(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211061287.X (22)申请日 2022.08.31 (71)申请人 上海电缆研究所有限公司 地址 200093 上海市杨 浦区军工路10 00号 (72)发明人 徐晓峰　黄阳　 (74)专利代理 机构 上海光华专利事务所(普通 合伙) 31219 专利代理师 李双娇 (51)Int.Cl. G01N 27/04(2006.01) G01N 3/08(2006.01) G01N 3/04(2006.01) G01N 3/02(2006.01) G01R 27/08(2006.01) (54)发明名称 半导电橡塑材料电阻率的测试装置及评价 方法 (57)摘要 本发明涉及检测设备技术领域， 尤其涉及一 种半导电橡塑材料电阻率的测试装置， 包括设于 底座上并沿X向相对间隔形成检测区域的固定夹 紧组件和移动夹紧组件， 驱动组件驱动移动夹紧 组件沿X向移动， 导体组件设于检测区域一侧， 包 括可沿X向移动地设于底座上的升降平台、 可沿Y 向移动地设于升降平台上的支撑结构及设于支 撑结构上的下、 上导体。 还涉及采用该装置的半 导电橡塑材料电阻率的评价方法， 由驱动组件驱 动移动夹紧组件移动， 对两端分别夹持于固定夹 紧组件和移动夹紧组件的半导电试片进行拉伸 后， 导体组件动作将下、 上导体移送至检测区域 并分别接触半导电试片 的下、 上表面， 通过测量 仪器测得拉伸后的半导电试片的电压和电流， 计 算体积电阻率。 权利要求书2页 说明书9页 附图7页 CN 115326884 A 2022.11.11 CN 115326884 A 1.一种半导电橡塑材 料电阻率的测试装置， 其特 征在于， 包括： 底座(1)； 固定夹紧组件(2)， 固设于所述底座(1)上， 所述 固定夹紧组件(2)用于夹持待测试的半 导电试片的一端； 移动夹紧组件(3)， 可沿X向移动地设于所述底座(1)上， 所述移动夹紧组件(3)与所述 固定夹紧组件(2)沿X向相对间隔形成检测区域(A)， 所述移动夹紧组件(3)用于夹持所述半 导电试片的另一端； 驱动组件(4)， 与所述移动 夹紧组件(3)相连接， 所述驱动组件(4)用于驱动所述移动 夹 紧组件(3)沿X向移动并使所述移动夹紧组件(3)在指定位置保持停留； 导体组件(5)， 沿Y向设于所述检测区域(A)的一侧， 所述导体组件(5)包括可沿X向移动 地设于所述底座(1)上并可沿Z向升降的升降平 台(51)、 可沿Y向移动地设于所述升降平 台 (51)上的支撑结构(52)以及设于所述支撑结构(52)上的下导体(53)和上导体(54)， 所述上 导体(54)与所述下导体(5 3)之间沿Z向间隔形成供 所述半导电试片穿过的间隙。 2.根据权利要求1所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置， 其特征在于， 所述固定夹 紧组件(2)包括由下至上依次叠置并通过第一螺杆(25)相连接的连接块(21)、 第一夹块 (22)、 第二夹块(23)和第一压块(24)， 所述连接块(21)与所述底座(1)固定连接， 所述第一 螺杆(25)的两端分别穿出所述连接块(21)和所述第一压块(24)并连接第一螺母(26)， 所述 第一夹块(2 2)和所述第二夹块(23)相对的面 为与所述半导电试片相接触的夹持面(a)。 3.根据权利要求1所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置， 其特征在于， 所述移动夹 紧组件(3)包括由下至上依次叠置并通过第二螺杆(35)相连接的移动块(31)、 第三夹块 (32)、 第四夹块(33)和第二压块(34)， 所述移动块(31)连接所述 驱动组件(4)并与所述第二 螺杆(35)的下端固定连接， 所述第二螺杆(35)的上端穿出所述第二压块(34)并连接第二螺 母(36)， 所述第三夹块(32)和所述第四夹块(33)相对的面为与所述半导电试片相接触的夹 持面(a)。 4.