学兔兔 NB/T42068—2016 5.4.3纵波双晶直探头探伤采用的标准试块形状和尺寸见图2和表2。 8×25 250 图2纵波双晶直探头探伤采用的标准试块形状和尺寸 纵波双晶直探头探伤采用的标准试块尺寸 单位：mm 表2 序号 2 3 5 6 7 80 9 - 探测距离L 10 15 20 25 30 35 40 45 5.4.4横波斜探头探伤采用的标准试块的形状和尺寸应符合A.1.4及图A.1的规定。 5.4.5探伤面是曲面时，应采用与工件曲率半径相同或接近（0.7～1.1倍）的对比试块来测定由于曲率 不同而引起的声能损失，其形状和尺寸见图3和表1。 80 80 R为工件曲 率半径的 0.7~1.1倍 图3探伤面为曲面时对比试块的形状和尺寸 5.5耦合剂 5.5.1可采用机油、甘油等透声性能好，且不损害工件的物质作为耦合剂。耦合剂应润湿检测表面并 确保声波传播。 5.5.2在校测和检测中应使用同一种耦合剂。 6探伤时机及准备工作 6.1探伤原则上应安排在最终处理后进行，若因热处理后工件的形状不适于超声探伤，也可将探伤安 排在热处理前，但热处理后，仍应对其进行尽可能完全的探伤。 6.2工件在外观检查合格后，方可进行超声探伤。 学兔兔 NB/T42068—2016 6.3需探伤的转子工件，其外形应尽可能加工成简单的圆柱体形状，避免出现妨碍探伤的锥形、沟 槽、圆弧形过渡区等几何形状 6.4被检表面应能使探头达到良好的耦合效果，应无影响声波传播和探头移动的锈蚀、氧化皮、焊接 飞溅物、油漆、污垢或其他不规则物体。 6.5探伤面的表面粗糙度值Ra应不大于12.5μm。 7 探伤方法 7.1主要探伤方法 7.1.1工件超声探伤以纵波直探头和纵波双晶直探头为主要探伤方法。 7.1.2工件探测距离大于等于1.6倍近场区，应采用纵波直探头。 7.1.3工件探测距离小于1.6倍近场区，应采用纵波双晶直探头。 7.1.4如因受工件形状和缺陷方向的限制，无法单独用纵波探伤进行有效的检测，可采用附录A规定 的横波检验方法。 7.2探测方向 7.2.1对主机工件，原则上应从探测面上两个相互垂直的方向进行，并应尽量扫查到工件的整个 体积。 7.2.2对转子工件，应以径向为主，对工件进行100%扫查 7.3扫查 7.3.1对探伤检测面要选择有规律的扫查路径进行全面并且连续的扫查，相邻两次扫查其重叠部分约 为探头晶片直径的15%。 7.3.2横波探伤检测面及扫查应符合A.2的规定。 7.3.3扫查时，探头移动速度不得大于150mm/s。 7.3.4因工件几何形状所限而扫查不到的区域，应在探伤报告中予以注明。 7.4透声性的测定 将纵波直探头与工件上探测面和底面平行而H无缺陷的部位耦合接触，调节仪器使第次底面回 波幅度达到满刻度的50%，记录此时衰减器的读数，再调节衰减器，使第二次底面回波的幅度达到满 刻度的50%，两次衰减器读数之差即为该测量点的透声性。测量点不得少于3点，以其平均值表示该 区域的透声性。 7.5探伤灵敏度的确定 7.5.1 纵波直探头探伤灵敏度 纵波直探头探伤灵敏度调整的距离一波幅曲线制作。将工件与探测距离等于或最接近该工件厚度 的标准试块相比较，求出透声性补偿值和表面粗糙度补偿值，然后在该试块上测试，使其Φ4mm平底 孔的回波幅度达到满刻度的10%～20%。不改变仪器的参数，对探测距离较小的一系列试块逐一测 试，测出其平底孔回波的最高点，绘在荧光屏上，连接这些点，即可建立距离一幅度曲线。也可用 A、V、G计算法或A、V、G曲线板确定其距离一幅度曲线 7.5.2纵波双晶探头探伤灵敏度 纵波双晶探头探伤灵敏度的调整的距离一波幅曲线制作。测试一组不同探测距离的@4mm平底 孔、调整衰减器，使其中最高的回波幅度达到满刻度的80%。不改变仪器的参数，对探测距离不同的 4 学兔兔 NB/T42068—2016 平底孔逐一测试，将其回波幅度的最高点绘在荧光屏上，连接这些点，即可建立距离一幅度曲线。 7.5.3横波探头探伤灵敏度 横波探头探伤灵敏度调整的距离一波幅曲线制作按A.3的规定。 7.5.4补偿 7.5.4.1表面粗糙度补偿：在探伤和缺陷定量时，应对由于表面粗糙度引起的能量消耗进行补偿。 7.5.4.2透声性补偿：在检测和缺陷定量时，应对透声性引起的探伤灵敏度和缺陷当量的误差进行透声 补偿。 7.5.4.3曲面补偿：对于探测面是曲面的工件，应采用曲率半径与工件相同或接近（0.7倍～1.1倍）的 对比试块来校正，否则应进行适当的曲面补偿。 7.5.5探伤灵敏度要求 探伤灵敏度不得低于最大探测距离处的Φ4mm当量平底孔。 