(19)国家知识产权局 (12)发明 专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202211092063.5 (22)申请日 2022.09.08 (65)同一申请的已公布的文献号 申请公布号 CN 115170442 A (43)申请公布日 2022.10.11 (73)专利权人 中国科学院空天信息创新研究院 地址 100190 北京市海淀区北四环西路19 号 (72)发明人 刘方坚　张廷涛　胡玉新　张丹丹　 王慧贤　蒋许淼　 (74)专利代理 机构 中科专利商标代理有限责任 公司 11021 专利代理师 王文思 (51)Int.Cl. G06T 5/00(2006.01)G01D 21/02(2006.01) (56)对比文件 CN 114219994 A,202 2.03.22 CN 114943142 A,202 2.08.26 US 2010008595 A1,2010.01.14 李立涛.可 见光遥感卫星传感器无场在轨相 对辐射定标 方法研究. 《中国博士学位 论文全文 数据库 基础科 学辑》 .2021,(第07期),A0 08-8. 审查员 周晓童 (54)发明名称 基于点光源的绝对辐射校正方法、 装置、 设 备和介质 (57)摘要 本发明提供了一种基于点光源的绝对辐射 校正方法、 装置、 设备和介质， 应用于遥感图像处 理技术领域， 以在微弱的可见光条件下， 对地面 目标的遥感影像进行绝对辐射校正， 实现高精度 辐射校正。 该基于点光源的绝对辐射校正方法包 括获取在静轨卫星的微光载荷观测时段内观测 环境的大气参数； 根据微光载荷的遥感影像， 计 算观测地点中多个预设点光源的辐射值； 利用大 气参数和遥感影像， 模拟在微光载荷的微光通道 上的大气透过率； 根据预设点光源的辐射值和大 气透过率， 计算微光载荷的绝对定标系数； 以及 根据绝对定标系数， 校正遥感影像， 得到绝对辐 射影像。 权利要求书2页 说明书9页 附图4页 CN 115170442 B 2022.12.02 CN 115170442 B 1.一种基于点 光源的绝对辐射校正方法， 其特 征在于， 包括： 获取在静轨卫星的微 光载荷观测时段内观测环境的大气参数； 根据所述 微光载荷的遥感影 像， 计算观测地 点中多个预设点 光源的辐射 值； 利用所述大气参数和所述遥感影像， 模拟在所述微光载荷的微光通道上的大气透过 率； 根据所述预设点光源的辐射值和所述大气透过率， 计算所述微光载荷的绝对定标系 数； 以及 根据所述 绝对定标系数， 校正所述遥感影 像， 得到绝对辐射影 像； 其中， 所述根据 所述微光载荷的遥感影像， 计算观测地点中多个预设点光源的辐射值， 包括： 在所述遥感影 像中确定像素区； 获取所述像素区内的所述预设点 光源的响应值； 将所述多个预设点光源中具有相同能量等级的点光源的响应值的平均值作为统计响 应值， 所述统计响应值包括 点光源辐射功率和点 光源辐照度值； 以及 根据所述点光源辐射功率和点光源辐照度值， 计算所述观测地点中多个预设点光源的 辐射值。 2. 根据权利要求1所述的绝对辐射校正方法， 其特征在于， 所述利用所述大气参数和 所述遥感影 像， 模拟在所述 微光载荷的微 光通道上的大气透过率， 包括： 利用所述大气参数和所述遥感影像， 基于大气辐射传输模型， 模拟大气光谱透过率； 以 及 在所述微光载荷的感应谱段范围内， 将所述大气光谱透过率与 所述微光载荷的光谱响 应函数做卷积运 算， 得到在所述 微光载荷的微 光通道上的大气透过率。 3.根据权利要求1所述的绝对辐射校正方法， 其特征在于， 所述根据所述预设点光源的 辐射值和所述大气透过率， 计算所述 微光载荷的绝对定标系数， 包括： 利用所述预设点光源的辐射值和所述大气透过率， 模拟所述微光载荷的入瞳处辐亮 度； 在所述遥感影 像中， 提取 所述多个预设点 光源的遥感图像； 从所述多个预设点光源的遥感图像中分别获取所述多个预设点光源对应的多个灰度 值； 以及 根据所述多个灰度值的均值和所述入瞳处辐亮度， 计算所述微光载荷的绝对定标系 数。 4.根据权利要求3所述的绝对辐射校正方法， 其特征在于， 所述在所述遥感影像中， 提 取所述多个预设点 光源的遥感图像， 包括： 在所述遥感影 像中选取待提取区域， 所述待提取区域包括多个 像素； 对于所述多个像素的每个像素， 获取所述像素的图像数据和所述像素的相邻像素的图 像数据； 根据所述像素的图像数据和所述相邻像素的图像数据， 计算所述像素的边缘权值； 以 及 根据所述多个像素的每个像素的边缘权值， 提取所述遥感影像中所述多个预设点光源权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115170442 B 2的遥感图像。 5. 根据权利要求1所述的绝对辐射校正方法， 其特征在于， 所述根据所述绝对定标系 数， 校正所述遥感影 像， 得到绝对辐射影 像， 包括： 将所述遥感影 像进行分块， 得到多个图像块； 以及 根据所述 绝对定标系数， 对所述多个图像块进行并行 校正， 得到绝对辐射影 像。 6.根据权利要求1所述的绝对辐射校正方法， 其特征在于， 所述大气参数包括水汽含量 数据和气溶胶光学厚度； 所述获取在静轨卫星的微光载荷观测 时段内观测环境的大气参 数， 包括： 通过外场测量仪器获取 预设时刻下观测环境的气溶胶光学厚度； 获取观测时间内多个预设时刻下观测环境的水汽 含量数据； 以及 对所述多个预设时刻下观测环境的水汽含量数据进行线性差值， 得到所述观测时段内 观测环境水汽 含量数据。 7.一种基于点 光源的绝对辐射校正装置， 其特 征在于， 包括： 获取模块， 用于获取在静轨卫星的微 光载荷观测时段内观测环境的大气参数； 第一计算模块， 用于根据所述微光载荷的遥感影像， 计算观测地点中多个预设点光源 的辐射值； 模拟模块， 用于利用所述大气参数和所述遥感影像， 模拟在所述微光载荷的微光通道 上的大气透过率； 第二计算模块， 用于根据所述预设点光源的辐射值和所述大气透过率， 计算所述微光 载荷的绝对定标系数； 以及 校正模块， 用于根据所述 绝对定标系数， 校正所述遥感影 像， 得到绝对辐射影 像； 其中， 所述第一计算模块还用于： 在所述遥感影 像中确定像素区； 获取所述像素区内的所述预设点 光源的响应值； 将所述多个预设点光源中具有相同能量等级的点光源的响应值的平均值作为统计响 应值， 所述统计响应值包括 点光源辐射功率和点 光源辐照度值； 以及 根据所述点光源辐射功率和点光源辐照度值， 计算所述观测地点中多个预设点光源的 辐射值。 8.一种电子设备， 其特 征在于， 包括： 一个或多个处 理器； 存储装置， 用于存 储一个或多个程序， 其中， 当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行时， 使得所述一个或多个 处理器执行根据权利要求1~6中任一项所述的方法。 9.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 其上存储有可执行指令， 该指令被处理器执 行时使处 理器执行根据权利要求1~6中任一项所述的方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115170442 B 3