Entwurf DEUTSCHE NORM April 2017 DIN DINEN62884-2 ICS31.140 Einspruche bis 2017-05-10 Vorgesehen als Ersatz fur DINEN 60679-6:2011-12 Entwurf Messverfahrenfurpiezoelektrische,dielektrische undelektrostatische Oszillatoren Teil 2: Messverfahren fur Phasenjitter (IEC 49/1197/CD:2016) Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators- Part 2:Phase jitter measurement method (IEC49/1197/CD:2016) Anwendungswarnvermerk Dieser Norm-Entwurf mit Erscheinungsdatum 2017-03-10 wird der Offentlichkeit zur Prufung und Stellungnahme vorgelegt. Weil die beabsichtigte Norm von der vorliegenden Fassung abweichen kann, ist die Anwendung dieses Entwurfs besonders zu vereinbaren. Stellungnahmenwerden erbeten vorzugsweise online im Norm-Entwurfs-Portal von DIN unter www.din.de/go/entwuerfe bzw. fur Norm- Entwirfe der DKE auch im Norm-Entwurfs-Portal der DKE unter www.entwuerfe.normenbibliothek.de, sofern dort wiedergegeben; kann im Internet unter www.din.de/go/stellungnahmen-norm-entwuerfe oder fur Stellungnahmen zu Norm- Entwurfen der DKE unter www.dke.de/stellungnahme abgerufen werden; oder in Papierform an die DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE, Stresemannallee 15, 60596 Frankfurt am Main. Die Empfangerdieses Norm-Entwurfs werdengebeten,mit ihren Kommentaren jegliche relevanten Patentrechte, die sie kennen, mitzuteilen und unterstutzende Dokumentationen zur Verfugung zu stellen. Gesamtumfang 47 Seiten DKEDeutscheKommissionElektrotechnikElektronikInformationstechnikinDINundVDE DIN Deutsches Institut fur Normu ung e. V. · Jede Art der Vervielfa Preisgruppe 16 Alleinverkauf der Normen durch Beuth Verlag GmbH, 10772 Berlin www.din.de www.beuth.de 2632430 Entwurf. EDINEN62884-2:2017-04 Inhalt Seite Nationales Vorwort. 4 1 Anwendungsbereich 2 NormativeVerweisungen. 3 Begriffe 3.1 Allgemeines 8 3.2 Definitionen 8 4 Pruf-und Messverfahren. 8 4.1 Prufverfahren fur Phasenjitter 4.1.1 Messung im Zeitbereich. 8 4.1.2 Messung im Datenbereich.. 4.1.3 Messung im Frequenzbereich. 9 4.2 Eingangs- und Ausgangsimpedanzen des Messsystems. 12 4.3 Messeinrichtung 13 4.3.1 Grundjitter 13 4.3.2 Ausgangwellenform. 4.3.3 Ausgangsspannung. 13 4.4 Messfassung . 13 4.5 Kabel,Gerate, Instrumente usw 13 5 Messung undMessumgebung 14 5.1 AufbauvorDurchfuhrung der Messungen 14 5.2 Fur die Zeit der Messung zu berucksichtigende Punkte 4 5.3 Behandlung nach der Messung. 14 6 Messung. 14 6.1 Bezugstemperatur 14 6.2 Messung der Temperatur-Kennlinie. 14 6.3 Messung bei Vibration 14 6.4 Messung zumStolszeitpunk 14 6.5 Messung fur beschleunigte Alterung .. 15 7 Weitere zu berucksichtigende Punkte. 15 8 Verschiedenes.. 15 Anhang A (normativ) Verfahren zur Berechnung der Phasenjitteranzahl . 16 A.1 Einleitung... 16 A.2 Erklarung . 16 A.3 Beziehung zwischen Phasenrauschen und Phasenjtter 16 A.4 Kommentar. 18 A.4.1 Entstehungsgeschichte und Bemerkungen.. 18 A.4.2 Theoretische Positionierung von Phasenjitter 18 A.5 Beschreibung 61 2 Entwurf. E DIN EN 62884-2:2017-04 Seite A.5.1 Effektivjitter A.5.2 Spitze-Spitze-Jitter .20 A.5.3Zufalliger Jitter A.5.4 Deterministischer Jitter A.5.5 Periodenjtter (periodischer Jitter) .20 A.5.6 Datenabhangiger Jitter.. .21 A.5.7 Gesamt-Jitter. ..21 A.6 Fur die Messung zu berucksichtigende Punkte .21 A.6.1 Messeinrichtung. 21 A.6.2 FaktorenfurMessfehler ..23 Literaturhinweise 24 Bilder Bild 1-Phasenjitter-Messung mit Sampling-Oszilloskop. .9 Bild 2-Blockschaltbild eines Jitter-und Wanderanalysators nach ITU-T O.172 .11 Bild 3- Ersatz-Blockschaltbild . ..12 Bild A.1-Diagramm des SSB-Phasenrauschens ..17 Bild A.2 - Spannung versus Zeit. .19 Bild A.3-Darstellung der auf den Effektivjitterangewandten Jitteranzahl. ..22 Bild A.4 -Darstellung von zufalligem Jitter, deterministischem Jitter und Gesamt-Jitter ..22