(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210156040.X (22)申请日 2022.02.21 (71)申请人 江东电子材 料有限公司 地址 226499 江苏省南 通市如东经济开发 区嘉陵江路198号 申请人 汇弘睿光电科技 （苏州） 有限公司 (72)发明人 闫瑞刚　陈忠　顾凯越　王卫　 季鹏　 (74)专利代理 机构 北京同立钧成知识产权代理 有限公司 1 1205 专利代理师 马明明　刘芳 (51)Int.Cl. H04N 17/00(2006.01) H04N 17/06(2006.01) H04N 5/232(2006.01) (54)发明名称 基于特征光谱的铜箔瑕疵检测方法、 装置和 电子设备 (57)摘要 本申请提供一种基于特征光谱的铜箔瑕疵 检测方法、 装置和电子设备。 该方法包括： 电子设 备可以从摄像头中获取摄像头拍摄得到的每一 铜箔的采样图片。 电子设备可以将该采样图片输 入到异常点检测算法中。 电子设备可以通过该异 常点检测算法实现该铜箔的质量检测， 确定该铜 箔表面是否包括异常点， 从而确定铜箔的质量指 标和异常点信息。 电子设备可以根据铜箔的质量 指标和异常点信息， 生成控制指令， 控制指令用 于指示铜箔处理机对不同质量的铜箔进行不同 处理。 本申请的方法， 提高了该铜箔的异常检测 效率， 提高了异常铜箔的处 理效率。 权利要求书2页 说明书12页 附图5页 CN 114466183 A 2022.05.10 CN 114466183 A 1.一种基于特 征光谱的铜箔瑕疵检测方法， 其特 征在于， 所述方法， 包括： 获取铜箔的采样图片； 根据所述采样图片和异常点检测算法， 检测得到所述铜箔的质量指标和异常点信息； 根据所述铜箔的所述质量指标和所述异常点信息， 生成控制指令， 所述控制指令用于 指示铜箔处 理机对不同质量的所述铜箔进行不同处 理。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述采样图片和异常点检测算 法， 检测得到所述铜箔的质量指标和异常点信息， 包括： 使用轮廓检测算法， 从所述铜箔的所述采样图片中， 裁 剪得到所述铜箔的目标图片； 使用不同异常的异常点检测算法， 从所述铜箔的所述目标图片中检测得到所述铜箔的 异常点信息； 根据所述铜箔所述异常点信息， 确定所述铜箔的质量指标。 3.根据权利要求2所述的方法， 其特征在于， 所述使用不同异常的异常点检测算法， 从 所述铜箔的所述目标图片中检测得到所述铜箔的异常点信息， 包括： 根据HSV色彩通道和RGB色彩通道， 获取 所述目标图片的六个通道的颜色图片； 使用不同异常的异常点检测算法， 从每一所述颜色图片中检测得到所述铜箔在所述异 常点检测算法对应的异常的至少一个异常点； 合并所述目标图片的多个所述颜色图片的所述异常点， 得到所述目标图片在所述异常 的异常点信息 。 4.根据权利要求3所述的方法， 其特征在于， 所述异常点检测算法具体通过对所述颜色 图片的光照的对数作Prew itt边缘检测， 确定每一所述颜色图片的所述异常点。 5.根据权利要求2所述的方法， 其特征在于， 所述根据所述铜箔所述异常点信息， 确定 所述铜箔的质量指标， 包括： 累计所述异常点信息中各个所述异常点的面积， 得到所述铜箔的异常面积； 根据所述异常面积和所述铜箔的面积， 确定所述铜箔的异常密度； 根据所述异常密度和所述铜箔的异常点个数， 确定所述铜箔的质量指标。 6.根据权利要求1 ‑4中任一项所述的方法， 其特征在于， 所述获取铜箔的采样图片， 包 括： 根据预设采样频率， 从所述铜箔处理机上， 采样得到每一所述铜箔的至少一张铜箔图 片； 使用轮廓检测算法， 确定每一所述铜箔图片中， 所述铜箔的位置信息； 根据所述铜箔的所述位置信 息， 从所述铜箔的至少一张所述铜箔图片中选择一张图片 作为所述铜箔的采样图片。 7.一种基于特 征光谱的铜箔瑕疵检测装置， 其特 征在于， 所述装置， 包括： 获取模块， 用于获取铜箔的采样图片； 处理模块， 用于根据所述采样图片和异常点检测算法， 检测得到所述铜箔的质量指标 和异常点信息； 根据所述铜箔的所述质量指标和所述异常点信息， 生成控制指 令， 所述控制 指令用于指示铜箔处 理机对不同质量的所述铜箔进行不同处 理。 8.一种电子设备， 其特 征在于， 所述设备， 包括： 存 储器， 处理器； 所述存储器用于存储计算机程序； 所述处理器用于根据所述存储器存储的计算机程权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114466183 A 2序， 实现如权利要求1至 6中任意一项所述的基于特 征光谱的铜箔瑕疵检测方法。 9.一种检测系统， 其特征在于， 所述系统， 包括： 铜箔处理机、 用于采集所述铜箔的采样 图片的摄 像头和如权利要求8所述的电子设备； 所述铜箔处 理机用于根据控制指令将不同等级的铜箔传送到不同的打包区域。 10.一种计算机可读存储介质， 其特征在于， 所述计算机可读存储介质中存储有计算机 程序， 所述计算机程序被处理器执行时用于实现如权利要求 1至6任一项 所述的基于特征光 谱的铜箔瑕疵检测方法。 11.一种计算机程序产品， 其特征在于， 所述计算机程序产品包括计算机程序， 所述计 算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6任一项所述的基于特征光谱的铜箔瑕疵检测 方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114466183 A 3