ICS81.060.30 Q32 JC 中华人民共和国建材行业标准 JC/T2525—2019 气体放电管用氧化铝陶瓷管 Aluminaceramictubeforgasdischarge 2019-05-02发布 2019-11-01实施 中华人民共和国工业和信息化部发布 JC/T25252019 前言 本标准按照GB/T1.1一2009给出的规则起草， 本标准由中国建筑材料联合会提出。 本标准由全国工业陶瓷标准化技术委员会（SAC/TC194)）妇口， 本标准起草单位：湖南省新化县鑫星电子陶瓷有限责任公司、中国科学院上海硅酸盐材料研究所、 东莞市新铂铁电子有限公司。 本标准主要起草人：曹建平、培福、吴涛、蒋丹宇， 本标准为首次发布， I JC/T2525—2019 气体放电管用氧化铝陶瓷管 1范围 本标准规定了气体放电管用氧化铝陶瓷管的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、 包装、运输和贮存等、 本标准主要适用于气体放电管用氧化铝陶瓷管（以下简称产品），其他材质的气体放电管产品也可参 照执行。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的，凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。 凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。 GB/T1031产品几何技术规范（GPS）表面结构轮廓法表而粗糙度参数及其数值 GB/T 1804 一般公差未注公差的线性和角度尺寸的公差 GB/T2413 压电陶瓷材科体积密度检测方法 GB/T2828.1 计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T4734 陶瓷材料及制品化学分析方法 GB/T5593—2015 电子元器件结构陶瓷材料 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法 GB/T5594.1 GB/T 5594.3 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法 GB/T5594.4 电子元器件结构隔瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值 的测试方法 GB/T 5594. 5 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 GB/T5594.6 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分：化学稳定性测试方法 GB/T5594.7 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第7部分：透液性测定方法 GB/T 5594.8 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定 GB/T 6569 精细陶瓷曲强度试验方法 GB/T9531.1 电子陶瓷零件技术条件 3术语和定义 GB/T9531.1界定的术语和定义适用于本文件。 4技术要求 4.1产品用陶瓷材料 产品用购瓷材料的理化性能应符合表1的规定， 1 JC/T2525—2019 表1 陶资材科的理化性能指标 项目 性能指标 氧化铝含量/% 293 体积密度/(g/cm） ≥3. 62 透液性 通过 抗折强度/QIPa) >280 抗热震性 通过 线影账系数(20℃~500℃)/(1/K) 6.5×10*~7.5×10* 介电带数(1Mz，20℃) 0T~6 介质损耗角正切值（1z，20℃） ≤4×10 1:9 HC1 ≤7. 0 化学稳定性/(mg/cn)） HOEN%OT ≤0. 2 击穿强度(D.C.)/(kV/m) ≥15 体积电阻率（100C)/(α·cm) ≥10" 气密性/(Pa·n/s) 通过 晶粮大小/m 5~20 4.2 产品结构尺寸和公差 产品尺寸和公差应符合合同规定图纸要求，图纸中未注公差应符合GB/T1804中M级的要求， 高度 A→ 外径 刮面A-A 图1 圆形金属化瓷管结构示意图 2 JC/T25252019 长 内宽 高度 图2 方形金属化瓷管结构示意图 4.3 产品外观质量 4.3.1 一般要求 表面不应存在裂纹、缺转、生烧、过烧、色调不一致、夹层。 4.3.2封接部位 4.3. 2.1 不应存在深度大于0.05的凹坑、划痕；不应有毛刺， 4.3.2.2 瓷件封接部位其他缺陷值符合表2数值， 表2 封接部位外观缺陷接收值 快损 牛孔 外径 封接面宽度 单面总个数 平 套封 m 个 直径 深度 宽 长 深 文 长 深 RE tm ≤10 ≤2.5 0 0 ≤0.2 ≤0.2 ≤0.05 ≤0.2 ≤0.3 ≤0.05 ≤2 ≤2.5 0 0 ≤0.2 ≤0. 2 ≤0.05 ≤0. 2 ≤0.3 ≤0. 05 ≤2 91~01< >2.5 0 0 ≤0.3 ≤0.4 ≤0.05 ≤0.2 ≤0.3 ≤0.05 ≤2 ≤2.5 ≤0.1 ≤0.1 ≤0.4 ≤0.5 ≤0, 1 ≤0.3 ≤0.5 ≤0.1 ≤2 0-91< >2.5 ≤0.1 ≤0.1 ≤0.4 ≤0.6 ≤0.1 ≤0.4 ≤0.6 ≤0.1 4 ≤4 40.2 ≤0.2 ≤0.5 ≤0.8 0.1 ≤0.3 ≤0.8 ≤0.1 4 >40~100 >4~6.3 ≤0.2 ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0 ≤0.2 ≤0.5 ≤1.0 ≤0.2 64 >6.3 ≤0.2 ≤0.2 ≤0.6 ≤1.0 ≤0.2 ≤0.8 ≤1.0 ≤0.2 ≤6 注1：单项缺陷个数不得超过单面总个数的一半。 注2：锯售形的小缺口不作考核， 4.3.3非封接部位