(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210604549.6 (22)申请日 2022.05.31 (71)申请人 深圳市牧野精控机电有限公司 地址 518000 广东省深圳市宝安区松岗街 道沙浦围社区创业工业区2 2栋1002B (72)发明人 李建军　吴飞龙　胡杰　 (74)专利代理 机构 深圳市中科云策知识产权代 理有限公司 4 4862 专利代理师 章明美 (51)Int.Cl. B23C 9/00(2006.01) B23Q 11/00(2006.01) B23Q 17/24(2006.01) B08B 1/00(2006.01) (54)发明名称 一种数控铣床用接 触式工件 有线测头 (57)摘要 本发明公开了一种数控铣床用 接触式工件 有线测头， 包括非接触式探头和接触式探头， 还 包括定位基架， 所述非接触式探头和接触式探头 均通过伸缩收纳机构设置在定位基架上， 且所述 定位基架上设有与三轴运动台连接的连接法兰， 且所述伸缩收纳机构上与接触式探头以及非接 触式探头相配合的清扫机构， 且 所述清扫机构用 于对工件需要检测的表面进行清扫， 所述伸缩收 纳机构还设有与非接触式探头配合的且对工件 进行遮光的遮光机构。 本发明将非接触式探头和 接触式探头复合在定位基架上， 并通过伸缩收纳 机构进行伸缩控制， 利用非接触式探头和接触式 探头进行检测， 将接触式测量和非接触式测量结 合在一起， 从而有效提高了测量的精度以及准确 度。 权利要求书1页 说明书4页 附图4页 CN 114850553 A 2022.08.05 CN 114850553 A 1.一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于： 包括非接触式探头(1)和接触式 探头(2)， 还包括定位基架(4)， 所述非接触式探头(1)和接触式探头(2)均通过伸缩收纳机 构(3)设置在定位基架(4 )上， 且所述定位基架(4 )上设有与三轴运动台连接的连接法兰 (7)， 且所述伸缩收纳机构(3)上与接触式探头(2)以及非接触式探头(1)相配合的清扫机构 (5)， 且所述清扫机构(5)用于对工件需要检测的表 面进行清扫， 所述伸缩收纳机构(3)还设 有与非接触式探 头(1)配合的且 对工件进行遮光的遮光机构(6)。 2.根据权利要求1所述的一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于， 所述伸缩 收纳机构(3)包括设置在定位基架(4)上的水平横向设置的定位板(301)， 所述定位板(301) 上设有平行设置的转动螺杆(302)和限位光杆(303)， 且所述转动螺杆(302)上设沿转动螺 杆(302)移动的滑动块(305)， 所述限位光杆(303)上设有沿限位光杆(303)移动的限位套筒 (304)， 且所述限位套筒(304)与滑动块(305)固定， 所述滑动块(305)设有水平设置的伸缩 架(306)， 所述伸缩架(306)上的前端设有安装块(307)， 且所述非接触式探头(1)和接触式 探头(2)均设置在相应的安装块(307)上， 所述定位板(301)上设有驱动转动螺杆(302)转动 的伺服电机(3 08)。 3.根据权利要求2所述的一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于， 所述伺服 电机(308)的机轴上设有对伺服电机(308)的运动状态进行检测的编码器(309)， 所述定位 板还设有对移动块(3 03)的移动距离进行检测的位移传感器(310)。 4.根据权利要求2所述的一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于， 所述清扫 机构(5)包括设置在安装块(307)外围的定位环块(307)， 所述定位环 块(307)的外围设有沿 定位环块(307)旋转的旋转外圈(502)， 且所述旋转外圈(502)上设有用于罩住接触式探头 (2)或非接触式探头(1)的旋转套筒(503)， 且所述旋转套筒(503)的端部设有对工件表 面进 行清洁的毛刷(5 04)； 且所述 安装块(3 07)上设有驱动定位环块(3 07)转动的驱动机构。 5.根据权利要求4所述的一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于， 所述驱动 机构包括设置定位环块(307)外侧的外齿圈(505)， 所述安装块(301)上设有与外齿圈(505) 啮合传动的传动齿轮(506)， 安装块(301)上设有驱动传动齿轮(506)转动的驱动电机 (507)。 