(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210983783.4 (22)申请日 2022.08.17 (71)申请人 北矿检测技 术有限公司 地址 102600 北京市大兴区北兴 路(东段) 22号1号楼 A708、 A701室 (72)发明人 朱明伟　姜求韬　刘秋波　史博洋　 姜莉莉　刘玮　任晨阳　刘宇　 (74)专利代理 机构 北京超凡宏宇专利代理事务 所(特殊普通 合伙) 11463 专利代理师 张文娥 (51)Int.Cl. G01N 1/28(2006.01) G01N 1/40(2006.01) F26B 9/06(2006.01) B09B 3/35(2022.01)B09B 3/38(2022.01) B09B 3/40(2022.01) B09B 101/17(2022.01) (54)发明名称 一种废旧电路板制样系统及方法 (57)摘要 本申请提供了一种废旧电路板制样系统及 方法， 其中， 该系统包括： 破碎机、 粉碎机、 多个混 匀装置、 缩分装置、 烘箱和研磨机； 破碎机， 用于 对原始废旧电路板进行一级破碎， 得到第一电路 板碎片； 粉碎机， 用于对第一电路板碎片进行二 级破碎， 得到第二电路板碎片； 混匀装置， 用于对 第二电路板碎片进行混匀； 缩分装置， 用于对第 二电路板碎片进行样品缩分， 得到多个第一电路 板样品； 烘箱， 用于对第一电路板样品中的目标 电路板样品进行干燥， 得到第二电路板样品； 研 磨机， 用于对第二电路板样品进行研磨， 得到目 标电路板 试样； 目标电路板试样用于进行铜含量 检测。 通过该实施例， 有利于使得制取出的试样 中的铜含量更能准确的代表原始废旧 电路板中 的铜含量。 权利要求书3页 说明书13页 附图3页 CN 115046835 A 2022.09.13 CN 115046835 A 1.一种废旧电路板制样系统， 其特征在于， 所述废旧电路板为非集成电子器件的废旧 电路板； 所述系统包括： 破碎机、 粉碎机、 多个 混匀装置、 缩分装置、 烘箱和研磨 机； 所述混匀 装置包括第一存放箱、 圆锥引流部件以及漏斗引流部件； 所述第一存放箱底部包括用于固 定所述圆锥引流部件的支撑部件以及可拆卸的挡板部件组成； 所述挡板部件位于所述支撑 部件下面； 所述漏斗引流部件设置在所述挡板部件的下面； 所述混匀装置 之间顺序连接， 且 在相邻的两个所述混匀装置中， 下一个所述混匀装置的所述圆锥引流部件位于上一个所述 混匀装置的所述漏斗引流部件的出 料口的正投影处； 所述破碎机， 用于对原始废旧电路板进行一级破碎， 得到第 一电路板碎片； 所述第一电 路板碎片的粒度小于第一预设阈值； 所述粉碎机， 用于对所述第 一电路板碎片进行二级破碎， 得到第二电路板碎片； 所述第 二电路板碎片的粒度小于第二预设阈值； 所述第一预设阈值大于所述第二预设阈值； 所述混匀装置， 用于通过所述 圆锥引流部件对落在该圆锥引流部件上的所述第 二电路 板碎片进行堆锥混匀， 以将所述第二电路板碎片堆锥到所述挡板部件上， 以及在所述第二 电路板碎片全部堆锥到所述挡板部件上之后， 当该挡板部件被拆卸后， 所述挡板部件上 的 所述第二电路板碎片根据所述漏斗引流部件的坡度下落， 从所述漏斗引流部件的出料口滑 出； 其中， 在相邻的两个所述混匀装置中， 从上一个所述混匀装置的所述漏斗引流部件的出 料口滑出的所述第二电路板碎片， 下落到下一个所述混匀装置的所述圆锥引流部件上； 所述缩分装置， 用于对从最后 一个所述混匀装置中滑出的所述第 二电路板碎片进行样 品缩分， 得到多个第一电路板样品； 所述烘箱， 用于对所述第一电路板样品中的目标电路板样品进行干燥， 得到第二电路 板样品； 所述研磨机， 用于对所述第 二电路板样品进行研磨， 得到粉末状的目标电路板试样； 所 述目标电路板试样用于进行铜含量检测。 2.根据权利要求1所述系统， 其特征在于， 所述混匀装置还包括控制部件、 动力装置和 称重部件； 所述称重部件设置在所述挡  板部件上； 所述控制部件分别连接所述称重部件和 所述动力装置； 所述动力装置连接所述挡板 部件； 所述称重部件， 用于测量所述挡板部件上所述第二电路板碎片的当前重量， 并将所述 当前重量发送给 所述控制部件； 所述控制部件， 用于接收所述称重部件发送的所述当前重量， 并判断所述当前重量是 否等于预设重量； 以及当所述当前重量等于预设重量时， 向所述动力装置发送滑动 指令； 其 中， 所述预设重量 为所述第二电路板碎片的总重量； 所述动力装置， 用于在接收到所述滑动指令时， 带动所述挡板部件滑出， 以使所述挡板 部件上的所述第二电路板碎片根据所述漏斗引流部件的坡度下落。 