书 书 书犐犆犛 ３１ ． ２６０ 犔 ５３ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G27 /G28 /G29 /G2A 犌犅 ／ 犜 ３９７７１ ． ２ — ２０２１ /G21 /G22 /G23 /G24 /G25 /G26 /G27 /G28 /G25 /G29 /G2A /G2B /G2C /G2D ２ /G2E /G2F ： /G30 /G31 /G32 /G33 犗狆狋犻犮犪犾狉犪犱犻犪狋犻狅狀狊犪犳犲狋狔狅犳犔犈犇狊 — 犘犪狉狋 ２ ： 犕犲犪狊狌狉犲犿犲狀狋犿犲狋犺狅犱狊 ２０２１  ０３  ０９ /G24 /G34 ２０２１  １０  ０１ /G35 /G36 /G27 /G28 /G2B /G2C /G2D /G2E /G2F /G30 /G31 /G32 /G27 /G28 /G29 /G2A /G33 /G2F /G30 /G34 /G35 /G36 /G24 /G34 书 书 书目 　　 次 前言 Ⅲ ………………………………………………………………………………………………………… １ 　 范围 １ ……………………………………………………………………………………………………… ２ 　 规范性引用文件 １ ………………………………………………………………………………………… ３ 　 术语和定义 １ ……………………………………………………………………………………………… ４ 　 一般要求 １ ………………………………………………………………………………………………… 　 ４．１ 　 环境条件 １ …………………………………………………………………………………………… 　 ４．２ 　 供电电源 ２ …………………………………………………………………………………………… 　 ４．３ 　 预热时间 ２ …………………………………………………………………………………………… 　 ４．４ 　 测试场所 ２ …………………………………………………………………………………………… 　 ４．５ 　 测试设备 ２ …………………………………………………………………………………………… 　 ４．６ 　 安全警告 ２ …………………………………………………………………………………………… ５ 　 测试要求 ２ ………………………………………………………………………………………………… 　 ５．１ 　 作用光谱函数 ２ ……………………………………………………………………………………… 　 ５．２ 　 测试视场 ３ …………………………………………………………………………………………… 　 ５．３ 　 入射 （ 接收 ） 孔径 ３ …………………………………………………………………………………… 　 ５．４ 　 测试距离 ４ …………………………………………………………………………………………… 　 ５．５ 　 最大辐射 ４ …………………………………………………………………………………………… ６ 　 测试方法 ４ ………………………………………………………………………………………………… 　 ６．１ 　 辐照度 ４ ……………………………………………………………………………………………… 　 ６．２ 　 辐亮度 ６ ……………………………………………………………………………………………… 　 ６．３ 　 安全距离 ７ …………………………………………………………………………………………… 　 ６．４ 　 测试报告 ７ …………………………………………………………………………………………… 附录 Ａ （ 规范性附录 ） 　 测试设备 ８ ………………………………………………………………………… Ⅰ 犌犅 ／ 犜 ３９７７１ ． ２ — ２０２１ 前 　　 言 　　 ＧＢ ／ Ｔ３９７７１ 《 半导体发光二极管光辐射安全 》 分为两个部分 ： ——— 第 １ 部分 ： 要求与等级分类方法 ； ——— 第 ２ 部分 ： 测试方法 。 本部分为 ＧＢ ／ Ｔ３９７７１ 的第 ２ 部分 。 本部分按照 ＧＢ ／ Ｔ１．１ — ２００９ 给出的规则起草 。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利 。 本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任 。 本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出并归口 。 本部分起草单位 ： 杭州浙大三色仪器有限公司 、 杭州产品质量监督检测研究院 、 中国电子技术标准化研究院 、 浙江三色光电技术有限公司 、 广州赛西标准检测研究院有限公司 、 国家灯具质量监督检验中心 （ 中山 ）。 本部分主要起草人 ： 乔波 、 王建平 、 钱枫 、 赵英 、 刘秀娟 、 周钢 、 彭振坚 、 牟同升 、 许子愉 、 李俊凯 。 Ⅲ 犌犅 ／ 犜 ３９７７１ ． ２ — ２０２１ 半导体发光二极管光辐射安全第 ２ 部分 ： 测试方法 １ 　 范围 ＧＢ ／ Ｔ３９７７１ 的本部分规定了半导体发光二极管 （ 以下简称 ＬＥＤ ） 的光辐射安全的一般要求 、 测试要求 、 测试方法 。 本部分适用于光辐射波长为近紫外和可见光区域 （ ３００ｎｍ ～ ７８０ｎｍ ） 的单芯片或多芯片 ＬＥＤ 。 ２ 　 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的 。 凡是注日期的引用文件 ， 仅注日期的版本适用于本文件 。 凡是不注日期的引用文件 ， 其最新版本 （ 包括所有的修改单 ） 适用于本文件 。 ＧＢ ／ Ｔ２０１４５ — ２００６ 　 灯和灯系统的光生物安全性 ＧＢ ／ Ｔ３０１１７．２ — ２０１３ 　 灯和灯系统的光生物安全 　 第 ２ 部分 ： 非激光光辐射安全相关的制造要求指南 ＧＢ ／ Ｔ３９７７１．１ — ２０２１ 　 半导体发光二极管光辐射安全 　 第 １ 部分 ： 要求与等级分类方法 ＳＪ ／ Ｔ１１３９４ — ２００９ 　 半导体发光二极管测试方法 ＳＪ ／ Ｔ１１３９５ — ２００９ 　 半导体照明术语 ３ 　 术语和定义 ＧＢ ／ Ｔ２０１４５ — ２００６ 、 ＧＢ ／ Ｔ３０１１７．２ — ２０１３ 、 ＧＢ ／ Ｔ３９７７１．１ — ２０２１ 、 ＳＪ ／ Ｔ１１３９４ — ２００９ 和 ＳＪ ／ Ｔ１１３９５ — ２００９ 界定的以及下列术语和定义适用于本文件 。 ３ ． １ 入射孔径 　 犻狀狆狌狋犪狆犲狉狋狌狉犲 用于接收 ＬＥＤ 光辐射的接收器有效入射口径大小 。 注 ： 又称接收孔径 ， 单位为毫米 （ ｍｍ ）。 ３ ． ２ 　 测试距离 　 犿犲犪狊狌狉犲犿犲狀狋犱犻狊狋犪狀犮犲 ＬＥＤ 表观光源到测试设备入射孔径的距离 。 注 ： 单位为毫米 （ ｍｍ ）。 ４ 　 一般要求 ４ ． １ 　 环境条件 ＬＥＤ 的测试条件应当在产品相关文件规定的条件下进行 。 如果无规定条件 ， 那么测试条件应遵循如下要求 ： ａ ） 　 温度 ： ２５℃±３℃ ； ｂ ） 　 相对湿度 ： 不超过 ６５％ 。 １ 犌犅 ／ 犜 ３９７７１ ． ２ — ２０２１