6.根据权利要求4所述的一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于， 所述定位 环块(307)上设有与旋转套筒(503)内腔连通的进气管(508)， 且所述进气管(508)的外端部 经导气管 连接供气系统。 7.根据权利要求2所述的一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于， 所述遮光 机构(6)包括设置在定位环 块(307)外围的且位于旋转套筒(503)内壁的定位筒(601)， 所述 定位筒(601)内设有沿定位筒(601)端部环形设置的环形伸缩腔(602)， 所述环形伸缩腔 (602)内设有若干个伸缩板(603)， 且若干个伸缩板(603)围合组成遮光罩(604)， 每个所述 伸缩板(6 03)的内端部与环形伸缩腔(6 02)之间设有压紧弹簧(6 05)。 8.根据权利要求7所述的一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于， 所述伸缩 板(603)与工件接触的端面上设有滚珠(607)， 且所述伸缩板(603)的端部设有磁性吸条 (606)， 且所述磁性吸条(6 06)与工件之间设有防撞间隙。 9.根据权利要求7所述的一种数控铣床用接触式工件有线测头， 其特征在于， 所述滚珠 (606)为塑料 材质。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114850553 A 2一种数控铣床用接 触式工件有线测头 技术领域 [0001]本发明涉及工件测量 技术领域， 具体为 一种数控铣床用接触式工件有 线测头。 背景技术 [0002]在进行机械加工时， 当一道工序完成后， 需要对其加工尺寸进行检测， 一些工件的 体积较大， 人工测量不方便， 需要使用检测装置进 行测量， 当下三坐标测量机不仅能在计算 机控制下完成各种复杂测量， 而且可以通过与数控机床交换信息， 实现对加工的控制， 而且 还可以根据测量数据实现反求工程， 是现代工业检测和质量控制不可缺少的通用型几何量 测量仪器。 三坐标测量机通过测头来拾取信号， 现有触发式和模拟式两种工作方式， 触发式 测头主要用于接触判断， 当测端接触到被测体时， 测头发出一个脉冲信号， 此时坐标测量机 的标尺系统记录当前坐标值。 这种工作方式在测量规则几何特征(圆弧、 直线等)时有很高 的效率， 但不适合于测量自由曲面等几何特征； 模拟式测头可以连续输出测端的位移信息， 适用于测量自由曲面等 非规则几何特征； 而现有的有线测头由于加工后产品表面残留一些 铁屑和其他杂物， 这些会直接影响测量结果； 并且不能配合 非接触的测头进行使用， 导致检 测结果存在一定的误差。 因此我们对此做出改进， 提出一种 数控铣床用接触式工件有线测 头。 发明内容 [0003]为了解决上述 技术问题， 本发明提供了如下的技 术方案： [0004]本发明一种数控铣床用接触式工件有线测头， 包括非接触式探头和接触式探头， 还包括定位基架， 所述非接触式探头和接触式探头均通过伸缩收纳机构设置在定位基架 上， 且所述定位基架上设有与三轴运动台连接的连接法兰， 且所述伸缩收纳机构上与接触 式探头以及非接触式探头相配合的清扫机构， 且所述清扫机构用于对工件需要检测的表面 进行清扫， 所述伸缩收纳机构还设有与非接触式探头配合的且对工件进行遮光的遮光机 构。 [0005]作为本发明的一种优选技术方案， 所述伸缩收纳机构包括设置在定位基架上的水 平横向设置的定位板， 所述定位板上设有平行设置的转动螺杆和限位光杆， 且所述转动螺 杆上设沿转动螺杆移动的滑动块， 所述限位光杆上设有沿限位光杆移动的限位套筒， 且所 述限位套筒与滑动块固定， 所述滑动块设有水平设置的伸缩架， 所述伸缩架上 的前端设有 安装块， 且所述非接触式探头和接触式探头均设置在相应的安装块上， 所述定位板上设有 驱动转动螺杆转动的伺服电机 。 [0006]作为本发明的一种优选技术方案， 所述伺服电机的机轴上设有对伺服电机的运动 状态进行检测的编码器， 所述定位板还设有对移动块的移动距离进行检测的位移传感器。 [0007]作为本发明的一种优选技术方案， 所述清扫机构包括设置在安装块外围的定位环 块， 所述定位环块的外 围设有沿定位环块旋转的旋转外圈， 且所述旋转外圈上设有用于罩 住接触式探头或非接触式探头的旋转套筒， 且所述旋转套筒的端部 设有对工件表面进 行清说　明　书 1/4 页 3 CN 114850553 A 3