(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221573081.0 (22)申请日 2022.06.22 (73)专利权人 福建兆元光电有限公司 地址 350109 福建省福州市闽侯县南屿镇 生物医药和机电产业园区 (72)发明人 黄章挺　 (74)专利代理 机构 福州市博深专利事务所(普 通合伙) 35214 专利代理师 林怡然 (51)Int.Cl. G01N 3/08(2006.01) G01N 3/02(2006.01) G01L 5/00(2006.01) (54)实用新型名称 一种LED芯片断晶推力测试装置 (57)摘要 本实用新型涉及LED芯片断晶推力测试技术 领域， 特别涉及一种LED芯片断晶推力测试装置， 包括操作台， 操作台上设有导轨机构和推力测试 机构， 导轨机构上滑动连接有芯片装载机构， 芯 片装载机构沿其滑动方向上设有两个以上的芯 片放置槽， 芯片放置槽中设有背光芯片， 推力测 试机构位于背光芯片的正上方， 这样在要进行背 光芯片的推力测试时， 先将背光 芯片放在芯片放 置槽中， 推动芯片装载机构， 使得其中一个芯片 放置槽位于推力测试机构的正下方， 推力测试机 构从背光芯片的中间下压， 背光 芯片断裂时的推 力值就是背光芯片的断晶推力， 当测试完一颗背 光芯片的推力值后， 将芯片 装载机构继续向前推 就可以测试 下一颗背光芯片的推力值。 权利要求书1页 说明书4页 附图3页 CN 218036068 U 2022.12.13 CN 218036068 U 1.一种LED芯片 断晶推力测试装置， 其特征在于， 包括操作台， 所述操作台上设有导轨 机构和推力测试机构， 所述导轨机构上滑动连接有芯片装载机构， 所述芯片装载机构沿其 滑动方向上设有两个以上 的芯片放置槽， 所述芯片放置槽中设有背光芯片， 所述推力测试 机构位于背光芯片的正上 方。 2.根据权利要求1所述的LED芯片断晶推力测试装置， 其特征在于， 所述芯片装载机构 包括装载板， 所述装载板的一端面向内凹陷形成装载槽， 所述装载槽内设有芯片装载器， 所 述装载槽的形状与芯片装载器的形状相适配， 所述芯片放置槽设置在芯片装载器上， 所述 装载板的另一端面设有缺口， 所述 缺口与装载槽相通。 3.根据权利要求1所述的LED芯片断晶推力测试装置， 其特征在于， 所述导轨机构包括 滑动板， 所述滑动板的一端面向内凹陷形成安装槽， 所述安装槽的相对两槽壁上对称开设 有供芯片装载机构滑动的滑动槽 。 4.根据权利要求1所述的LED芯片断晶推力测试装置， 其特征在于， 所述芯片放置槽的 尺寸大于背光芯片的尺寸。 5.根据权利要求1所述的LED芯片断晶推力测试装置， 其特征在于， 两个以上的所述芯 片放置槽等间距排布。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 218036068 U 2一种LED芯片断晶 推力测试装 置 技术领域 [0001]本实用新型涉及LED芯片断晶推力测试技术领域， 特别涉及一种LED芯片断晶推力 测试装置 。 背景技术 [0002]LED(英文全称为Light  Emitting  Diode)即发光二极管， 是一种电能转化为光能 的固态半导体器件。 作为新型的发光器件， LED具有高光效、 节能、 使用寿命长、 响应时间短、 环保等优点， 因此被称为最有潜力的新一代光源， 在照明领域应用领域极为常见。 LED芯片 按用途分为照明、 背光、 数码等类别， 近年来背光芯片的市场逐步扩大， 背光芯片的设计都 是长条形， 此种设计结构的芯片容易断裂， 所以对于此类芯片来说断晶推力是评估芯片的 重要参数， 有基于此本设计提出一种测试背光芯片断晶推力的装置 。 实用新型内容 [0003]为了克服上述现有技术的缺陷， 本实用新型所要解决的技术问题是： 提供一种测 试背光芯片断晶推力的装置 。 [0004]为了解决上述 技术问题， 本实用新型采用的技 术方案为： [0005]一种LED芯片断晶推力测试装置， 包括操作台， 所述操作台上设有导轨机构和推力 测试机构， 所述导轨机构上滑动连接有芯片装载机构， 所述芯片装载机构沿其滑动方向上 设有两个以上 的芯片放置槽， 所述芯片放置槽中设有背光芯片， 所述推力测试机构位于背 光芯片的正上 方。 [0006]进一步的， 所述芯片装载机构包括装载板， 所述装载板 的一端面向内凹陷形成装 载槽， 所述装载槽内设有芯片装载器， 所述装载槽的形状与芯片装载器的形状相适配， 所述 芯片放置槽设置在芯片装载器上， 所述装载板的另一端面设有缺口， 所述缺口与装载槽相 通。 [0007]进一步的， 所述导轨机构包括滑动板， 所述滑动板的一端面向内凹陷形成安装槽， 所述安装槽的相对两 槽壁上对称开设有供芯片装载机构滑动的滑动槽 。 [0008]进一步的， 所述芯片放置 槽的尺寸大于背光芯片的尺寸。 [0009]进一步的， 两个以上的所述芯片放置 槽等间距排布。 [0010]本实用新型的有益效果在于： [0011]通过设置在操作台上设置导轨机构和推力测试机构， 导轨机构上滑动连接有芯片 装载机构， 芯片装载机构沿其滑动方向上设有两个以上 的芯片放置槽， 芯片放置槽中设有 背光芯片， 推力测试机构位于背光芯片的正上方， 这样在要进 行背光芯片的推力测试时， 先 将背光芯片放在芯片放置槽中， 推动芯片装载机构， 使得其中一个芯片放置槽位于推力测 试机构的正下方， 推力测试机构从背光芯片的中间下压， 背光芯片断裂时的推力值就是背 光芯片的断晶推力， 当测试完一颗背光芯片的推力值后， 将芯片装载机构继续向前推就可 以测试下一颗背光芯片的推力值。说　明　书 1/4 页 3 CN 218036068 U 3