(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202110209197.X (22)申请日 2021.02.24 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 112861459 A (43)申请公布日 2021.05.28 (73)专利权人 清华大学 地址 100084 北京市海淀区清华园 (72)发明人 叶佐昌　王燕　胡文菲　 (74)专利代理 机构 北京清亦华知识产权代理事 务所(普通 合伙) 11201 专利代理师 韩海花 (51)Int.Cl. G06F 30/337(2020.01) G06F 30/27(2020.01) G06K 9/62(2022.01)G06N 3/04(2006.01) G06N 3/08(2006.01) G06F 111/08(2020.01) G06F 111/14(2020.01) G06F 115/10(2020.01) (56)对比文件 CN 110046365 A,2019.07.23 CN 10134 4898 A,20 09.01.14 CN 107729589 A,2018.02.23 CN 111581909 A,2020.08.25 US 2013246986 A1,2013.09.19 张峰等.可靠性灵敏度分析的自适应 重要抽 样法. 《工程力学》 .20 08,第25卷(第04期),第80 - 84页. 审查员 刘栩宏 (54)发明名称 全灵敏度对抗重要性抽样产量优化方法和 装置 (57)摘要 本申请提出一种全灵敏度对抗重要性抽样 产量优化方法和装置， 涉及数据处理技术领域， 其中， 方法包括： 获取电路的网表文件和模型文 件， 将网表文件和模型文件输入外部优化器； 分 析在电路设计参数下所述电路的性能指标， 根据 性能指标计算良率； 将良率发给所述外部优化 器， 以使外部优化器判断良率是否满足预设条 件， 若不满足， 基于灵敏度更新电路设计参数， 直 到生成的电路的良率满足预设条件； 获取电路的 良率满足预设条件时对应的电路设计参数设计 电路。 由此， 基于灵敏度避免了外部优化过程中 的抽样。 同时提出了一种快速灵敏度重要性抽样 的良率分析方法， 以消除重要性采样中寻找最优 均值偏移向量和后续采样中的抽样。 权利要求书2页 说明书11页 附图3页 CN 112861459 B 2022.10.04 CN 112861459 B 1.一种全灵敏度对抗重要性抽样产量优化方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： 获取电路的网表文件和模型文件， 将所述网表文件和所述模型文件输入外 部优化器； 分析在电路设计参数 下所述电路的性能指标， 根据所述 性能指标计算良率； 将所述良率发送给所述外部优化器， 以使所述外部优化器判断所述良率是否满足预设 条件， 若不满足， 基于灵敏度更新所述电路设计参数， 直到生成的所述电路的良率满足所述 预设条件； 获取所述电路的良率满足所述预设条件时对应的电路设计参数设计所述电路； 所述根据所述 性能指标计算良率， 包括： 获取所述性能指标的概 率密度函数； 根据灵敏度重要性采样算法对所述性能指标进行处理， 获取最临近失效点， 其中， 在根 据所述灵敏度重要性采样算法获取所述最临近失效点时， 工艺参数满足必须在失效区域的 限制条件为： 其中， xp为工艺参数， xd为设计参数， fi为第i个失效条件， 由设计参数xd和工艺参数xp共 同决定， 为第i个失效边界值， 任一个失效条件被满足， 对应采样点 为失效点； 根据所述最临近失效点对所述概率密度函数进行转移处理， 获取转移后的概率密度函 数， 并根据所述 转移后的概 率密度函数， 用一阶替代模型 预估所述电路的性能指标。 2.如权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述电路的性能指标包括但不 限于增益、 带 宽和功耗中的一种或者多种。 3.如权利要求1所述的方法， 其特 征在于， 所述转移后的概 率密度函数为q(xp)转换为多个概 率分布p(xp,0‑xp,opt,j)的按权相加； 其中， xp,0为工艺参数中心点， xp,opt,j为第j个失效区域的最临近失效点， αj为对应的权 重， t为失效区域个数， 求 解公式(1)和(2)获取 所述最临近失效点， 计算所述良率。 4.一种全灵敏度对抗重要性抽样产量优化装置， 其特 征在于， 包括： 获取生成模块， 用于获取电路的网表文件和模型文件， 将所述网表文件和所述模型文 件输入外 部优化器； 分析模块， 用于分析在电路设计参数 下所述电路的性能指标； 计算模块， 用于根据所述 性能指标计算良率； 发送判断模块， 用于将所述良率发送给所述外部优化器， 以使所述外部优化器判断所 述良率是否满足预设条件， 若不满足， 更新所述电路设计参数， 直到生成的所述电路的良率 满足所述预设条件； 获取模块， 用于获取所述电路的良率满足所述预设条件时对应的电路设计参数设计所权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 112861459 B 2述电路； 所述计算模块具体用于： 获取所述性能指标的概 率密度函数； 根据灵敏度重要性采样算法对所述性能指标进行处理， 获取最临近失效点， 其中， 在根 据所述灵敏度重要性采样算法获取所述最临近失效点时， 工艺参数满足必须在失效区域的 限制条件为： 其中， xp为工艺参数， xd为设计参数， fi为第i个失效条件， 由设计参数xd和工艺参数xp共 同决定， 为第i个失效边界值， 任一个失效条件被满足， 对应采样点 为失效点； 根据所述最临近失效点对所述概率密度函数进行转移处理， 获取转移后的概率密度函 数， 并根据所述 转移后的概 率密度函数， 用一阶替代模型 预估所述电路的性能指标。 5.如权利要求4所述的装置， 其特征在于， 所述电路的性能指标包括但不 限于增益、 带 宽和功耗中的一种或者多种。 6.如权利要求 4所述的装置， 其特 征在于， 所述转移后的概 率密度函数为q(xp)转换为多个概 率分布p(xp,0‑xp,opt,j)的按权相加； 其中， xp,0为工艺参数中心点， xp,opt,j为第j个失效区域的最临近失效点， αj为对应的权 重， t为失效区域个数， 求 解公式(1)和(2)获取 所述最临近失效点， 计算所述良率。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 112861459 B 3