3.根据权利要求1所述系统， 其特 征在于， 还 包括： 第一筛网； 所述第一筛网， 用于在所述研磨机用于对所述第二电路板样品进行研磨， 得到粉末状 的目标电路板试样之后， 对所述 目标电路板试样进行过筛， 以过滤出粒度大于所述第一筛 网的第一网眼细度的目标电路板试样， 并对粒度大于所述第一网眼细度的目标电路板试样 重新通过所述研磨机进行研磨， 直至所述目标电路板试样全部通过 所述第一筛网。 4.根据权利要求1所述系统， 其特 征在于， 还 包括： 第二筛网；权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 115046835 A 2所述第二筛网， 用于在所述粉碎机用于对所述第一电路板碎片进行二级破碎， 得到第 二电路板碎片之后， 对所述第二电路板碎片进行过筛， 以过滤出粒度大于所述第二筛网的 第二网眼细度的第二电路板碎片， 并对粒度大于所述第二网眼细度的第二电路板碎片 重新 通过所述粉碎机进 行二级破碎， 直至所述第二电路板碎片全部通过所述第二筛网； 其中， 所 述第二网眼细度等于所述第二预设阈值。 5.根据权利要求1所述系统， 其特征在于， 所述破碎机为双辊刀盘式剪切破碎机； 所述 粉碎机为锤片式粉碎机 。 6.根据权利要求1所述系统， 其特征在于， 所述缩分装置设置在最后 一个所述混匀装置 的下面； 所述缩分装置包括分隔断和 第二存放箱； 所述分隔断设置在所述第二存放箱内， 且 将所述第二存放箱分割为多个相同的存放空间。 7.根据权利要求1所述系统， 其特征在于， 还包括： 传送带； 所述传送带的一端位于所述 破碎机的出料 口的下面， 所述传送带 的另一端位于所述粉碎机的进料 口的上面； 所述第一 电路板碎片通过 所述破碎机的出 料口落入到所述传送带 上； 所述传送带， 用于在所述破碎机用于对原始废旧电路板进行一级破碎， 得到第一电路 板碎片以后， 将所述第一电路板碎片传送到所述破碎机的进料口。 8.根据权利要求1所述系统， 其特征在于， 所述支撑部件是由多个支撑杆构成的， 且所 述支撑部件中除所述支撑杆之外的其他区域均为镂空区域； 所述镂空 区域的镂空细度大于 所述第二电路板碎片的粒度。 9.根据权利要求1所述系统， 其特征在于， 所述研磨机的转速位于1300转/分钟 ‑1600 转/分钟之间； 所述研磨机的研磨时长为15 0秒‑180秒。 10.一种废旧电路板制样方法， 其特 征在于， 包括： 通过破碎机对原始废旧电路板进行一级破碎， 得到第一电路板碎片； 所述第一电路板 碎片的粒度小于第一预设阈值； 通过粉碎机对所述第一电路板碎片进行二级破碎， 得到第二电路板碎片； 所述第二电 路板碎片的粒度小于第二预设阈值； 所述第一预设阈值大于所述第二预设阈值； 通过混匀装置中的圆锥引流部件对落在该圆锥引流部件上的所述第二电路板碎片进 行堆锥混匀， 以将所述第二电路板碎片堆锥到该混匀装置中的挡板部件上； 其中， 所述混匀 装置包括第一存放箱、 所述圆锥引流部件以及漏斗引流部件； 所述第一存放箱底部包括用 于固定所述圆锥引流部件的支撑部件以及可拆卸的所述挡板部件组成； 所述挡板部件位于 所述支撑部件下面； 所述漏斗引流部件设置在所述挡板部件的下面； 所述混匀装置有多个， 所述混匀装置之间顺序连接， 且在相邻的两个所述混匀装置中， 下一个所述混匀装置的所 述圆锥引流部件位于上一个所述混匀装置的所述漏斗引流部件的出 料口的正投影处； 在所述第二电路板碎片全部堆锥到所述挡板部件上之后， 当该挡板部件被拆卸后， 所 述挡板部件上的所述第二电路板碎片根据该混匀装置中的漏斗引流部件的坡度下落， 从所 述漏斗引流部件的出料口滑出； 其中， 在相 邻的两个所述混匀装置中， 从上一个所述混匀装 置的所述漏斗引流部件的出料口滑出的所述第二电路板碎片， 下落到下一个所述混匀装置 的所述圆锥引流部件上； 通过缩分装置对从最后一个所述混匀装置中滑出的所述第二电路 板碎片进行样品缩分， 得到多个第一电路板样品； 通过烘箱对所述第一电路板样品中的目标电路板样品进行干燥， 得到第二电路板样权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 115046835 A 3