7.6探伤灵敏度的复查或重新校验 7.6.1除每次探伤前调整校验灵敏度外，在下列情况时必须对灵敏度重新校验： a）前次调整校验后，探头、耦合剂及仪器旋钮工作位置发生改变； b）外部电源的电压发生较大波动； c）操作人员怀疑灵敏度有变动； d）连续工作4h以上及探伤工作结束。 7.6.2当灵敏度变化而增益电平降低2dB以上时，应对上一次校准以来所检查的工件进行复探；当增 益电平升高2dB以上时，应对所有记录缺陷进行重新评定。 8缺陷检测 8.1记录缺陷 8.1.1凡出现下列任何一种显示的缺陷，都应做出记录： a）反射回波幅度等于或高于距离一波幅曲线的缺陷； b）在探伤灵敏度下，引起工件第一次底面回波消失的缺陷； c）出现平面型缺陷显示，并被探伤人员判定为危害性的缺陷。 8.2缺陷尺寸的测定 8.2.1当缺陷回波幅度等于或高于距离一波幅曲线者，用6dB法在探伤面上画出缺陷的范围。其在T 件厚度方向的尺寸，可由不同方向检测所确定的缺陷上部和下部边界确定。 8.2.2凡是因存在缺陷，而使底面回波消失者，其边缘应从探测面上底面反射波刚好消失时的探头中心 算起到出现底面反射波时的探头中心为止。缺陷的深度由一组连续缺陷回波最左侧的波峰位置确定。 8.2.3单个缺陷的面积以该缺陷的最大尺寸与其在垂直方向的最大尺寸之积计算。 8.2.4当多个缺陷且缺陷间距小于其中较大缺陷直径时，两缺陷可折合为一个缺陷，缺陷面积按实测计。 8.2.6对于有疑问的缺陷，也可采用其他行之有效的方法来进行验证。 9缺陷等级分类 9.1缺陷评定 在检测区域内，主机工件不允许有裂纹、气孔、缩松、缩孔和夹渣等缺陷；转了工件不允许有裂 纹、白点、缩孔等缺陷。缺陷评定要求为： 5 学兔兔 NB/T42068 32016 缺陷在工件厚度方向的尺寸不得大于壁厚的1/8。 缺陷所在截面积指探测到缺陷部位的最小剖截面积；对于空心轴工件，其截面积应按实心轴 计算。 9.2 缺陷等级分类 工件的单个平面型缺陷等级分类应符合表3规定；多个平面型面积类缺陷等级分类应符合表4 规定。 表3单个平面型缺陷等级分类 单位：mm 等级 - 2 3 4 缺陷当量直径d d<4 4≤dk5 5≤d<6 d≥6 4多个平面型面积类缺陷等级分类 单位：mm 表4 等级 缺陷面积规模 - 缺陷面积小于等于缺陷所在截面积的5% 缺陷面积小于等于缺陷所在截面积的10% 3 缺陷面积小于等于缺陷所在截面积的15% 4 缺陷面积小于等于缺陷所在截面积的20% 5 缺陷面积小于等于缺陷所在截面积的25% 6 缺陷面积大于缺陷所在截面积的25% 10 探伤报告 探伤报告应包括以下内容： 委托探伤的单位，探伤报告编号，签发日期； a) b) 铸钢件的名称、编号、材料牌号、热处理状态、探伤面的表面粗糙度、透声性、工件尺寸草图； c) 超探仪的型号、探头型号、探伤频率、耦合剂、探伤灵敏度； d) 在草图上，标明检测区域。如有因几何形状限制而检测不到的部位，也应在草图上标明； e) 缺陷的类型（点状缺陷、延伸性缺陷、平面缺陷）、尺寸和位置； f) 缺陷等级和探伤结论； 探伤人员和审核人员签字。探伤人员的资格证书、等级、姓名和探伤日期。 g) 6 学兔兔 NB/T42068—2016 附录A （规范性附录） 横波检验 A.1检测设备 仪器和探头的性能应符合5.1、5.2及5.3的要求。 A.1.11 仪器和探头的组合灵敏度余量在达到所探工件最大检测声程时不得低于10dB。 A.1.2 A.1.3 仪器和探头的组合的分辨力不得低于15dB。 A.1.4 校正试块的形状和尺寸见图A.1和表A.1。 40 (3/4)t 001 400 图A.1 校正试块的形状和尺寸 单位：mm 表A.1 校正试块的尺寸数据 校正试块厚度1 孔径中 材料公称厚度 ≤25 25 3.0 50 3.0 25~50 50~100 100 4.0 100~150 150 6.0 150~200 200 6.0 A.2扫查 横波斜探头探伤至少要沿探伤面上相互垂直的两个方向进行扫查。在扫查的同时，应不断偏转探 头，偏转角度不得少于15°。 A.3距离一幅度曲线的制作 利用图A.1所示的基本校正试块，采用斜探头，探测试块深度位置分别为T/4、T/2、3T/4的横 孔，并在荧光屏上分别标记各个波幅点，连接这些点就得到距离一波幅曲线。 A.4 缺陷记录 凡出现下列任何一种显示的缺陷，都应做出记录： NB/T42068—2016 反射回波幅度等于或高于距离一波幅曲线的缺陷； b) 在探伤灵敏度下，引起工件第--次底面回波消失的缺陷； c） 出现平面型缺陷显示，并被探伤人员判定为危害性的缺陷； (P 探伤人员认为有必要记录的危害性缺陷。 A.5验收标准 验收标准应由供需双方商定。 A.6 探伤报告 探伤报告应符合第10章的规定。 NB/T42068—2016 反射回波幅度等于或高于距离一波幅曲线的缺陷