(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210158003.2 (22)申请日 2022.02.21 (71)申请人 上海天马微电子有限公司 地址 201201 上海市浦东 新区汇庆路889号 (72)发明人 殷福海　张腾　 (74)专利代理 机构 北京品源专利代理有限公司 11332 专利代理师 李彩玲 (51)Int.Cl. G01M 11/02(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 一种光学测试装置及方法 (57)摘要 本发明实施例公开了一种光学测试装置及 方法， 包括： 第一腔体为温度控制箱， 温度控制箱 内设置有承 载至少两个待测样品光学平台， 温度 控制箱在对待测样品进行光学测试时将待测样 品调整为预设温度； 第一腔体和第二腔体之间通 过隔板隔开， 隔板设置有与待测样品对应的第一 通孔以及与第一通孔一一对应的开关单元， 开关 单元在光学测试阶段依次打开对应的第一通孔， 在非光学测试阶段关闭对应的第一通孔； 第二腔 体内包括光学测试单元和运动机构， 运动机构带 动光学测试单元移动， 光学测试单元根据第一通 孔透射的光线测试对应的待测样品的光学性能。 本发明实施例提供的技术方案， 以解决现有光学 测试设备结构复杂、 测试效率低、 成本高且存在 安全隐患的问题。 权利要求书2页 说明书9页 附图12页 CN 114486205 A 2022.05.13 CN 114486205 A 1.一种光学测试装置， 其特 征在于， 包括： 机柜， 所述机柜包括第一腔体和第二腔体； 所述第一腔体为温度控制箱， 所述温度控制箱内设置有光学平台， 所述光学平台用于 承载至少两个待测样品， 所述温度控制箱用于在对所述待测样品进行光学测试时将所述待 测样品调整为预设温度； 所述第一腔体和所述第 二腔体之间通过隔板隔开， 所述隔板设置有与 所述待测样品对 应的第一通孔以及与所述第一通孔一一对应的开关单元， 所述开关单元用于在光学测试阶 段依次打开对应的所述第一 通孔， 在非光学测试阶段关闭对应的所述第一 通孔； 所述第二腔体内包括光学测试单元和运动机构， 所述运动机构用于带动所述光学测试 单元移动， 所述光学测试单元根据所述第一通孔透射的光线测试对应的所述待测样品的光 学性能。 2.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特 征在于， 还 包括控制单 元和处理单元； 所述温度控制箱、 所述开关单元和所述运动机构均与所述控制单元连接， 所述控制单 元用于协同控制所述温度控制箱、 所述开关单元和所述运动机构， 以使所述光学测试单元 依次采集所述待测样品的数据； 所述处理单元与所述光学测试单元连接， 所述处理单元用于根据 所述数据得出所述样 品的光学性能。 3.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述开关单元包括气缸和气缸 塞， 所述气缸用于在光学测试阶段控制所述气缸塞打开对应的所述第一通孔， 在非光学测 试阶段控制所述气缸塞关闭对应的所述第一 通孔。 4.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特 征在于， 所述待测样品包括显示 面板。 5.根据权利要求4所述的光学测试装置， 所述光学测试单元包括第 一镜头和第 二镜头， 所述第一镜头用于对所述显示面板的色亮度、 对比度和伽马值进行测试， 所述第二镜头用 于对所述显示 面板的响应时间、 灰阶响应时间和闪烁进行测试。 6.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述运动机构包括X轴滑轨、 Y轴 滑轨和Z轴滑轨， 所述X轴滑轨、 所述Y轴滑轨和所述Z轴滑轨 分别带动所述光学测试单元沿X 轴、 Y轴和Z轴移动； 其中， 所述X轴 、 所述Y轴和所述Z轴两 两相互垂直。 7.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述光学平台包括支撑结构和光 学台面， 所述支撑结构用于支撑所述光学台面， 所述光学台面用于承载至少 两个所述待测 样品。 8.根据权利要求7所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述支撑结构固定于所述第 一腔 体远离所述第二腔体一侧的内表面， 所述光学台面位于所述支撑结构 靠近所述第二腔体的 一侧。 9.根据权利要求7所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述光学台面包括多个阵列排布 的定位孔， 所述定位孔内设置有螺纹， 所述定位孔用于固定待测样品夹具以及定位所述待 测样品。 10.根据权利要求7所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述光学平台还包括设置于所 述支撑结构和所述光学台面之间的旋转机构， 所述旋转机构用于带动所述光学平台旋转，权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114486205 A 2以测试所述待测样品在不同视角下的光学性能。 11.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特征在于， 沿所述第一腔体指向所述第二 腔体的方向， 所述第一通孔在第一平面的截面积逐渐增大， 所述第一平面与所述第一腔体 指向所述第二腔体的方向垂直。 12.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述第 二腔体包括多个侧壁， 至 少一个所述侧壁包括至少一个第二 通孔。 13.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述第一通孔与对应的所述待 测样品的中心位置对齐。 14.根据权利要求1所述的光学测试装置， 其特征在于， 所述隔板设置有三个所述第一 通孔， 所述光学平台对应承载三个所述待测样品。 15.一种光学测试方法， 其特征在于， 适用于权利要求1～14任一所述的光学测试装置， 所述光学测试 方法包括： S1、 将至少两个待测样品放置 于温度控制箱内的光学平台上； S2、 所述温度控制箱调整所述待测样品至第一预设温度； S3、 运动机构带动光学测试单元与某一第一通孔对应， 与所述第一通孔对应的开关单 元打开所述第一 通孔； S4、 所述光学测试单元根据 所述第一通孔透射的光线测试对应的所述待测样品的光学 性能； S5、 循环执 行S3和S4， 完成所有所述待测样品的测试。 16.根据权利要求15所述的光学测试 方法， 其特 征在于， 在S5之后， 还 包括： 所述温度控制箱调整所述待测样品至第二预设温度， 循环执行S3和S4， 完成所有所述 待测样品在所述第二预设温度下的测试。 17.根据权利要求16所述的光学测试 方法， 其特 征在于， 还 包括： 在完成当前待测样品的测试后， 更 换待测样品， 执 行下一轮测试。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114486205 A 3