GB-T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

ICS 71.040.40 G04 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T30701—2014/ISO17331:2004 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法（TXRF）测定 Surface chemical analysis-Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy (ISO17331:2004,IDT) 2014-06-09发布 2014-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布中国国家标准化管理委员会 GB/T30701—2014/IS017331:2004 目次前言引言 IV 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义缩略语 5 试剂 6 仪器设备 7 试样制备及其测量环境校准试样的制备 9 绘制校准曲线 10 工作标准样品上铁和/或镍的收集 11 工作标准样品上所收集铁和/或镍的测定 12 精密度 13测试报告附录A（资料性附录）国际实验室间试验项目结果附录B（资料性附录）国际实验室间试验项目的GF-AAS和ICP-MS测量结果 14

GB-T 30701-2014 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

文档预览

中文文档 21 页 50 下载 1000 浏览 0 评论 309 收藏 3.0分

赞助1.5元下载(无需注册)

温馨提示：本文档共21页，可预览 3 页，如浏览全部内容或当前文档出现乱码,可开通会员下载原始文档

GB-T 30701-2014 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定第 1 页

GB-T 30701-2014 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定第 2 页

GB-T 30701-2014 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定第 3 页

下载文档到电脑，方便使用

赞助1.5元下载

本文档由人生无常于 2024-03-30 13:56:43上传分享

GB-T 30701-2014 表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定

GB-T 30701-2014 表面化学分析硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定