根据权利要求2或3所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置， 其特征在于， 所述夹 持面(a)上设有点状凸起(b1)或短条状凸起(b2)或长条状凸起(b3)。 5.根据权利要求1所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置， 其特征在于， 所述驱动组 件(4)包括固设于所述底座(1)上的固定块(41)、 沿X向设置的拉杆(42)和设于所述拉杆 (42)的一端上的手柄(43)， 所述拉杆(42)的外周面上设有外螺纹， 所述固定块(41)设有具 有内螺纹的穿孔(411)， 所述拉杆(42)穿设于所述穿孔(411)并通过所述外螺纹与所述穿孔 (411)的内螺纹配合连接， 所述拉杆(42)的另一端与所述移动夹紧组件(3)活动连接 。 6.根据权利要求5所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置， 其特征在于， 所述拉杆 (42)的外周面上套设有紧固块(44)， 所述紧固块(44)设有具有内螺纹的内孔， 所述内孔的 内螺纹与所述拉杆(42)的外 螺纹配合连接 。 7.根据权利要求5所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置， 其特征在于， 所述拉杆 (42)与所述移动夹紧组件(3)相连接的一端的外周面上沿周向开设有环形 凹槽(422)， 所述 移动夹紧组件(3)上 连接有挡板(37)， 所述挡板(37)与所述环形凹槽(42 2)卡接配合。 8.根据权利要求1所述的半导电橡塑材料电阻率的测试装置， 其特征在于， 所述支撑结 构(52)包括下支撑板(521)和上支撑板(522)， 所述下支撑板(521)可沿Y向移动地设于所述权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 115326884 A 2升降平台(51)上， 所述下支撑板(521)的上表 面上设有盲孔， 所述下导体(53)的下端置于所 述盲孔内， 所述上支撑板(522)平行间隔地设于所述下支撑板(521)的上方并与所述下支撑 板(521)相连接， 所述上支撑板(522)上设有通孔， 所述通孔与所述盲孔同轴设置， 所述上导 体(54)穿设于所述 通孔。 9.一种半导电橡塑材料电阻率的评价方法， 其特征在于， 采用 如权利1至8中任意一项 所述的半导电橡塑材 料电阻率的测试装置， 依次包括以下步骤： 步骤一、 将半导电试片的两端分别夹持固定于所述固定夹紧组件(2)和所述移动夹紧 组件(3)， 通过所述驱动组件(4)驱动所述移动夹紧组件(3)沿X向移动， 对所述半导电试片 进行拉伸试验， 所述拉伸试验在预设环境温度下进行并具有预设拉伸比例或预设拉伸时 间； 步骤二、 所述导体组件(5)动作将所述下导体(53)和所述上导体(54)移送至所述检测 区域(A)， 使所述下导体(53)和所述上导体(54)分别接触所述半导电试片的下表面和上表 面， 将测量仪器与所述下导体(53)和所述上导体(54)连接， 通过所述测量仪器测得所述半 导电试片的电压和电流； 步骤三、 计算所述半导电试片拉伸后的体积电阻率。 10.根据权利要求9所述的半导电橡塑材 料电阻率的评价方法， 其特 征在于， 还 包括： 步骤四、 设定多个依次递增的预设拉伸比例， 在同一预设环境温度下依次按照多个所 述预设拉伸比例重复进行所述步骤一至所述步骤三， 获得所述半导电试片拉伸后的体积电 阻率与预设拉伸比例的关系； 步骤五、 设定多个依次递增的预设拉伸时间， 在同一预设环境温度下依次按照多个所 述预设拉伸时间重复进行所述步骤一至所述步骤三， 获得所述半导电试片拉伸后的体积电 阻率与预设拉伸时间的关系； 步骤六、 将所述检测区域(A)容纳于烘箱中， 通过所述烘箱改变所述预设环境温度， 设 定多个依次递增的预设环境温度， 在同一预设拉伸比例下依次按照多个所述预设环境温度 重复进行所述步骤一至所述步骤三， 获得所述半导电试片拉伸后的体积电阻率与预设环境 温度的关系。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 115326884 A 3