ICS25.100.70 J43 备案号：49923—2015 中华人民共和国机械行业标准 JB/T12205—2015 普通磨料 陶瓷刚玉 ConventionalabrasiveCeramicalumina 2015-04-30发布 2015-10-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 JB/T12205—2015 目 次 前言. 1范围 规范性引用文件 2 3 代号 4 术语和定义 技术要求.. 5.1 化学成分。 5.2 密度.... 5.3 晶粒尺寸 5.4 粒度组成， 5.5 铁合金粒含量 5.6 磁性物含量 试验方法 6 6.1 化学成分， 密度.. 6.2 6.3 晶粒尺寸 6.4 粒度组成 6.5 铁合金粒和磁性物含量 7检验规则 7.1 样品的抽取 7.2 出厂检验， 7.3 质量监督检验， 8 包装、运输和贮存 附录A（规范性附录） 陶瓷刚玉磨料晶粒尺寸分析方法 A.1 范围.. A.2 样品制备 A.3 扫描电子显微镜分析和图像采集 A.4 截距法测量晶粒尺寸 表1 化学成分 表2粒度段划分及抽样规定 JB/T12205—2015 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。 本标准由中国机械工业联合会提出。 本标准由全国磨料磨具标准化技术委员会（SAC/TC139）归口。 本标准起草单位：山东鲁信高新技术产业有限公司、山东理工大学、天津大学、苏州创元新材料科 技有限公司。 本标准主要起草人： 翟涵、李正民、李志宏、张涛、刘海红、王弱、郭茂欣。 本标准为首次发布。 II JB/T12205—2015 普通磨料 陶瓷刚玉 1范围 本标准规定了陶瓷刚玉的代号、术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则及包装、运输和贮存 本标准适用于溶胶凝胶法生产、氧化铝含量不少于99%（质量分数）、用于制造固结磨具和涂附磨 具等用途的陶瓷刚玉磨料。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T2481（所有部分） 固结磨具用磨料 粒度组成的检测和标记 GB/T 3044 白刚玉、铬刚玉化学分析方法 GB/T 4676 普通磨料 取样方法 GB/T9258 （所有部分） 涂附磨具用磨料 粒度分析 JB/T 6569 普通磨料 包装 JB/T 6570 普通磨料 磁性物含量测定方法 JB/T 11433 普通磨料 密度的测定 3代号 陶瓷刚玉磨料的代号为CA。 4 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 4.1 晶粒尺寸 grainsize 晶粒大小的量度。通常使用长度、面积、体积或晶粒尺寸级别数来表示不同方法评定或测定的晶粒 大小。本标准使用长度来表示晶粒大小，以截距法计算的截距平均值作为晶粒尺寸。 4.2 截距法 去interceptmethod 在晶粒的扫描电子显微镜图像上，统计已知长度的测量网格与晶粒界面相交截部分的截点数，计算 晶粒截距的平均值作为晶粒尺寸，此方法称为截距法。 5技术要求 5.1化学成分 产品的化学成分应符合表1的规定。 1 JB/T12205—2015 表1 化学成分 指标（质量分数） 项目 % fo"v ≥99.00 Na,0 ≤0.15 5.2 密度 各粒度号产品的密度应不小于3.84g/cm。 5.3 晶粒尺寸 各粒度号产品的晶粒尺寸应不大于300nm。 5.4 粒度组成 5.4.1 固结磨具用磨料应符合GB/T2481的规定。 5.4.2 涂附磨具用磨料应符合GB/T9258的规定。 5.5 铁合金粒含量 F30（P36）及以粗各号，以不通过355μm筛的铁合金粒为零；F36～F90（P40～P100）各号，以 不通过粒度检查最底层筛的铁合金粒为零；F100～F220（P120～P220）各号，以不通过粒度检查次底 层筛的铁合金粒为零。 5.6 磁性物含量 产品的磁性物含量不大于0.0018%（质量分数）。 试验方法 6 6.1 化学成分 按GB/T3044规定的方法进行检验。 6.2 密度 按JB/T11433的规定进行检验。 晶粒尺寸 6.3 按附录A的规定进行检验。 6.4 粒度组成 固结磨具用陶瓷刚玉磨料按GB/T2481规定的方法进行检验。 涂附磨具用陶瓷刚玉磨料按GB/T9258规定的方法进行检验。 6.5 铁合金粒和磁性物含量 按JB/T6570的规定进行检验。 2 JB/T12205—2015 检验规则 7.1 样品的抽取 按GB/T4676的规定进行抽样。 7.2 出厂检验 出厂产品应按标准规定进行检验，所有项目全部符合技术要求时，该批产品可判为合格。 7.3 质量监督检验 质量监督检验时，将被检产品划分为不同的粒度段，每个粒度段随机抽取一种代表粒度号进行抽样， 抽样采取一次抽样。粒度段划分及抽样规定见表2。 对抽取的代表试样按本标准中第5章、第6章规定的项目和试验方法进行全项检验，所有项目全部 符合第5章规定的技术要求时判为合格，否则判为不合格。 表2 粒度段划分及抽样规定 粒度段划分 抽取粒度 F4~F36(P12~P36) F40~F80（P40~P80) F90~F150(P100~P150) F180~F220（P180P220） 每个粒度段随机抽取一种粒度号 F230~F360（P240~P360) （F磨料和P磨料应分别抽样） F400~F800（P400~P800） P1 500~P2 500 8 包装、运输和购存 按JB/T6569的规定执行。 3 JB/T12205—2015 附录A （规范性附录） 陶瓷刚玉磨料晶粒尺寸分析方法 A.1范围 本附录规定了陶瓷刚玉磨料晶粒尺寸的测定方法：截距法。 本方法仅适用于平面晶粒，即试样表面显示出的二维晶粒尺寸的测定：不适用于立体晶粒，即试样 三维晶粒尺寸的测定。 A.2 2样品制备 A.2.1取样 按GB/T4676的规定进行取样。 A.2.2样品清洗 取缩分的陶瓷刚玉磨料粉末样品，置于50mL干净烧杯中，加入半杯蒸馏水，烧杯放入超声波清 洗器中，超声振荡5min，将蒸馏水倒掉，烧杯置于烘箱中，用120℃的温度干燥10min，再放到干燥 器中冷却。 A.2.3固定 将清洗过的陶瓷刚玉磨料粉末样品置于干净的载玻片上，通过振动载玻片使样品均匀且致密地单层 分散。 扫描电子显微镜样品台上涂一层导电胶或导电双面胶带，将此样品台面朝下压到载玻片的样品上粘 取样品，使多数颗粒比较平整的表面向上。 A.2.4镀膜 陶瓷刚玉磨料粉末样品不导电，需要通过镀膜仪喷镀一层薄的导电层(如Pt、Cr和Au/Pd等)以减 少扫描电子显微镜分析时的荷电效应。构成导电层的颗粒应尽可能小。 A.3 扫描电子显微镜分析和图像采集 A.3.1扫描电子显微镜分析 陶瓷刚玉磨料平均晶粒尺寸一般在100nm500nm范围内，适合用场发射扫描电子显微镜分析。 A.3.2扫描电子显微镜的操作条件 A.3.2.1 成像模式：高分辨成像模式。 A.3.2.2 加速电压：适合高分辨成像模式，结合待测样品的金属镀层厚度及放电情况而定。 A.3.2.3 样品位置：在扫描电子显微镜制造商指定的样品工作间距范围内，选择形成高清晰度图像的 4