(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211268545.1 (22)申请日 2022.10.17 (71)申请人 清华大学 地址 100084 北京市海淀区清华园1号 (72)发明人 马潇潇　钱耀　欧阳证　 (74)专利代理 机构 北京清亦华知识产权代理事 务所(普通 合伙) 11201 专利代理师 雷玉龙 (51)Int.Cl. G01N 27/62(2021.01) G06F 17/15(2006.01) G06F 17/16(2006.01) G06F 17/18(2006.01) G16C 20/20(2019.01) G16C 20/70(2019.01) (54)发明名称 多目标串级质谱分析方法、 装置、 电子设备 及存储介质 (57)摘要 本申请涉及一种多目标串级质谱分析方法、 装置、 电子设备及存储介质， 其中， 方法包括： 基 于离子淌度 ‑串级质谱仪， 获取样品离子经离子 淌度分离后的离子淌度—一级质谱图； 基于离子 淌度‑串级质谱仪， 获取样品离子经离子淌度分 离和宽窗口碎裂后的离子淌度—二级质谱图； 对 离子淌度—一级质 谱图和离子淌度—二级质谱 图进行谱峰检测与提取， 获取母离子和碎片离子 在质荷比和漂移时间维度的强度矩阵； 以及对母 离子和碎片离子的强度矩阵进行解卷积计算， 获 取多个母离子的二级质谱图。 由此， 解决了相关 技术无法实现单次离子采样多目标物的串联质 谱分析， 串级质谱分析的样品利用率较低， 质谱 对微量样品中分子的分析覆盖度和结构解析能 力较弱等问题。 权利要求书2页 说明书10页 附图6页 CN 115541687 A 2022.12.30 CN 115541687 A 1.一种多目标串 级质谱分析 方法， 其特 征在于， 包括以下步骤： 基于离子淌度 ‑串级质谱仪， 获取样品离子经离子淌度分离后的离子淌度—一级质谱 图； 基于所述离子淌度 ‑串级质谱仪， 获取所述样品离子经离子淌度分离和宽窗口碎裂后 的离子淌度—二级质谱图； 对所述离子淌度 —一级质谱图和所述离子淌度—二级质谱图进行谱峰检测与提取， 获 取母离子和碎片离 子在质荷比和漂移时间维度的强度矩阵； 以及 对所述母离子和碎片离子的强度矩阵进行解卷积计算， 获取多个母离子的二级质谱 图。 2.根据权利要求1所述的方法， 其特征在于， 所述对所述离子淌度 —一级质谱图和所述 离子淌度—二级质谱图进行谱峰检测与提取， 包括： 对离子淌度—一级质谱数据在时间维度和质荷比维度进行二维特征检测， 得到多个母 离子的特征； 提取所述多个母离子的特征的强度随时间变化的第 一列向量， 生成所述母离子的强度 矩阵。 3.根据权利要求2所述的方法， 其特征在于， 所述对所述离子淌度 —一级质谱图和所述 离子淌度—二级质谱图进行谱峰检测与提取， 包括： 对离子淌度—二级质谱数据在质荷比维度进行一维特征检测， 得到多个碎片离子的特 征； 提取所述多个碎片离子的特征的强度随时间变化的第 二列向量， 生成所述碎片离子的 强度矩阵。 4.根据权利要求3所述的方法， 其特征在于， 所述对所述母离子和碎片离子的强度矩阵 进行解卷积计算， 包括： 基于所述母离子的强度矩阵和所述碎片离子的强度矩阵， 求解预设优化问题， 并计算 母离子的总强度， 以计算所有母离 子特征迁移谱峰的距离和峰形的相似度。 5.一种多目标串 级质谱分析装置， 其特 征在于， 包括： 第一获取模块， 用于基于离子淌度 ‑串级质谱仪， 获取样品离子经离子淌度分离后的离 子淌度—一级质谱图； 第二获取模块， 用于基于所述离子淌度 ‑串级质谱仪， 获取所述样品离子经离子淌度分 离和宽窗口碎裂后的离 子淌度—二级质谱图； 第三获取模块， 用于对所述离子淌度 —一级质谱图和所述离子淌度—二级质谱图进行 谱峰检测与提取， 获取母离 子和碎片离 子在质荷比和漂移时间维度的强度矩阵； 以及 第四获取模块， 用于对所述母离子和碎片离子的强度矩阵进行解卷积计算， 获取多个 母离子的二级质谱图。 6.根据权利要求5所述的装置， 其特 征在于， 所述第三获取模块包括： 第一检测单元， 用于对离子淌度—一级质谱数据在时间维度和质荷比维度进行二维特 征检测， 得到多个母离 子的特征； 生成单元， 用于提取所述多个母离子的特征的强度随时间变化的第一列向量， 生成所 述母离子的强度矩阵。权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115541687 A 27.根据权利要求6所述的装置， 其特 征在于， 所述第三获取模块还 包括： 第二检测单元， 用于对离子淌度—二级质谱数据在质荷比维度进行一维特征检测， 得 到多个碎片离 子的特征； 第二生成单元， 用于提取所述多个碎片离子的特征的强度随时间变化的第二列向量， 生成所述碎片离 子的强度矩阵。 8.根据权利要求7 所述的装置， 其特 征在于， 所述第四获取模块包括： 计算单元， 用于基于所述母离子的强度矩阵和所述碎片离子的强度矩阵， 求解预设优 化问题， 并计算母离 子的总强度， 以计算所有母离 子特征迁移谱峰的距离和峰形的相似度。 9.一种电子设备， 其特征在于， 包括： 存储器、 处理器及存储在所述存储器上并可在所 述处理器上运行的计算机程序， 所述处理器执行所述程序， 以实现如权利要求 1‑4任一项所 述的多目标串 级质谱分析 方法。 10.一种计算机可读存储介质， 其上存储有计算机程序， 其特征在于， 该程序被处理器 执行， 以用于实现如权利要求1 ‑4任一项所述的多目标串 级质谱分析 方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115541687 A 3