件”）所需的质量评定程序、检验要求、筛选、 抽样要求、试验和测量方法的内容。 本规范适用于由锯酸锂材料制作的强度调制器、相位调制器、光开关以及用于光纤陀螺的Y波导相 位调制器等，由钼酸锂材料制造的具有类似功能的集成光学器件可参照执行。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的 修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本规范，然而，鼓励根据本规范达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本规范。 GB/T191-2000包装储运图示标志 GB/T2421电工电子产品环境试验第1部分：总则 GB/T2423/1电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T2423.2-电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温 GB/T2423.5>电工电子产品环境试验-第2部分试验方法试验Ea和导则：冲击 GB/T2423.10电工电子产品环境试验第2部分，试验方法试验Fc和导则振动（正弦） GB/T2423.1电工电子产品环境试验 第2部分。试验方法试验Fd：宽频带随机振动一 一一般 要求 GB/T2423.22演工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化 GB/T2423.28电工电子产品环境试验，第2部分：~试验方法试验T！锡焊 GB/T2828.1-2003计数抽样检验程序，第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序第2-4部分：试验光纤/光缆 GB/T18310.4 保持力 GJB128A-1997·半导体分立器件试验方法/ GJB4026-2000锯酸锂集成光学器件通用规范 SJ20869锯酸锂集成光学波导调制器测试方法 3术语和定义 SJ20869已确立的和下列术语和定义适用于本规范。 3. 1 相位调制器phasemodulator 利用器件的电光效应，通过外加电场改变波导中传导光波的相位的器件。 3. 2 强度调制器intensitymodulator 利用器件中的分束器将传导光波分束成两路相干光，经过相位调制器改变两束光波的相位差，通过 合束器使输出光强随外加电信号而改变的器件。 SJ/T114042009 3.3 光开关optical switching 通过外加电场改变传导光波的传播相位，从而使传导光波在两波导间关断或打开。 3.4 Y波导相位调制器Ywave-guide opticaldevice 利用器件中Y形3dB分束器，将传导光波一分为并利用相位调制器对两束光分别进行相位调制的器 件。 3. 5 波形失真度 waveformdistortion Wa 当器件外加调制信号（方波或锯齿波）时，引起输出波形倾斜的失真 3.6 开关电压 switching voltage Von-off 光开关开通和关断时的电压差 3.7 开关串音switchingcrosstalk Kon-off 光开关关断和开通时输出光信号的光功率之比。 3.8 特征阻抗 "characteristic impedance 在一定频率下，施加在器件的端电压和流过该器件的电流之比。 3.9 电反射 electrical.reflection Su1 器件的正向输入电信号与反射电信号之比。 要求 4..1 优先顺序 如本规范与详细规范不一致时，应遵循下列优先顺序 a)详细规范； b）通用规范； c）第2章中所引用文件。 器件分类 4.2 器件分为以下几类： 相位调制器； 强度调制器； 光开关： Y波导相位调制器； 其它。 4.3 光电性能 器件的下列光电性能应满足详细规范规定（各分类器件的相关参数见附录A） SJ/T114042009 工作波长（）； 插入损耗（L） 半波电压（V）； 带宽（B）； 调制消光比（E） 分束比（D） 偏振申音（）； 波形失真度（附）； 开关阵列（A) 开关串音（Kaft） 残余强度调制（M）（要求时） 特征阻抗（z）（要求时) 电反射（Si1）（要求时） 背向光反射（）（要求时）； 开关电压（（要求时） 4.4材料、零部件人 器件所用的材料零部件应符合本规范、详细规范及设计文件的规定。 4.5设计、结构， 器件的设计、结构应符合本规范及详细规范的规定。 4.6 外观质量 外观质量应符合如下规定： a) 器件的标志应规范、完整、清晰； b) 器件的外表面应无肉眼可识别的毛刺、划痕、空洞气泡、沙眼： c) 器件的金属引线应无断裂、扭曲，金属引线根部的玻璃绝缘子无裂 （痕） 损伤等缺陷 d) 连接（粘结》处应牢固。 4.7标志 207 4.7.1器件的标志 每个器件上的标志应符合本规范及详细规范的要求。如器件体积较小应采用下列优先顺序进行标 志： a) 引出端识别标志； b) 检验批识别代码； 型号； c) d) 制造商名称或代号； e) 其它特殊标志。 4.7.2 包装标志 除非另有规定，器件的包装应有下列标志： a) 除4.7.1a）外的所有标志； b) 详细规范号； c) 出厂日期； d) 其它特殊标志。 4.8环境、机械和耐久性 按本规范表2、表3、表4、表5的规定进行。 4.9寿命 SJ/T114042009 按详细规范规定。 4.10°订货资料 除非另有规定，订购资料应包括下列内容： 产品型号、名称； b) 主要参数指标： c) 尾纤的长度、光纤类型及连接方式： (P 外形结构及尺寸； e）其它。 质量评定程序 5.1分类 质量评定程序包括筛选（要求时）、鉴定检验和质量一致性检验、 5.2环境条件 除非另有规定，应按GB/T2421第五章的规定进行。 5.3检验批的构成 5.3.1通则 任何一次提交鉴定检验或质量一致性检验的全部产品构成一个检验批。每一个检验批应由相同型号 的产品组成，或由属于一个或几个详细规范的结构相似的几个检验子批组成。这些产品从开始制造直至 封装为止都应是在同一个承制方的相同的生产线上，在同一个规定的周期内采用相同的生产工艺、按照 相同的产品设计以及相同的材料标准制成的，每个检验批均应具有可识别的标志。 5.3.2检验子批 一个检验子批应由同一个详细规范中一种型号产品构成。这些产品在同一个生产周期内，在相同生 产线上，采用相同的生产工艺、按照相同的产品设计及相同材料标准生产的。 5.3.3结构相似器件 结构相似器件是从开始直到最终封装采用相同的制造工艺，按相同的材料标准，相同的产品设计、 在相同的生产线上制造的仅仅是光电性能不同的器件。 5.4筛选 当详细规范规定了筛选要求时，所有器件可按表1规定进行筛选，并剔除全部有缺陷的器件。若表1 中给出的筛选项目的一部分构成了制造工序的一部分时，则不必重复这些过程。 筛选应在A、B、C组检验前进行。 当表1中规定的筛选项目与已确认的失效机理无关或有矛盾时，可采用未规定的其它筛选项目的试 验。