(19)国家知识产权局
(12)发明 专利
(10)授权公告 号
(45)授权公告日
(21)申请 号 202210456515.7
(22)申请日 2022.04.28
(65)同一申请的已公布的文献号
申请公布号 CN 114564414 A
(43)申请公布日 2022.05.31
(73)专利权人 武汉慧联无限科技有限公司
地址 430223 湖北省武汉市东湖技 术开发
区软件园东路1号光谷展示中心扩建
项目D座1层1室108-1 16室
(72)发明人 邓冠兵 赵洪鹏 陈晓辉
(74)专利代理 机构 北京派特恩知识产权代理有
限公司 1 1270
专利代理师 张雪 蒋雅洁
(51)Int.Cl.
G06F 11/36(2006.01)G06F 11/10(2006.01)
G06F 9/445(2018.01)
(56)对比文件
CN 104539502 A,2015.04.2 2
CN 1019385 66 A,2011.01.05
CN 113704104 A,2021.1 1.26
CN 102231128 A,201 1.11.02
CN 114205427 A,202 2.03.18
CN 110457198 A,2019.1 1.15
CN 108628734 A,2018.10.09
LonHand郎汉 德.土壤传感器说明书.
《https://www.lonhand.com/upl oads/
20211123/
17f1745bc 594d1881d0ad308aac60bbf》 .2021,
审查员 陈玉艳
(54)发明名称
调试方法、 装置及存 储介质
(57)摘要
本申请实施例公开了一种调试方法、 装置及
存储介质。 该方法包括: 在检测到针对待调试设
备的调试指令的情况下, 获取所述待调试设备的
设备型号; 从至少一个预设寄存器中, 确定与所
述设备型号对应的目标寄存器; 从所述目标寄存
器中确定 所述待调试设备的初始参考配置参数;
根据所述初始参考配置参数, 对 所述待调试设备
进行调试; 其中, 在根据所述初始参考配置参数
从所述待调试设备的寄存器中, 获取到所述待调
试设备的寄存器数据的情况下, 确定对所述待调
试设备的调试成功。 这样, 在对待调试设备进行
调试时, 无需查看待调试设备的原厂技术文档,
通过电子设备就能够实现待调试设备的自动调
试, 不仅能够实现数据的高效管理, 还能够提高
用户操作的便利性。
权利要求书2页 说明书18页 附图5页
CN 114564414 B
2022.08.09
CN 114564414 B
1.一种调试 方法, 其特 征在于, 应用于电子设备, 包括:
在检测到针对待调试设备的调试指令的情况 下, 获取所述待调试设备的设备 型号;
从至少一个预设 寄存器中, 确定与所述设备 型号对应的目标寄存器;
从所述目标寄存器中确定所述待调试设备的初始参考配置参数; 其中, 所述初始参考
配置参数包括: 设备地址、 设备波特率、 寄存器地址、 寄存器含义;
根据所述初始参 考配置参数, 对所述待调试设备进行调试;
其中, 在根据所述初始参考配置参数从所述待调试设备的寄存器中, 获取到所述待调
试设备的寄存器数据的情况 下, 确定对所述待调试设备的调试成功;
所述寄存器数据包括: 与寄存器地址、 寄存器含义相对应的寄存器数据, 所述待调试设
备包括传感器设备。
2.根据权利要求1所述的方法, 其特 征在于, 所述方法还 包括:
根据所述初始参考配置参数, 从所述待调试设备的寄存器中读取具有第 一数据格 式的
初始寄存器数据;
将所述初始寄存器数据从所述第 一数据格式转换为第 二数据格式, 得到所述待调试设
备的寄存器数据;
按照所述第二数据格式输出 所述待调试设备的寄存器数据。
3.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述根据所述初始参考配置参数, 对所述
待调试设备进行调试, 包括:
在所述初始参考配置参数与 所述待调试设备的实际配置参数不同的情况下, 根据 所述
实际配置参数对所述初始参 考配置参数进行调整, 得到目标参 考配置参数;
根据所述目标参 考配置参数, 对所述待调试设备进行调试。
4.根据权利要求3所述的方法, 其特征在于, 所述在所述初始参考配置参数与 所述待调
试设备的实际配置参数不同的情况下, 根据所述 实际配置参数对所述初始 参考配置参数进
行调整, 得到目标参 考配置参数, 包括:
在所述初始参考配置参数与 所述待调试设备的实际配置参数不同的情况下, 将所述实
际配置参数, 确定为所述目标参 考配置参数。
5.根据权利要求3所述的方法, 其特 征在于, 所述方法还 包括:
在所述初始参考配置参数与 所述待调试设备的实际配置参数不同的情况下, 通过所述
电子设备的输入接口检测调整指令;
在检测到所述调整指令的情况 下, 从所述调整指令中解析参数调整值;
根据所述参数调整值对所述初始参考配置参数进行调整, 得到所述目标参考配置参
数。
6.根据权利要求1所述的方法, 其特 征在于, 所述方法还 包括:
在所述待调试设备与 所述电子设备基于所述初始参考配置参数通信的过程中, 获取所
述待调试设备与所述电子设备之间的通信数据;
根据所述 通信数据, 生成调试日志, 并输出 所述调试日志。
7.根据权利要求6所述的方法, 其特 征在于, 所述方法还 包括:
在检测到用于进行数据读写的预设操作指令的情况下, 获取所述初始参考配置参数中
的地址码和所述预设操作指令对应的功能码;权 利 要 求 书 1/2 页
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CN 114564414 B
2对所述地址码、 所述功能码以及与所述待调试设备的寄存器数据相关的数据帧进行
CRC校验, 生成CRC校验码;
根据所述地址码、 所述功能码、 所述与所述待调试设备的寄存器数据相关的数据帧以
及所述CRC校验码, 生成所述 通信数据。
8.根据权利要求1至7任一项所述的方法, 其特 征在于, 所述待调试设备, 包括:
传感器设备。
9.一种调试装置, 其特 征在于, 应用于电子设备, 包括:
第一获取模块, 配置为在检测到针对待调试设备的调试指令的情况下, 获取所述待调
试设备的设备 型号;
第一确定模块, 配置为从至少一个预设寄存器中, 确定与所述设备型号对应的目标寄
存器;
第二确定模块, 配置为从所述目标寄存器中确定所述待调试设备的初始参考配置参
数; 其中, 所述初始参 考配置参数包括: 设备地址、 设备波特率、 寄存器地址、 寄存器含义;
调试模块, 配置为 根据所述初始参 考配置参数, 对所述待调试设备进行调试;
其中, 在根据所述初始参考配置参数从所述待调试设备的寄存器中, 获取到所述待调
试设备的寄存器数据的情况 下, 确定对所述待调试设备的调试成功;
所述寄存器数据包括: 与寄存器地址、 寄存器含义相对应的寄存器数据, 所述待调试设
备包括传感器设备。
10.一种调试装置, 其特 征在于, 包括:
处理器;
配置为存 储处理器可执行指令的存 储器;
其中, 所述处 理器配置为: 执 行时实现上述权利要求1至8中任一项调试 方法中的步骤。
11.一种非临时性计算机可读存储介质, 其特征在于, 当所述存储介质中的指令由调试
装置的处理器执行时, 使得所述装置能够执行上述权利要求 1至8中任一项调试方法中的步
骤。权 利 要 求 书 2/2 页
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专利 调试方法、装置及存储介质
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