(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210956089.3 (22)申请日 2022.08.10 (71)申请人 全成信电子 （深圳） 股份有限公司 地址 518000 广东省深圳市宝安区沙 井镇 西环路西环茭塘工业区 (72)发明人 牛伟龙　伍进喜　 (74)专利代理 机构 深圳市深弘广联知识产权代 理事务所(普通 合伙) 44449 专利代理师 向用秀 (51)Int.Cl. G01N 21/25(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)发明名称 一种快速检验电路板蚀刻不良的方法及系 统 (57)摘要 本发明为一种快速检验电路板蚀刻不良的 方法及系统， 方法包括获取原始图样的色区数量 M； 在第一 色光下扫描得到第一扫描图样； 获取第 一扫描图样中的色区数量N； 比对色区数量M和色 区数量N； 当N等于M时进入色度比对， 色度比对数 据超出第一阈值时发出 警告； 当N不等于M时进入 色光更换循环， 色光数量至少为两种； 色光更换 循环为将第一色光依次更换为下一种色光， 第一 色光的下一道色光定义为第二色光； 在第二色光 下扫描得到电路板的第二扫描图样， 并获取第二 扫描图样的色区数量N1； 直到N1等于M、 或者再次 更换到第一 色光时结束循环； 结束循环时进行色 度比对； 能够通过色光更换循环 来达到消除拍摄 色差影响的因素， 达到快速比对、 精准比对的效 果。 权利要求书2页 说明书5页 附图3页 CN 115308137 A 2022.11.08 CN 115308137 A 1.一种快速检验电路板蚀刻不良的方法， 应用于蚀刻后的电路板检验， 其特征在于， 包 括以下步骤： 提供一蚀刻后的电路板， 及gerber设计原图； 根据gerber设计原图得到具有色阶数据 的原始图样， 并获取 所述原始图样的色区数量M， M大于等于2； 在第一色光下扫描得到电路板的第 一扫描图样； 获取所述第 一扫描图样中的色区数量 N， N大于等于2； 比对色区数量M和色区数量 N； 当N等于M时进入色度比对， 所述色度比对为比对所述第 一扫描图样和所述第 一扫描图 样对应的每个色区色阶数据， 得到色度比对数据， 所述色度比对数据超出第一阈值时发出 警告； 当N不等于M时进入色光更换循环， 色光数量至少为两种； 所述色光更换循环为将第一 色光依次更换为下一种色光， 所述第一色光的下一道色光定义为第二色光； 在第二色光下 扫描得到电路板的第二扫描图样， 并获取所述第二扫描图样的色区数量N1； 直到N1等于M、 或者再次更 换到所述第一色光时结束循环； 结束循环时进行色度比对。 2.根据权利要求1所述的一种快速检验电路板蚀刻不良的方法， 其特征在于， 在根据 gerber设计原图得到原始图样时， 选定第一边界节点为坐标原点建立二维坐标系， 并对原 始图样进行不同色区的分区， 同时得到对应分区的原 始坐标位置 。 3.根据权利要求2所述的一种快速检验电路板蚀刻不良的方法， 其特征在于， 在获取所 述第一扫描图样后， 选定与所述第一边界节点对应的第二边界节点为坐标原 点建立二维坐 标系， 并对所述第一扫描图样进行不同色区的分区， 同时得到对应分区的扫描图样坐标位 置； 将所述原始 坐标位置和所述扫描图样坐标位置进 行配对， 获取对应 色区组， 将对应色区 组进行色度比对。 4.根据权利要求1所述的一种快速检验电路板蚀刻不良的方法， 其特征在于， 所述色光 更换循环中的每道色光之间的波长单调递减。 5.根据权利要求1所述的一种快速检验电路板蚀刻不良的方法， 其特征在于， 在进入色 光更换循环并更换到所述第一色光时， 比对色光更换循环中每种色光对应的色区数量， 选 取色区数量 最多对应的第三扫描图样进行色度比对。 6.一种快速检验电路板蚀刻不良的系统， 应用于蚀刻后的电路板检验， 其特征在于， 采 用权利要求 1‑5任一项所述的方法： 包括有控制模块和扫描模块； 所述扫描模块包括有多种 色光模式； 提供一蚀刻后的电路板， 及gerber设计原图； 所述控制模块用于根据gerber设计原图得到具有色阶数据的原始图样， 并获取所述原 始图样的色区数量M， M大于等于2； 所述扫描模块用于在第 一色光下扫描得到电路板的第 一扫描图样； 获取所述第 一扫描 图样中的色区数量 N， N大于等于2； 比对色区数量M和色区数量 N； 当N等于M时所述控制模块的比对单元进行色度比对， 所述色度比对为比对所述第一扫 描图样和所述第一扫描图样对应的每个色区色阶数据， 得到色度比对数据， 所述色度比对 数据超出第一阈值时发出警告； 当N不等于M时进入色光更换循环， 色光数量至少为两种； 所述色光更换循环为将第一 色光依次更换为下一种色光， 所述第一色光的下一道色光定义为第二色光； 在第二色光下权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115308137 A 2扫描得到电路板的第二扫描图样， 并获取所述第二扫描图样的色区数量N1； 直到N1等于M、 或者再次更 换到所述第一色光时结束循环； 结束循环时进行色度比对。 7.根据权利要求6所述的一种快速检验电路板蚀刻不良的系统， 其特征在于， 所述控制 模块包括有坐标系单元和计算单元； 在根据gerber设计原图得到原始图样时， 所述坐标系 单元用于选定第一边界节点为坐标原点建立二维坐标系， 并对原始图样进 行不同色区的分 区， 所述计算单 元得到对应分区的原 始坐标位置 。 8.根据权利要求7所述的一种快速检验电路板蚀刻不良的系统， 其特征在于， 在获取所 述第一扫描图样后， 所述坐标系单元用于选定与所述第一边界节点对应的第二边界节点为 坐标原点建立二维坐标系， 并对所述第一扫描图样进行不同色区的分区， 同时得到对应分 区的扫描图样坐标位置； 将所述原始坐标位置和所述扫描图样坐标位置进行配对， 获取对 应色区组， 所述比对单 元将对应色区组进行色度比对。 9.根据权利要求6所述的一种快速检验电路板蚀刻不良的系统， 其特征在于， 所述色光 更换循环中的每道色光之间的波长单调递减。 10.根据权利要求6所述的一种快速检验电路板蚀刻不良的系统， 其特征在于， 在进入 色光更换循环并更换到所述第一色光时， 比对色光更换循环中每种色光对应的色区数量， 选取色区数量 最多对应的第三扫描图样进行色度比对。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115308137 A 3