ICS31.080 L53 中华人民共和国国家标准 GB/T32872—2016 空间科学照明用LED筛选规范 ScreeningspecificationsforilluminationLEDsinspacesciences 2016-08-29发布 2016-11-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布 目 次 前言 Ⅰ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 总则 1 ……………………………………………………………………………………………………… 4 筛选项目和程序 1 ………………………………………………………………………………………… 5 筛选方法 2 ………………………………………………………………………………………………… 5.1 外观检查 2 …………………………………………………………………………………………… 5.2 参数测量 2 …………………………………………………………………………………………… 5.3 恒定加速度 2 ………………………………………………………………………………………… 5.4 粒子碰撞噪声检测 2 ………………………………………………………………………………… 5.5 密封性检查 3 ………………………………………………………………………………………… 5.6 高温存储 3 …………………………………………………………………………………………… 5.7 温度冲击 3 …………………………………………………………………………………………… 5.8 低温启动 3 …………………………………………………………………………………………… 5.9 温度循环 4 …………………………………………………………………………………………… 5.10 老炼 4 ………………………………………………………………………………………………… 5.11 参数终测 4 …………………………………………………………………………………………… 6 参数测量和合格判定 4 …………………………………………………………………………………… 6.1 测量条件 4 …………………………………………………………………………………………… 6.2 测试参数 5 …………………………………………………………………………………………… 6.3 测试方法 5 …………………………………………………………………………………………… 6.4 合格判定 6 …………………………………………………………………………………………… 附录A(资料性附录) 空间科学照明用LED筛选统计表 7 ………………………………………………GB/T32872—2016 前 言 本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。 本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC312)归口。 本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所。 本标准主要起草人:张涛、章美敏、刘石神、顾建忠、袁士东、王晨飞。 ⅠGB/T32872—2016 空间科学照明用LED筛选规范 1 范围 本标准规定了空间科学照明用LED(LightEmittingDiode)筛选项目和程序、筛选方法、参数测量 和合格判定。 本标准适用于空间科学照明用额定功率1W和1W以上封装的单芯LED的筛选,其他功率级别 的LED也可参照执行。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T24824—2009 普通照明用LED模块测试方法 GJB128A—1997 半导体分立器件试验方法 GJB4027 军用电子元器件破坏性物理分析方法 3 总则 3.1 被筛选器件应按产品规范或技术协议的要求进行参数初测,合格的器件可参加筛选。筛选按规定 的项目和程序进行,完成每个项目之后,剔除不合格产品。 3.2 被筛选器件应逐个编号,并在每次测试时记录测试数据。筛选结束后,应编写筛选统计表,格式参 见附录A,器件的参数测试数据可作为筛选报告的附件。 3.3 测试如有异常,应记录异常的发生时间和器件编号。 3.4 当筛选剔除率超过20%时,应判批次不合格。当出现功能失效时,应按照GJB4027进行失效分 析,如属于材料或工艺因素的非偶然性失效也应判批次性不合格。 4 筛选项目和程序 筛选按表1规定的项目和程序进行,完成每个项目之后,剔除不合格产品。 表1 筛选项目和程序 序号 筛选项目 筛选方法 1 外观检查 见5.1 2 参数测量 见5.2 3 恒定加速度 见5.3 4 粒子碰撞噪声检测(PIND) 见5.4 5 密封性检查 见5.5 1GB/T32872—2016