(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111484974.8 (22)申请日 2021.12.07 (66)本国优先权数据 202111163822.8 2021.09.3 0 CN (71)申请人 佛山市中研非晶科技股份有限公司 地址 528000 广东省佛山市南海区里 水和 桂工业园B区顺景 大道15号 (72)发明人 肖育咏　张继超　张志臻　黄旭文　 (74)专利代理 机构 广州科粤专利商标代理有限 公司 44001 代理人 庞伟健　谭健洪 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) G06F 17/18(2006.01) G06F 119/04(2020.01) (54)发明名称 一种基于损耗值模拟测试筛 选铁芯的方法 (57)摘要 本发明公开了一种基于损耗值模拟测试筛 选铁芯的方法， 其步骤， S1、 将单匝闭环的铁芯放 置在测试架上， 铁芯固有的饱和磁通密度为Bs， 设定铁芯的工作磁通密度为Bm， 且Bm≤Bs； S2、 将 数据采集装置的两个测试夹分别经铁芯两端穿 入铁芯内并相互夹紧， 使夹紧后的测试夹保留在 铁芯内； 通过数据采集装置采集铁芯的串联电感 Ls和品质因数Q， 并记录为字符串信息； S3、 使数 据处理装置与数据采集装置通信连接， 将步骤S2 的字符串信息写入、 读取， 将字符串信息转化为 数值信息； S4、 数据处理装置读取步骤S3的数值 信息， 基于计算公式A对铁芯进行在工作磁通密 度Bm值下的损耗值P； S5、 将步骤S4计算所得的损 耗值P在损耗 值P范围内的铁芯筛 选出来。 权利要求书2页 说明书6页 附图3页 CN 114154336 A 2022.03.08 CN 114154336 A 1.一种基于损耗 值模拟测试筛 选铁芯的方法， 其特 征在于： 包括如下步骤， S1、 将单匝闭环的铁芯放置在测试架上， 所述铁芯固有的饱和磁通密度为Bs， 设定所述 铁芯的工作磁通密度为Bm， 且Bm≤Bs； S2、 将数据采集装置的两个测试夹分别经铁芯两端穿入铁芯内并相互夹紧， 使夹紧后 的测试夹保留在铁 芯内； 通过数据采集装置采集所述铁 芯的串联电感Ls和品质因数Q， 并记 录为字符串信息； S3、 使所述数据处理装置与数据采集装置通信连接， 将步骤S2的字符串信息写入至数 据处理装置， 经 数据处理装置读取， 将字符串信息转 化为数值信息； S4、 所述数据处理装置读取步骤S3的数值信息， 基于计算公式A对铁芯进行在工作磁通 密度Bm值下的损耗 值P， 其计算公式A如下： 式中， Bm为工作磁通密度， L s是铁芯的电感， Le是铁芯磁路的等效长度， Ae是铁芯的等效 截面积， Q是铁芯的品质因数， π 是圆周率， ρ 为铁芯的密度， f为设定数据采集装置频率。 S5、 基于设定的损耗值P范围， 将步骤S4计算所得的损耗值P在所述损耗值P范围内的铁 芯筛选出来。 2.如权利要求1所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法， 其特征在于， 所述数据处 理装置内设定有用于将字符串信息转 化为数值信息的数据采集 程序。 3.如权利要求2所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法， 步骤S3包括如下步骤， 所 述数据采集程序工作界面的通讯端口、 波特率、 比特率的设定与所述数据采集装置的通讯 端口、 波特率、 比特率的设定一 致， 使所述数据处 理装置与数据采集装置通信连接 。 4.如权利要求3所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法， 其特征在于， 步骤S3还包 括： S31、 将数据采集装置的字符串信息写入数据采集程序后， 所述数据采集程序对所述字 符串信息进行读取； S32、 所述数据采集程序将该字符串信息进行拆分成两段字符串信息， 两段字符串信息 之间设置有分隔符进行分隔， 所述分隔符前的字符串信息为串联电感Ls的字符串信息， 所 述分隔符后的字符串信息为品质因数Q的字符串信息； S33、 将步骤S32中串联电感Ls的字符串信息通过转化为串联电感Ls的数值信息； 将步 骤S32中品质因数Q的字符串信息通过转 化为品质因数Q的数值信息； S34、 将步骤S3 3所得的数值信息通过显 视控件显示。 5.如权利要求4所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法， 其特征在于， 所述步骤 S31还设定有字符串信息总量， 读取到所述字符串信息总量后就停止读取。 6.如权利要求4所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法， 其特征在于， 所述步骤 S32中， 设定有第 一字符串长度X1和第二字符串长度 X2， 所述字符串信 息的长度通过所述分 隔符分隔成两个长度的字符串信息， 所述分隔符前的字符串信息的长度为所述第一字符串 长度X1， 所述分隔符后的字符串信息的长度为 所述第二字符串 长度X2， 先读取所述分隔符前 的所述第一字符串长度X1的字符串信息， 将其记录为所述串联电感Ls的字符串信息， 再读 取所述分隔符后的所述第二字符串长度X2的字符串信息， 将其记录为所述品质因数Q的字权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114154336 A 2符串信息 。 7.如权利要求6所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法， 其特征在于， 还包括所述 第一字符串长度X1和第二字符串 长度X2的校验方法， 所述 校验方法包括： 先 设定第一 预设字 符串长度X10和第二预设字符串长度X20， 通过第一预设字符串长度X10和第二预设字符串长 度X20对所述字符串信息进行拆分获得两段字符串信息， 将分隔符前的字符串信息设定 为第 一字符串信息， 将分隔符后的字符串信息设定为第二字符串信息， 并将第一字符串信息和 第二字符串信息分别转化为第一数值信息和 第二数值信息， 再来判断第一数值信息和 第二 数值信息是否与数据采集装置上显示的串联电感Ls的数值和品质因数Q的数值相等， 当判 断为是时， 则第 一预设字符串长度 X10即为第一字符串长度 X1、 第二预设字符串长度 X20即为 第二字符串长度X2， 当判断为否时， 则修改第一预设字符串长度X10的长度值和第二预设字 符串长度X20的长度值， 再次进行检验。 8.如权利要求6所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法， 其特征在于， 步骤S33中， 将所述字符串信息的长度为所述第一字符串长度X1的字符串信息转化为数值信息， 即得到 串联电感Ls的数值信息； 将所述字符串信息的长度为所述第二字符串长度X2的字符串信息 转化为数值信息， 即得到品质因数Q的数值信息 。 9.如权利要求1所述的基于损耗值模拟测试筛选铁芯的方法， 其特征在于， 所述数据采 集装置为 LCR测试仪 。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114154336 A 3